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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 593 毫秒
1.
兆瓦级全功率风电并网变流器功率组件设计   总被引:1,自引:0,他引:1  
在考虑交流电流纹波的基础上,提出了一种估算精度高的功率损耗简单分析方法;直流电容温升与电容电流纹波密切相关,考虑功率组件间杂散参数对电容纹波电流分布的影响,提出了一种分析电容纹波电流的简单方法。最后,设计了包含功率器件、散热器、直流电容、电流传感器等器件的1 MW标准功率组件,并对所设计的功率组件进行了全面的测试。测试结果验证了所提出功率损耗估算方法和直流电容纹波分析方法的有效性,可满足兆瓦级全功率风电变流器的设计要求。  相似文献   

2.
热斑故障是光伏组件各类故障中最常见的一种。热斑电池发热越大,热斑故障越严重,对光伏系统的危害越大。针对常见晶硅光伏组件结构,剖析了光伏组件因热斑故障所引起的发热机理,结合单二极管等效电路模型提出一种简化的热斑电池片功率损耗计算方法;分析了光伏组件的不同工作状态,并结合组件的I-V曲线给出了各种工作状态下简化功率损耗算法中的关键参数确定方法。通过对光伏组件热斑电池片实验测试温度和热仿真温度对比,验证了所提简化功率损耗计算方法的准确性。  相似文献   

3.
本文介绍一种无线通信射频/微波组件的通用测试台。文中对几个测试实例的具体测试仪器配置进行了描述,其中包括S参数、放大器压缩点、混频器端口匹配、隔离和转换损耗以及TOI的测量。  相似文献   

4.
磁元件中磁芯损耗和绕组损耗作为一个元器件中的两部分损耗两者本身难以分离开,目前还没有一种有效的既能测量给定励磁工况下磁元件绕组损耗,又能直接测量功率变换器中磁元件绕组损耗的测量评估方法。提出了一种可直接测量磁元件绕组损耗的方法,在磁元件中引入一个辅助绕组,通过分析被测绕组端口和辅助绕组端口之间电参数的关系,得到只体现被测绕组损耗的电参数,以获得被测绕组的损耗。最后,以空心电感作为测试对象,采用高精度的功率测量仪器对绕组损耗进行测量,通过阻抗测量法结合计算空心电感绕组损耗的方法进行验证,验证了所提方法的可行性和准确度。  相似文献   

5.
<正> 在海底光缆的传输特性中,光纤的损耗特性和色散特性是影响中继区间长度的重要参数。海底光缆与以前的同轴海底电缆相比,传输损耗小,故可大幅度增长中继区间长度。进行系统设计势必要对中继区间内的损耗(即海底光缆的损耗)特性作高精度测量。由光源的调制频谱宽及海底光缆之色散特性所产生的模式噪声,在高度传输时影响特别大,且要影响中继区间长度,因此,对色散特性也必须像损耗特性一样作高精度测量。以往,色散特性是用脉冲延迟法(光源为固体激光器)进行测量的。该方法的测量装  相似文献   

6.
本文设计了一种基于PXI平台的控制组件综合参数测试设备,通过多种通信总线组合实现了控制组件产品功率触点控制和多参数测试。测试设备功能丰富、兼容性好、智能操作、便于扩展并支持二次开发,经测试验证,该控制组件综合测试设备能完成多种型号控制组件产品的功能和性能测试,提高了测试准确性和测试效率,满足设计要求。  相似文献   

7.
申咏梅  王占友  吴翠姑  张翠改 《电器评介》2013,(10):157-157,159
针对目前对N型单晶组件电参数测试存在一定偏差,本文简要叙述影响组件参数测试的因素,详细对比了世界三大权威机构的测试数据以及测试方法,从而得到了目前最适合于N型单晶组件的测试结构与方法,最后采用统计学分析的原理,总结一套适合光伏组件电参数扩展的计算分析方法,同时能够较为准确的分析出光伏组件未来的功功率走势,有一定的指导意义。  相似文献   

