高效率集成电路测试芯片设计方法

对生成测试芯片效率进行研究,提出了一种采用版图编辑器作图和批量参数化建模设计方法。缩短了设计周期,降低了设计难度。依据该方法,开发了一套针对工艺开发包的测试芯片,实验结果验证了其高效性。     

实例研究-模糊芯片F200的设计、验证和测试

本文介绍模糊推理协处理器VLSI芯片F200的设计,给出了详细的芯片设计流程,并重点讨论了有关芯片的可测试性设计、设计验证和测试等问题。     

自动化测试脚本自动生成技术的研究

软件自动化测试技术的出现，大大减轻了软件测试人员的测试压力，显著提高了测试工作的效率，但是自动化测试脚本的编写和维护工作也是测试自动化所面临的一项挑战。针对自动化测试脚本的编写和维护工作中遇到的困难，提出了一种基于RFT的测试脚本自动产生的方法，从而有效地提高了测试工作的效率，降低编写和维护测试脚本的开销。     

自动化测试脚本自动生成技术的研究

软件自动化测试技术的出现,大大减轻了软件测试人员的测试压力,显著提高了测试工作的效率,但是自动化测试脚本的编写和维护工作也是测试自动化所面临的一项挑战。针对自动化测试脚本的编写和维护工作中遇到的困难,提出了一种基于RFT的测试脚本自动产生的方法,从而有效地提高了测试工作的效率,降低编写和维护测试脚本的开销。     

适用于高级数字网络测试的边界扫描芯片特性研究

为解决高级数字网络交流耦合/差分的故障检测问题,对高级数字网络测试边界扫描标准(IEEE1149.6)进行了研究;针对符合IEEE1149.6标准的典型元件,基于测试结构和测试指令两个方面,简要阐述了高级数字网络的边界扫描测试原理;并对典型元件进行了特性参数分析与测试结构仿真;仿真结果表明:1149.6结构芯片可以实现对交流耦合差分通道中测试信号的边沿检测;最后通过实际的电路测试实验,给出了电路测试设计方法,为熟知边界扫描技术的设计者提供了有价值的参考.     

标准件库自动生成系统的开发

本文叙述了标准件库自动生成系统开发的理论与方法。提出和采用了程序与数据分离的思想、数据驱动的思想、参数化设计的方法，建立了一个标准件库自动生成系统，并在此系统上开发了两个标准件库，Futaba注塑模标准模架库和国标紧固件库。     

一种微处理器芯片的验证测试分析及应用

验证测试技术是验证芯片设计正确与否的重要环节，不仅向设计者及时反馈了有效的信息以尽早发现错误、改进设计，并能为降低测试成本和生产测试提供有效保障。基于实际工程，该文提出了一个较有效的验证分析流程方案，采用多测试项目融合曲测试法对一款微处理器芯片进行了验证分析，并对相关测试项目进行了定量、定性的评估。     

基于Junit自动生成类测试案例框架的实现

论文对Java程序的抽象类、包含内隐类的接口、其它内隐类和普通类的测试提出了不同的测试案例模式,结合Liskov替代原则对类测试的要求,实现一个基于Junit生成包含测试神谕的测试案例框架的工具。借助该工具,程序员在编写测试案例时,只需在自动生成的测试案例框架中添加测试数据就可获得完整的测试案例。     

航空设备的测试性设计和验证技术概述

介绍了航空设备的测试性、测试性设计、测试性验证评估等,分析提出了国内航空设备测试性设计与验证技术现状以及存在问题的技术原因.     

