数字集成电路测试系统逻辑测试单元分析

本文简要分析了数字集成电路测试系统中的逻辑测试单元。     

数字集成电路测试系统结构分析

本文介绍大规模数字集成电路自动化测试系统的基本构成。     

数字集成电路测试探讨

结合具体例子,介绍数字集成电路的测试方法。     

大规模集成电路测试系统

集成电路和电路板测试系统是测试仪器的最高水平,硬件和软件均属前沿产品,测试仪器供应商的数目超过千家,但全面集成电路和电路板供应商不到十家,仅从数量来看也是百里挑一的了。著名的厂家有Teradyne(泰瑞达)、Schlumberger(斯伦贝谢)、Advantest(爱德万)、Agilent(安捷伦)、GenRad等。产品的价位很高,一般十万美元以上,相应的开发生产费用也就更为可     

STS2106A数字集成电路测试系统的开发及应用

本文以一款CMOS专用数字集成电路为例，介绍STS2106A数字集成电路测试系统开发过程以及使用中的重点注意事项。     

超高速数字集成电路的计算机辅助测试技术

介绍了超高速数字集成电路的计算机辅助测试技术（ＣＡＴ）,利用ＩＥＥＥ－４８８接口与多功能专用扩展板,采用ＥＳＢＡＳＩＣ测试语言编程,实现超高速数字集成电路物自动测试,提高了测试工作效率和测试精度。     

CMOS数字集成电路输入电流的测试

CMOS数字电路的输入电流是反映该器件工艺水平的主要参数之一，通过叙述并分析了影响其测试准确性的原因，应用ATS60e数字集成电路测试系统，可满足对其输入电流的测试要求。     

微波单片集成电路测试技术研究

单片机集成环境主要应用于无线通信、雷达、电子测量等行业,近年来随着设备的发展,对机器的需求增加,对可靠性的要求也提高了.单片有源微波项目在国内尚处于起步阶段,没有相关的方法[1].为了防止这种情况,该文通过测量有源损耗、1 dB压缩点、单组件侧分贝和放大器以及射频开关等关键参数来探索有源单片集成设备和微波测试技术.     

Circuit Testing Through Integrated Digital Access

As digital transmission expands within telecommunication networks, maintenance tools for those networks evolve as well. For testing digitized services (including voice, voiceband data, and digital data-like services), digital test equipment most efficiently analyzes circuit failures. One such device, the AT&T Remote Measurement System-Digital (RMS-D), utilizes digital access and measurement techniques to test both switched and nonswitched services. The capabilities of the RMS-D, and the testing needs of the special services digital network it fulfills, are described here. Examples of how the RMS-D effectively utilizes the digital transmission network for access are discussed for different circuit densities.     

基于边界扫描技术的集成电路测试系统设计与实现

介绍了边界扫描的技术原理,及其在集成电路测试中的具体应用,并给出了一种基于边界扫描技术的板级集成电路测试系统的方案及实现。     

基于Verigy93000的高速数字集成电路测试

主要介绍了当前高速数字信号测试中的一些处理方法.依据这些处理方法.阐述了如何在Verigy93000机台上进行高速数字集成电路器件的测试.     

大容量存储器集成电路的测试

介绍了有关大容量存储器集成电路测试系统的软件原理和硬件构成,对大容量存储器集成电路的测试方法作了初步探讨,希望对实现实验室精确测试和生产中大批量芯片中测和成品测试有所帮助。     

极大规模集成电路测试技术发展

集成电路作为新一代信息战略产业的基础,工艺、封装、应用的发展对测试提出了诸多挑战,同时测试作为集成电路产业链的一环,与设计、制造、封装等环节紧密相联。阐述了集成电路设计中高速、高集成度及测试成本对测试的挑战以及相应的测试解决方案,同时对测试与设计、封装、应用等产业链环节联接的典型技术如测试仿真到测试向量转换、inkless map、测试自动化数据等进行了描述。     

基于数字测试系统的LCD控制驱动电路测试方法

随着液晶显示器在日常生活中得到越来越广泛的应用,其核心部件——LCD控制驱动电路的品种及需求量也日益增多。通常情况下,对LCD控制驱动电路的测试是在LCD电路专用测试系统上完成的,但因其价格昂贵,使得测试成本也相应地大幅抬高,成为制约LCD控制驱动电路批量生产的瓶颈。文章针对上述原因,提出了一种基于数字测试系统的LCD控制驱动电路的测试方法,以便低成本、高品质地实现LCD控制驱动电路的测试。同时针对LCD控制驱动电路的特点,结合实践经验介绍了一些LCD控制驱动电路的测试技巧。     

一种数字IC测试系统的设计

给出一种数字集成电路(IC)测试系统的软硬件设计方案.该系统基于自定义总线结构,可测试宽范围电平.     

数字电路系统设计中的抗干扰技术

本文首先介绍了干扰在数字电路系统中的危害,其次分析了形成干扰的原因,最后提出了相应的抗干扰技术,并且分别给出了硬件抗干扰技术和软件抗干扰技术的设计方案。     

通用数字电路板测试系统硬件设计

针对传统依靠人工使用示波器、万用表、逻辑分析仪等设备对数字电路板进行测试具有过程复杂、工作量大、可靠性低等缺点,介绍一套通用数字电路板测试系统的硬件设计方案。跟传统数字电路板测试系统相比,文中的设计性能参数更优,主要包括:测试频率最高50 MHz并可调为100 MHz的整数分频;测试电平兼容-6~+9 V且可编程步长为100 mV;测试通道32路,每通道可设为输入输出三态可选且同步工作,存储深度1 Mbit,电流驱动能力达50 mA并有过载保护。