8.
针对目前太赫兹混频器测试方法功能单一、测试效率低等缺点,文章在基于矢网的微波混频器扫频测试方法的基础上,提出了适用于太赫兹混频器的扫频测试方法。该方法将矢网的测试频率由微波波段提高到110GHz以上的太赫兹波段,实现了太赫兹混频器的快速测试。为了证明新方法的可靠性,分别用 “信号源+频谱仪”测试方法和本文提出的测试方法对150GHz-170GHz四次谐波混频器进行实验验证。本文提出的扫频测试方法,不仅实现了太赫兹混频器的变频损耗、回波损耗等参数的快速测试,而且与“信号源+频谱仪”测试方法所测得得变频损耗结果互相吻合,对矢量网络分析仪在太赫兹频段的测试应用具有重要意义。  相似文献   

9.
损耗、色散、非线性等是限制光信号长距离传输的主要问题,光纤拉曼放大器正是补偿损耗实现光长距离传输的有效方法。文章阐述了光纤拉曼放大器的原理及特点,提出了解决光纤长距离传输相应的技术对策。采用光纤拉曼放大器对传输光纤在损耗、色散、非线性及偏振模等方面进行优化,可以满足长距离、大容量传输系统的要求。分析了实际运用中的参数算法和相关指标要求,介绍了测试方法和结果,实现了光信号超长距离的传输。同时节约了工程建设投资,降低了通信运行维护费用,为光通信系统建设提供了参考。  相似文献   

10.
组件生产出来,不管是生产厂家或者使用单位,都要经过严格的测试筛选,剔除不合格产品,并按组件质量的优劣进行分类,以满足不同使用条件的要求,从而避免组装出来的电子设备,不会因组件的静态、动态参数不合格,而影响其工作的稳定性和可靠性。为此,相继出现了多种类型的组件参数测试仪。例如指针式测试仪、半自动及自动分选仪、以及采用计算机或微处理器配以数据采集装置的全自动组件参数测试仪等等。指针式测试仪,结构简单、使用维修方便,但测试速度太低,况且连续测试,表头指针摆动很大,肉眼观测容易造成读数差错;虽然用计算机控制测试组件,提高了自动化水平,解决了测试速度问题,但若在一般中、小规模组件测试中使用,又感到设  相似文献   

11.
黄兴泉  郭琳 《电测与仪表》1992,29(8):8-11,27
线路损耗是供、输电中一个重要的技术指标。本文介绍用硬件电路测线路的运行电流,向仪器输入各种已知的固定参数,由微机控制测试及计算得到有关线损的各种参数,如电网导线等值电阻,变压器线圈等值电阻,电网损耗及各线损率,A相C相经济负荷电流、负荷曲线形状系数等等,为提高线损管理水平和经济效益提供可靠的数据。文章介绍了此线损仪的原理、功能、特点及各参数的计算公式。  相似文献   

12.
测试常用的单运放、双运放和四运放●测试运放参数时,可任选一种“自动”或“手动”方式●当被测器件短路时,能自动保护内电路,并有过载显示  相似文献   

13.
智能型氧化锌电阻片交流参数测试系统的研究   总被引:1,自引:1,他引:1  
研制了基于计算机控制、数据采集、信号处理的Zn O电阻片交流参数智能化测试系统。它能自动测算 Zn O电阻片的工频参考电压、阻性电流、全电流、功率损耗、静电电容等相关参数。试验验证该系统的测量相对误差 <1%。  相似文献   

14.
《中国照明》2013,(12):57-58
11月13日-15日,亿光参加了2013(第82届)上海电子展会,并展出全系列LED应用组件(展位:2A025),共有照明、显示屏、背光、车用、手机、家电应用及红外线组件系列,包括新型COB全系列、超小型ITR光遮断器、距离感测组件及广告牌组件等。亿光期望以宽广产品线及多样化创新产品,一次性满足客户所有需求。  相似文献   

