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介绍了常用的腔型和平面型两种热电型光辐射探测器时间响应特性的测量方法和测量结果.测量结果表明不论是腔型还是平面型光辐射探测器,其时间响应特性都不是理论预言的简单指数衰减函数,而是包含两个指数衰减函数的组合函数;探测器达到平衡的时间是入射光功率的函数,两种探测器的平衡时间都可能很长.所以,如何选取测量读数前等待平衡时间对测量结果有重要影响.对该项因素的影响进行了分析,并提出了解决办法. 相似文献
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基于低温辐射计建立了一系列激光波长上光探测器响应度测量基准。进行了基准装置性能的研究,应用光辐射有效加热功率检验方法进行了不确定度评估。在氦氖、氩氪离子以及钛蓝宝石激光器的10个波长上测量了作为标准探测器的陷阱探测器的响应度。在氦氖、氩氪离子激光波长测量结果的不确定度达到0.8×10-4,在钛蓝宝石激光器达到1.1×10-4。对标准探测器的面响应均匀性、非线性、偏振响应、角度响应等特性对响应度测量结果的影响进行了研究。 相似文献
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本文讲述了一种由光学系统、扫描平台、微机为核心组成的光探测器响应度均匀性的自动测量装置。光学系统产生φ0.2mm光斑;在微机控制下,平台可作X,Y方向的25mm平移及绕中心旋转,最小平移进退间距0.01mm,最小旋转角间隔1/24度。测量系统稳定性达0.05%,扫描系统的重复性在0.05%以内,被测探测器定位及光入射角调整误差0.23%,装置的总不确定度0.26%。 相似文献
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本文介绍了自动检测系统的工作原理,系统中的两维扫描平台,电流一电压转换器,获得国家专利的专用检测仪器等设备;针对两种不同的检测目的,分别介绍了检测方法和电子计算机程序流程。 相似文献
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使用响应度分布不均匀的探测器来测量光分布不均匀LED的平均发光强度时,其测量结果可能会引入显著的测量误差。设计实验装置对3种不同类型的探测器的响应度分布进行测量,结果表明带光漫射器的光度探测器响应度均匀性很差,这样的光度探测器用于测量一种白光LED平均发光强度时,响应度不均匀引起的测量误差可达2.0%。类似于光谱失配修正方法,给出了对探测器响应度不均匀性评价的方法以及响应度不均匀性评价因子c的表达式,并建议在进行LED平均发光强度测量时,应避免使用带光漫射器的光度探测器。 相似文献
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提出了一种太赫兹阵列探测器响应度校准溯源方法。首先,使用阵列探测器的每一像元对太赫兹辐照场中心进行逐一扫描,识别有效像元、死像元和过热像元,并对有效像元响应值进行归一化处理,获得阵列探测器的相对辐照度响应值。其次,使用中心像元对太赫兹辐照场进行扫描测量,扫描总面积大于太赫兹光斑尺寸,保证太赫兹功率被完整测量,获得中心像元与其他有效像元的太赫兹功率响应值。最后,用标准太赫兹功率计标定高莱功率计,扩展太赫兹功率校准量限,实现微瓦级太赫兹辐射功率测量溯源,用高莱功率计测得的太赫兹辐射源总功率对阵列探测器测得的积分响应值进行校准,得到阵列探测器辐照度响应绝对值。对探测器进行测量校准和不确定度分析,测得辐照度响应度的相对扩展不确定度为Urel=20%(k=2),测量结果可溯源至国家太赫兹辐射功率标准。 相似文献
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光电探测器相对光谱响应度标准 总被引:3,自引:0,他引:3
本文介绍光电探测器相对光谱响应度标准的实验装置、方法及测量结果。该装置以补偿型真空热电堆为参考基准,采用双光路替代法,全部测量过程自动化。总的不确定度为±(1.5~4.0)%。 相似文献
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指出影响陷阱式探测器测量不确定度的各种环境因素及其本身的特性,并介绍了测量这些特性的方法,对于高精度的光辐射功率测量研究有重要意义 相似文献
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研究了以金属有机物化学气相沉积方法生长在6H-SiC衬底上的GaN光导型紫外探测器的光电流性质。通过光电流谱的测量,获得了GaN探测器在波长250nm-360nm范围近于平坦的光电流响应,并且观察到在365nm( ̄3.4eV)带边附近陡峭的截止边。测得GaN探测器在5V偏压下在360nm波长处的光电流响应度为133A/W,并得到了其响应度与外加偏压的关系。通过拟合光电信号强度与入射光调制频率的实验 相似文献
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采用新的方法对波长范围1-3μm的红外探测器绝对光谱响应率进行定标.红外探测器的光谱响应率定标是在两套定标系统上利用两种参考探测器实现的.首先在红外光谱比较系统上利用一个平响应的腔式热电堆探测器作为参考探测器,测量待测红外探测器相对于标准探测器的连续光谱响应率;然后在可见一近红外定标系统上,利用低温辐射计和激光器在几个单立波长上进行绝对光谱响应率测量.这样,通过计算就能得出待测红外探测器在每个波长上的绝对光谱响应率.采用上述方法对TS-76探测器进行光谱响应率定标,联合不确定度小于0.95%. 相似文献