以低廉的测试成本和灵活的测试结构测试混合信号器件

对日益复杂的消费产品不断增长的需求，引发了应用于消费类电子、汽车、工业和通讯领城的混合信号集成电路的需求急剧上升。时至今日，半导体制造商们把高速的数字逻辑电路和先进的模拟电路集成在一起制造出功能越来越强大的混合信号IC。器件的复杂度在不断上升，但是其售价不可能随之飙升，半导体公司都发现他们面临看这样一个难题，即如何在降低测试成本的同时保证复杂的IC产品的质量。半导体公司发现他们需要改进测试构架、更先进的测试仪器、增强的测试开发环境以取得更高的测试产量并保证在测试上的投资有高的回报。为了应付这些挑战，顶光的测试系统结合了高性能的架构和先进的测试仪器以取得高端测试仪的产量，而所花的成本只是传统ATE系统的一小部分。在ATE上开发应用程序时，新一代的混合信号测试仅不仅能降低测试成本而且可以灵活地适应将来不同应用场合下的需要，这将有力地保护你在测试设备、硬件资源、数字混合器件上的工程投资。本文将要讨论混合信号器件测试的主要趋势，及其对测试成本的影响，和一些新的测试结构，这些新的结构在满足当前测试需求的同时还将有能力灵活地适应未来正在形成的测试需求。     

非接触IC卡芯片的低成本测试

随着RFID技术和规范的不断成熟．我国的第二代身份证卡上开始使用基于RFID技术的非接触IC卡芯片．对于设计验证和大规模量产时面临的测试问题，本文介绍了一种非接触IC卡芯片低成本测试的解决方案。与普通的测试方法要求IC测试仪（ATE）有比较昂贵的混合信号测试部件来发送／识别RF信号相比．该解决方案只需要ATE有一般的数字电路的测试功能．结合RF应用模块，就可以在保证测试精度和稳定性的前提下实现时芯片要求的所有测试。其最大的优点是大大降低ATE本身的硬件成本．测试时间很短，并且有很好的灵活性。     

泰瑞达（Teradyne）公司的J750Ex在SEMICON CHINA 2007上首次亮相

泰瑞达公司，作为世界著名的自动测试设备（ATE）的生产商，以及高效率量产、低成本测试的ATE设备的领头军，将在3月21至23日于上海市召开的SEMICON CHINA 2007上首次介绍半导体测试系统家族的最新成员J750Ex-J750家族的新成员。J750Ex的特点在于：量产能力提高50％，200兆赫兹数字性能，并拥有专门用于数字、混合信号、存储器及转换器等器件测试的仪器资源。     

安捷伦科技宣布将进入低成本自动溯试设备市场

安捷伦科技公司日前宣布，针对数字和混合信号消费器件测试推出93000超小型测试头（CTH），藉此进入低成本自动测试设备（ATE）市场。安捷伦在93000可扩充平台中最新增加了这一产品，满足了制造商对测试复杂的高性能系统级芯片（SOC）不断增长的低成本解决方案需求。目前，这些SOC正广泛用于大批量低成本消费电子器件中。     

非接触IC卡芯片的低成本测试

随着RFID技术和规范的不断成熟,我国的第二代身份证卡上开始使用基于RFID技术的非接触IC卡芯片.对于设计验证和大规模量产时面临的测试问题,本文介绍了一种非接触IC卡芯片低成本测试的解决方案.与普通的测试方法要求IC测试仪(ATE)有比较昂贵的混合信号测试部件来发送/识别RF信号相比,该解决方案只需要ATE有一般的数字电路的测试功能,结合RFID应用模块,就可以在保证测试精度和稳定性的前提下实现对芯片要求的所有测试.其最大的优点是大大降低ATE本身的硬件成本,测试时间很短,并且有很好的灵活性.     

Zetex半导体选择科利登的ASL3000测试其类型广泛的模拟和混合信号器件

半导体业界从设计到生产测试解决方案世界领先的供应商美国加州MILPITAS——科利登系统公司日前宣布Zetex半导体购买了多台ASL3000系统用于其多种模拟和混合信号器件的测试。选择ASL3000可以帮助Zetex在降低测试成本的同时增加产能。Zetex半导体总监兼团队主管Ted Wiggans说：“Zetex设计并制造分立器件和集成电路器件用于通讯、消费、汽车和工业产品市场。我们的产品需要采用成本最低的高质量的测试方案。     

应对目前模拟混合信号器件的复杂测试挑战

介绍 随着计算机、通讯和消费类市场便携式应用的不断增长,对复杂模拟混合信号(AMS)器件的需求全也大幅增加.AMS器件为高量产产品,如手提电脑、音频/视频设备、DSL调制解调器和机顶盒,提供信号转换,电源管理和其它物理接口功能.由于需要提供这些功能,新型的AMS器件为半导体制造商带来了大量新的测试挑战.     

