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介绍一种新的汽车方向盘耐弯曲疲劳试验方法。对当前的方向盘耐弯曲疲劳试验方法进行了分析,提出该试验方法的不足。以方向盘在实际使用中的工况为依据,提出新的方向盘耐弯曲疲劳试验方法。该试验方法能更加真实地模拟方向盘在使用过程中的工况,使试验数据更加准确。 相似文献
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以燃料油、原油和渣油为原料,研究电炉法和微量法残炭测定数据的相关性。对石油产品进行四组分的分离,研究残炭在石油产品组分中的分布。研究结果表明,微量法测定残炭比电炉法测定残炭自动化程度高,便于操作,费时少,批次处理量大,应用范围较广;原油和燃料油的电炉法和微量法残炭数据相关性较好。 相似文献
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研究了机床齿轮齿面粗糙度,渐开线仪器测量法的适用性及轮廓仪测量法的可行性,还提出了齿面粗糙度检测的有关问题。 相似文献
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分析了并行测试技术的实现方式,采用硬件实现方式对现有的鱼雷自动测试系统进行并行测试化改造,提出了改造设计原则,建立了鱼雷并行测试系统软、硬件体系结构。改造后的并行测试系统大大缩短了鱼雷测试时间,提高了测试效率。 相似文献
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阐述了随机载荷谱的工程处理方法,研制了大直径滚筒式(4 m)汽车驱动桥疲劳性能强化试验系统,分别介绍了试验系统架构,以及其中的道路模拟、机械、液压加载、数据采集与控制、计算机监测与分析等子系统的功能,给出了试验系统进行疲劳强化试验的流程,以及基于VB 6.0的软件实现.对5 t ZL50DWB驱动桥等多个产品进行了较为大量的试验,表明这种基于随机载荷谱的驱动桥强化试验系统具有科学的实验方法和高试验可靠性. 相似文献
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根据高水基流体介质内部结构特点及超声波的衰减机理 ,采用超声波衰减法对高水基流体介质的浓度检测进行了研究。设计了超声波传感器及信号转换与处理电路 ,并设计了相应的检测软件 ,在此基础上进行了浓度检测实验。实验结果表明用超声波法在线检测高水基流体介质的浓度具有较好的可行性 相似文献
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汽车双联传动轴动平衡测试模型研究 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了汽车双联传动轴动平衡测试的力学模型,推导出基于影响系数法的汽车双联传动轴动平衡测试传递函数矩阵,建立了基于本方法的智能动平衡测试系统,界面友好,方法简便,简化了汽车双联传动轴动平衡测试,具有工程应用价值. 相似文献
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根据现行润滑理论的分析计算和轴承实验方法,分析了误差产生的原因。主要分析论证了理论假设误差、条件简化误差、实验误差和公式拟合误差,其误差导致了理论计算与实际测试产生较大的误差。着重分析研究误差产生的根源和误差形成的基础,为设计计算提供有效减小误差的方法。 相似文献
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Wafer probing technique is important for testing integrated circuit devices. For the safety of measured chips, the probe card must be examined to verify the performance before online testing as it must avoid the defect of the pad edge excursion and the excessive scrub length. In addition, during wafer testing the oxidized layer of pad has to be pierced to gain the stable testing by the needle, which should have sufficient force. Therefore, a well-designed probing system is significantly important for wafer testing. In this paper, the simple and accurate theoretical method is established, which benefits to design an appropriate probing system rapidly. Moreover, the finite element method is also developed for analyzing the contact behavior between the needle and the aluminum pad during wafer testing. The results, which are determined by using the theoretical analysis, the finite element method and the experiment, are consistent. Finally, the parameters of a well-designed probing system for testing smaller chips are investigated. 相似文献