基于FPGA的数字IC交流参数测试系统研究

大规模集成电路的应用促进了国民经济的发展,同时带动了各类集成电路自动测试系统的发展,特别是高速器件的测试要求交流参数测试稳定性好,分辨率高。基于这一要求,介绍了数字集成电路交流参数测试系统的基本构成,并且介绍了数字集成电路交流参数测试的基本内容和测量方法,讨论了内插技术在时间测量上的应用和FPGA中专用时间进位链构建延迟线的基本方法,研究了该技术在数字集成电路交流参数测试仪上的应用,最后应用软件QuartusⅡ9.0验证了延迟线实现方法,并且给出了仿真波形和测试结果。     

数字集成电路测试系统结构分析

本文介绍大规模数字集成电路自动化测试系统的基本构成。     

一种集成电路离线／在线测试系统平台的设计与实现

该文介绍一个芯片级数字集成电路测试系统，主要介绍该系统的测试原理，基本构成和硬件平台的设计方法。     

基于Ultra-FLEX测试系统的集成电路测试开发

在半导体技术高速发展的今天,对集成电路的测试要求越来越高,测试开发的难度、复杂度都在增加,如何应对当前集成电路的测试需求,成为测试开发者需要考虑的问题。Ultra-FLEX测试系统是新一代的测试系统,用以应对当今的测试需求。文章介绍了Ultra-FLEX测试系统的硬件资源,列举了部分模块及其功能和参数;描述了一般集成电路测试开发的流程,并以数字集成电路为例介绍了相关测试内容;介绍了Ultra-FLEX测试系统的软件环境,列举了测试程序构成要素以及各自功能;介绍了Ultra-FLEX测试系统的程序调试环境,测试系统提供的调试工具以及调试方法。     

一种基于PCI总线的数字图形发生器设计

数字功能卡(PE)是集成电路测试设备的核心部件,也是SOC测试系统的必需部件,它可以完成数字IC的逻辑功能测试。成功开发好PE板是研发数字集成电路测试系统的必经过程,也是开发SOC集成电路测试系统的必经过程。介绍了一种基于PCI总线的数字图形发生器的设计方法。建立基于PCI总线、以DDR3作为存储器、以FPGA作为专用定制逻辑处理器这一架构的数字图形发生器电路系统模型,以产生任意测试矢量图形,满足高中低端数字类芯片的测试需求。重点介绍了采录模块\发送模块、缓存模块、逻辑控制模块、PCI接口模块的设计方法。     

数字IC测试系统的发展趋势

随着数字集成电路性能的不断提高,数字集成电路测试系统也相应得到了迅速发展。主要表现在以下几方面: 测试通道数增加数字电路集成度的不断提高和专用集成电路的出现,器件的引脚数不断增加,使得数字测试系统的测试通道数相应不断增加。由测试中、小规模集成电路的24通道测试系统,测试大规模集成电路的48通道、64通道测试系统发展到测试超大规模集成电路的128通道、256通道甚至更多通道数的测试系统。如日本Advantest公司的VL-     

一种集成电路测试用程控信号源的设计

针对目前集成电路测试系统中交流参数的测试现状,提出一种基于PCI总线和直接数字频率合成技术（Direct Digital Synthesize,DDS）的程控信号源设计方案;文章先介绍了整个信号源系统的构成与工作原理,随后详细论述DDS信号发生模块、幅度调节模块等模块的硬件设计;目前该信号源已通过相关部门验收并交付使用,该信号源可满足各种测试环境要求,同时其技术指标也达到了预期设计的精度要求。     

仪器与测验

数模混合电路测试系统研制成功由中国科学院半导体研究所承担的国家“八五”攻关项目“数模混合测试系统”日前通过电子部验收。该系统由高速(多值)数模集成电路测试系统与高精(连续)数模集成电路测试子系统构成。解决了高速数字、高精数字、高速同步模拟管脚     

一种集成电路测试用程控信号源的设计

针对目前集成电路测试系统中交流参数的测试现状,提出一种基于PCI总线和直接数字频率合成技术（Direct Digital Synthesize, DDS）的程控信号源设计方案;文章先介绍了整个信号源系统的构成与工作原理,随后详细论述DDS信号发生模块、幅度调节模块等模块的硬件设计;目前该信号源已通过相关部门验收并交付使用,该信号源可满足各种测试环境要求,同时其技术指标也达到了预期设计的精度要求。     

集成电路多值逻辑测试仪

Simi100数字集成电路多值逻辑测试仪是在总结国内外同类产品优点的基础上,本着实用、方便、准确的宗旨向国内外市场推出的新品,是完全智能化的产品。它采用独特的测试技术,融数字集成电路的功能测试和参数测试为一体,无需其它辅助设备即可对数字集成电路进行测试,且易于掌握,为使用者提供了一种极为有效的测试手段。另外可人工干预设置测试参数,并可对未列入手册的数字集成电路编程进行二次开发,从而充分解决了用户对数字集成电路只进行抽测或简单的功能测试已不能保证器件质量、满足使用需求这一实际问题。 Simi100的性价比远远高于其它国内外厂家生产的市场上常见的数字集成电路功能测试仪及一般编程器测试仪。除可测试数字集成电路的功能和各项直流参数外,还能对“OC”、“三态”、“模拟开关”等数字集成电路进行有效测试。目前Simi100测试品种达到几千种,并可根据用户要求进行扩充,经过Simi100测试的器件组装而成的整机,其抗干扰能力大大提高,并且温度适应范围宽,可克服一般常见的软故障(如开机后数小时死机等)。