如何提高射频连接器耐射频高电位电压能力

主要介绍了射频连接器射频高电位电压击穿原理,提出了提高连接器耐射频高电位电压能力的措施。     

论射频连接器耐射频高电位电压测试

射频连接器"抗电强度"指标很重要。它是射频连接器在工作中防止强电干扰能力的指标。抗电强度好,则连接器才能在整机里安全、可靠的工作。该指标是用耐射频高电位电压测试项目来检测的。而在美军标中对耐射频高电位电压测试项目作了明确的规定。我国上世纪八十年代,以美军标MIL-C-39012B为依据,采用"等同采用"的方针编译、建立了国标GB12272-90和国军标GJB681。经多年来该项目的测试实践以及开发耐射频高电位电压测试仪的实践,发现我国现行标准"详细规范"(同美军标活页规范)规定的"试验电压"太低,必须提高。同时,也必须改进"耐射频高电位电压测试仪"的性能指标。使该仪器能在更高电压下工作,即必须提高"耐射频高电位电压测试仪"的输出电压。我通过技术创新,大幅度的提高了耐射频高电位电压测试仪的输出电压,开发出了SNY-2耐射频高电位电压测试仪。文中介绍了"SNY-2耐射频高电位电压测试仪"的技术指标。这个新型仪器使该项目能在更高的电压下进行试验成为现实。文中还介绍了用该仪器进行测试时,对各种不同规格的射频连接器寻找新的"试验电压"的方法及如何修改提高现行"详细规范"试验电压的途径。该项目在更高的"试验电压"下进行试验,获得通过的受试连接器抗电强度的性能将大幅度的得到提高,有着重要的军事意义。由于耐射频高电位电压测试仪的输出电压大幅度提高,在更高电压下进行试验,故该项目成为我国具有自主知识产权的特有项目。     

电连接器传输性能与耐射频性能测试方法探讨

目前,电连接器广泛应用于军工及航天领域,担负着整机产品的电性能传输和信号控制,其质量好坏直接关系到整个系统工程的成败。射频连接器的耐射频性能如射频高电位耐压在很大程度上影响整机的性能,为保证军工及航天连接器的高质量和高可靠性,需要进行一系列的传输与耐射频性能试验。传输性能测试是很前沿的试验项目,目前还没有出台统一的国家标准,本文从电连接器基本概念、传输性能的技术要求、射频连接器的耐射频性能几个方面,实践总结和分析电连接器传输性能指标的各种试验方法,并以此作为进一步提升试验能力、改善并提高产品质量和性能的依据,为我国的航天军工事业,提供强有力的技术保障。     

浅谈宇航级电连接器射频性能测试技术

宇航级电连接器及其电缆组件是航天系统重要的配套接口元件,相当于航天系统的血液循环和神经系统;散布在各个系统和部位的电连接器及电缆组件,负责整机信号和能量的传输;其射频性能的好坏,直接关系到整个系统的安全可靠运行;射频性能如电缆射频功率测试能是比较前沿的测试技术,目前具备此项测试能力的国内厂家寥寥无几;电连接器的选材及工艺设计水平,决定其射频性能指标的好坏。本文以宇航级电连接器及电缆组件为例,介绍其选材及最常见的射频性能测试项目:电晕电平、连接器电缆组件射频功率及射频高电位耐压;完成这些测试项目的测试,需要使用专业测试系统与测试软件。     

谈射频连接器“耐射频高电位电压”试验及前瞻性

开发耐射频高电位电压测试仪的过程,实际上就是进行耐射频高电位电压试验的过程。从对"模拟连接器"加高压试验发现,MIL标准要求的可靠度并不是一个很高的要求,所以必须将仪器的输出电压定得高一点。我现在开发的"SNY-2"耐射频高电位电压测试仪输出的电压有效值高达2000V以上,超越了美军标的技术规定。由于这一项目已申报了专利和发明专利,这样,这一项目技术成果成为我国具有独立自主知识产权的特有项目,具有非常重要的军事意义。建议企业以创新的科学思维,以使用该先进仪器为契机,超越MIL规范的规定,创新制造出我国自己的高可靠性能、高抗电强度的连接器产品。     

射频同轴连接器耐射频高电位电压测试

从上世纪八十年代开始,我国等同采用美军标编制了国军标和国家标准。在这些标准中,关于射频同轴连接器的"耐射频高电位电压"的测量作了明确的规定。但虽经多家单位对这一测量技术进行了技术研究,对于这一项目的测量方法和手段始终没有得到有效的解决。西安精为电子技术有限公司"SNY-2耐射频高电位电压测试仪"研制成功,将终结这一测量项目无仪器可用的尴尬历史,并对这项测量时被测连接器流过的电流进行讨论。     

论射频同轴连接器“耐射频高电位电压测试”的重要性

射频连接器是用量很大的军工工业基础元件,从全世界范围看连接器该项目的测试,只有美国和我国开展了这一项目的测试。上世纪70年代,美国射频连接器行业就编制了多项"美国军用规范",但未制作测试仪器。按规范的要求用电子器件连接进行测试。我国从上世纪80年代这一项目开始起步,编制国家标准,国家军用标准,对该项目进行了基础科研,开发了仪器。但由于种种原因,这几十年来开展的比较差。近几年,我公司应多家单位的要求,开发出了"SNY-2"耐射频高电位电压测试仪,我公司的仪器比美国试验波形信号好,是正弦信号,而在美军标中仅仅只要求"允许近似正弦信号"。试验信号波形好是我公司仪器的突出优势。     