15.
分析声波在绝缘材料内传播过程中发生的色散和衰减现象对PEA测试结果的影响,建立相应的数学模型,编制相关软件计算损耗介质中的衰减系数,并对已畸变的输出信号进行恢复,重建空间电荷分布的波形。  相似文献   

16.
光纤色散特性会引起传输信号的畸变,限制通信容量.对光纤色散参数,光信号在长距离传输后脉冲展宽程度进行准确测量,可以为工程人员在设计高速光通信系统设计时提供可靠设计数据来源,在实际的工程应用中有着重要意义.本文理论上分析了光脉冲在光纤中传播的展宽现象,重点介绍了光纤色散分析仪的设计方案,最后,自行研制了一套用于色散测量的脉冲展宽设备,对标准多模光纤进行了脉冲展宽的测试,测量结果和出厂测试结果相吻合.  相似文献   

17.
介绍了一种应用于毫米波晶圆级集成基于Si BCB工艺的Ka波段双模带通滤波器。微带线结构的全波长谐振器具有低辐射特性,全波长环形阶跃阻抗谐振器(step impedance resonator, SIR)有两种正交谐振模式,可以减小滤波器尺寸。通过对基于环形谐振器的双模滤波器进行奇偶模分析,确定谐振器的设计参数。采用宽边耦合结构设计输入输出端口,具有高耦合度。仿真结果表明中心频率35 GHz,通带内插损1.2 dB,回波损耗优于30 dB,BW3 dB为15%。最后,采用Si BCB工艺制作滤波器并完成测试。测试结果为中心频率33.3 GHz,通带内插损1.17 dB,回波损耗优于30 dB,BW3 dB为18%。测试结果与仿真结果基本吻合。  相似文献   

18.
碳化硅MOSFET的变温度参数建模   总被引:5,自引:0,他引:5  
为在全温度范围内准确反映碳化硅(silicon carbide,SiC)MOSFET的工作特性,提出一种基于Pspice仿真软件的SiC MOSFET变温度参数模型。该模型中引入温控电压源和温控电流源以补偿SiC MOSFET静态特性随温度的变化,同时着重考虑了SiC MOSFET的低温特性和驱动电路负压的影响。详细阐述建模原理,分析各个关键参数对SiCMOSFET静态特性及动态特性的影响,给出建模原理。搭建基于Buck变换器的SiC MOSFET测试实验样机,在不同电压点、电流点及温度点(25-125℃)下进行实验测试,并将测试结果与基于变温度参数Pspice模型的仿真波形和损耗估算结果进行比较。比较结果高度吻合,功率损耗误差在10%以内,验证了提出的变温度参数模型的准确性和有效性,为实际应用中采用SiC MOSFET器件进行系统分析和效率评估提供了重要的依据。  相似文献   

19.
介绍了一种单模超低损耗G.652光纤,其与普通G.652D光纤的实验对比表明,该光纤在损耗、受激布里渊散射阈值、偏振模色散等方面具有较大优势,而其他指标则处于相当水平.分析表明,在一定条件下该光纤也具有相对的经济性优势.在“十二五”智能电网大发展时期,这种光纤无疑将成为延长配套光纤通信传输距离的另一有效解决方案.  相似文献   

20.
模拟器辐照不均匀度对组件性能测试的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
总结了脉冲太阳模拟器辐照不均匀度对太阳电池组件电性能测试的影响.通过测试脉冲太阳模拟器有效辐照面内的辐照不均匀度分布情况.然后选取辐照不均匀度最好与最差位置对不同规格组件测试其电性能,进行结果比较、分析、探讨辐照不均匀度变化对各个电性能参数测量误差产生的影响,摸索出减小辐照不均匀度对组件电性能测试误差的有效可行的测试方法.  相似文献   

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