VLSI芯片的可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计

CMOS器件进入深亚微米阶段，VLSI集成电路（IC）继续向高集成度，高速度，低功耗发展，使得IC在制造、设计、封装，测试上都面临新的挑战，测试已从IC设计流程的后端移至前端，VLSI芯片可测试性设计已成为IC设计中必不可少的一部分，本文介绍近几年来VLSI芯片可测试性设计的趋势，提出广义可测试性设计（TDMS技术）概念，即可测试试性，可调试性，可制造性和可维护性设计，并对可调试性设计方法学和广义可测试性设计的系统化方法作了简单介绍。     

产品开发过程中的数据流建模与分析

通过分析产品开发过程管理中各种数据的特征,指出数据流建模和分析在面向产品开发过程的工作流管理系统中格外重要.基于提出的工作流模型,开发了一种面向版本控制的数据流模型,它支持包含任意环的过程结构.引入变量影响列表描述这种数据流模型并给出该模型正确性分析的方法.能够适应面向产品开发过程的工作流管理系统中数据管理的需求.     

基于测试过程流程图编排的接口自动化测试

目前,业界功能接口自动化测试基本依赖于脚本的开发能力,具有学习曲线高、掌握门槛高、投入成本大、响应需求慢、受众范围小的痛点。通过分析这些痛点,本文提出了一种基于测试过程流程图编排的接口自动化测试新模式,该模式具有简单高效的特点,并基于该模式开发了相应的应用,实现了覆盖实时交易接口、清结算接口、数据库测试三个方面的功能接口自动化测试实践应用,从应用实践、应用效果等多个方面探索和验证了该模式的可行性及优势。     

一种基于过程图模型的编译优化测试程序自动生成方法

近年来,以数据依赖分析为基础的高级编译优化成为现代编译器的重要研发内容.针对这类编译优化的测试问题提出了一种测试程序自动生成方法,能够根据指定的数据依赖特征生成测试程序.首先设计了LoSpec语言用以描述测试程序,然后采用一种便于表示数据依赖关系的模型——过程图作为中间表示模型实现了测试程序的自动生成,并开发了自动测试工具LoTester.与已有方法相比,该方法对高级优化更具针对性,自动化程度较高. LoTester目前在一款面向多媒体应用的优化编译器EECC的开发中得到应用并获得了良好效果.     

基于数据流的测试用例自动生成研究

目前的数据流测试技术存在缺乏具体的数据驱动方法,测试用例的生成过程没有与测试需求结合起来等问题。基于此,文中提出一种自动生成测试用例的模型（TRGA）,利用控制流图（CFG）计算生成测试用例所需的变量的定义使用对,使用数据类型结构图（DTG）来作为创建测试对象的数据驱动,利用遗传算法的搜索能力来生成数据,并提出了一种新的适应度计算方法。实验结果表明,该模型能够在减少搜索时间,降低生成测试用例规模的同时达到较高的测试覆盖率。     

一种路径测试数据自动生成方法

适应值函数的设计是决定测试数据生成质量和效率的关键,为此提出一种重叠路径结构,对程序路径进行描述,并设计基于遗传算法全路径比较的路径测试数据生成适应值函数。为测试数据生成算法定义生成时间期望的综合性能评价指标,以该指标与对照组算法进行比较实验。结果显示,该适应值函数能较好地平衡算法收敛性和消耗时间之间的矛盾。     

芯片开发功能验证的形式化方法

在芯片设计领域,采用模型驱动的FPGA设计方法是目前较为安全可靠的一种方法.但是,基于模型驱动的FPGA设计需要证明FPGA设计模型和生成Verilog/VHDL代码的一致性;同时,芯片设计的正确性、可靠性和安全性也至关重要.目前,多采用仿真方法对模型和代码的一致性进行验证,很难保证设计的可靠性和安全性,并存在验证效率...     

一种结构测试数据自动生成的框架

针对结构测试中控制流和数据流覆盖测试数据的生成都可以归结为面向路径的测试数据生成的问题,提出了一个通用的基于控制流和数据流的结构测试数据自动生成的框架。该框架根据控制流和数据流测试中所采用的覆盖标准优化选取测试路径,并以改进后的迭代松弛法为核心,对所选取的路径生成测试数据。以基于路径覆盖、分支覆盖和数据流覆盖测试数据自动生成这3种算法为核心,开发了一个测试数据自动生成的框架原型。实验结果表明该框架是可行的。