常用射频连接器连接力矩的探讨

本文首先分析了连接力矩对射频连接器使用的影响,介绍了常用射频连接器的连接力矩,并对N型及TNC型连接器的连接力矩差异进行说明。对射频连接器的生产和使用具有实际的指导作用。     

大功率射频同轴连接器的开发

大功率射频同轴连接器是发射系统中重要的组成部分。文章介绍了大功率射频连接器设计时需要考虑的主要因素,功率仿真分析以及元器件大功率射频测试系统的构建。     

关于射频连接器型号命名方法的探讨

首先从技术的角度上介绍射频连接器的型号中的主称代号，通过对主称代号的介绍，阐述了世界上主要的几种射频连接器的功能和用途。接下来讲述同类产品中不同结构的射频连接器的如何命名和系列代号如何生成。最后介绍连接器、转接器及阻抗转换器命名的不同。     

射频同轴连接器插入损耗的测量

插入损耗是射频同轴连接器一项重要的电性能参数,但插入损耗的测量在国内是一个空白。本文阐述了测试射频同轴连接器插入损耗参数的意义,插入损耗定义及介绍了一个具体的测试系统。     

一种板到板射频连接器的设计

小型化通信设备中的板到板射频通道一般采用连接器直接连接方式。为满足多通道射频连接器的顺利插合、分离并保证良好的传输性能,需要在满足轴向、径向不对准情况下顺利连接且具有良好电性能的板到板射频连接器,本文将介绍一种板到板射频连接器的设计。     

一种多芯射频圆形连接器的研制

介绍了一种多芯射频圆形连接器的研制过程。该产品是将五只射频同轴连接器采用卡环固定在圆形连接器的安装板中,构成一种五芯射频圆形连接器。该产品采用错位补偿和减小插合端面间隙等措施保证电压驻波比;采用定位及改进密封等保证插合的同轴度。     

射频同轴连接器电压驻波比测量（一）

本文阐述了微波器件的电压驻波比和反射系数,测量射频同轴连接器电压驻波比的意义。介绍了测量射频同轴连接器电压驻波比的测量方法。     

耐射频高电位电压测试仪的高频高压测量

本文介绍了测量高频高压的间接测量方法,介绍了用示波器高压探头直接测试高频高压时遇到"高压探头"的输入电容大、高频响应差,为此,创新研制了"耐射频高电位电压测试仪专用探头"(下称"专用探头"),克服了高频效应差的缺点,对"耐射频高电位电压测试仪"成功的进行了测试。同时对影响"专用探头"的衰减系数进行了分析。     

一种TNC型射频连接器电缆组件的研制

介绍了TNC-KY1-150型射频连接器电缆组件的研制过程,本产品在传统射频连接器的基础上对其不改变结构和性能,对射频连接器电缆组件外壳的一部分材料采用聚乙烯绝缘取代了传统的有色金属材料,从而大大降低了成本,同时也降低了工艺的难度,机械强度和绝缘性均有所提高.本产品的研制降低了TNC型射频连接器电缆组件的生产工艺和成本,极具推广价值,使在以后的设计中提供了更广的设计思路.     

射频连接器电缆夹紧机构的探讨

论述了射频连接器三种常见电缆的夹紧结构。从电性能、机械性能及使用性能等方面分析了它们的各自特点，指出了它们的不同的使用环境．从而给射频连接器的设计者提供了某种指导，并介绍了一种新的电缆夹紧机构。     

射频同轴连接器技术发展的研究

本文主要从产品应用角度对射频同轴连接器的微小型化产品、多射频通道连接器产品及防电磁泄漏产品的发展趋势进行分析;再从专利的角度对表贴连接器技术、低互调连接器技术进行了数据采集,通过数据对比,对表贴连接器技术、低互调连接器技术的发展趋势进行了分析。最后本文通过射频同轴连接器研发过程中所面临的问题,对连接器功率容量及可靠性等行业亟需开展的技术研究进行了简单论述。     

一种低碳钢外壳射频密封连接器的研制

本文介绍了一款外壳为低碳钢材料的玻璃烧结射频密封连接器的研制过程。在保证连接器密封和电气性能等要求的基础上,巧妙运用烧结原理,将低成本材料成功地运用到产品中。通过理论设计分析完善了产品结构,经样品试验验证该产品结构性能优良、可靠性高,电气性能满足设计要求,验证了低碳钢用于玻璃烧结密封连接器外壳材料的可行性。     

射频同轴连接器射频泄漏测量中使用的专用装置

自上世纪八十年代起,我国射频连接器行业等同采用美军标和国际电工委员会IEC的多项标准,编制了国标、国军标。在这些标准中,对射频同轴连接器的"射频泄漏"测量作了明确的规定。关于射频连接器的"射频泄漏"的测量,国内多家单位对这一技术进行了研究,但关于射频连接器的"射频泄漏"的测量的方法、手段一直没有得到有效的解决。我公司按照国际标准的规定,以微波技术传输线理论为基础,开发了系列三同轴测试装置和波导组件装置,填补了该测试领域的空白,将原来的1-3GHz测试频率提高到500MHz-18GHz。