混合IC测试系统有效降低测试成本

Credence推出的Sapphire D-10是为满足，消费电子产品市场的低成本测试需求而设计的混合信号IC测试系统。Sapphire D-10是一个高产能、多功能的圆片和封装测试解决方案，该方案是为微控制器、无线基带、显示驱动器和消费类混合信号器件的低成本测试解决方案而特别设计的。它具有集成度高、体积小、模块化、较高的并行测试能力等特点。     

以低廉的测试成本和灵活的测试结构测试混合信号器件

(上接第1期56页) 测试战略 当业界试图把更多的先进和成本敏感的产品投入量产,并在缩短量产时间的同时把测试成本、资本开销和所有权成本降到最低时,市场和生产的双重压力为测试带来了很多的挑战.IDM和OSAT都分别对这种挑战采用了不同的对策,如在测试复杂器件时采用高端设备,而用低成本的仪器测试短期的低端产品.(见表1)     

图形测试:多工位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键

1介绍多工位测试是大多数模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石.随着并行测试工位数的提高,模拟和混合信号器件测试系统的设计人员需要     

一种混合信号测试系统的设计及实现

针对一款混合信号的视频编解码芯片的参数测试要求,依据电路内部的测试结构,设计了一个基于纯数字自动测试设备（ATE）的混合信号电路测试系统。该测试系统通过增加MCU、ADC、DAC、FIFO、运放、可控开关等外围电路实现对芯片参数的测试。详细阐述了测试系统的总体方案、硬件设计和软件设计。通过软件和硬件的协同工作,该测试系统能够对含有AD、DA模块的混合信号电路相关参数进行测试,实现电路整体性能的评估。该测试系统原理清晰,结构简单,扩展灵活、方便。     

基于测试码的测试：多测试位模拟和混合信号器件并行测试效率的关键问题

1介绍 多测试位测试是许多模拟和混合信号器件生产厂家大批量测试的基石。一直以来,模拟和混合信号器件测试系统面临架构的不足,使得并行测试效率降低。测试系统架构不断地发展,寻求并行测试效率的提高。这一组文章说明并讨论多种测试系统硬件和软件的设计改进,以实现更高的并行测试效率。     

用下一代基于数字信号处理的仪器应对新兴多频带模拟测试挑战

满足性能需求的仪器。新的多频带模拟仪器的引入,使工程师能够应对从音频到视频,成本敏感的消费类混合信号器件的模拟测试挑战。通过提供更多的供电能力,这些新仪器进一步加强了自动化测试设备的能力,从而降低了市场领先应用的测试成本。     

高速存储器测试仪器市场扩大

1995年度日本的半导体测试仪市场相当兴旺,到1996年度却变为负增长.由于生产厂家转向高速SDRAM(同步动态随机存取存储器)器件的生产,对于高速存储器测试仪的需求,却迅速增长;由于单片产品的增多,对于综合测试多种功能的需求,也在增长;但是,器件集成度的提高,导致测试成本增大,因此,各测试仪厂家都在努力设法提高速度、增强功能及降低测试成本.     

横河电机ATE事业介绍Innovative Test Solution Company-YOKOGAWA

作为世界著名的大规模集成电路测试设备（ATE）制造商之一的横河电机公司（YOKOGAWA）的ATE事业部门，我们ATE产品的测试功能覆盖了所有目前在市场上的集成电路器件产品。无论是模拟线性电路器件，混合信号电路器件，逻辑电路器件，高频RF通信电路器件及各种SOC器件；还是FPD驱动器件，存储器，Image Sensor器件等；无论是前道硅片级测试还是后道封装测试以及各种设计研发评估分析用测试；我们都能面对您的不同需求提供我们的最佳解决方案。     

测试和测量

面向数字和混合信号器件测试的93000超小型测试头（CTH）；功率分析仪增加了以太网、USB功能；[编者按]     

测试和测量

VC3300手机综测仪新增TDSCDMA测试选件；全波段光器件测试仪MT9820A；MS04000混合信号示波器推出FPGAView软件；高达7Gb／s的HDMI TMDS信号发生器平台；用于WiMAX终端生产测试的单机解决方案；LTE（Long Term Evolution）射频测试方案；……[编者按]     

先进的测试平台简化多总线器件测试

多总线作为不使用片上高速缓存的情况下在最大化系统生产能力、成本效率较高的机制下已经有很长的应用时间.测试早期的器件,工程师可以使用某些能够提供双时域能力的自动化测试设备(ATE)应对相对简单的总线结构.     

联华电子选择Agilent 93000 SOC系列测试仪——全球领先的半导体专工厂采用93000进行高速数字信号和混合信号测试

北京，2005年12月8日，安捷伦科技日前宣布，全球领先的半导体专工厂——联华电子（NYSE：UMC，TSE：2303）已经购买一部Agilent 93000 SOC系列测试仪，进行基于结构的高速数字信号和混合信号测试。联华电子将使用93000测试计算设备、PC和游戏控制台使用的大容量复杂SOC。93000系列能够扩容及测试广泛的一系列应用，帮助联华电子降低测试成本，加快其客户的产品开发周期。     

分析VLSI自动测试设备高频测试性能的准则

更高速CMOS VLSI,特别是RISC和CISC的发展,要求用来测试这些器件的ATE增加高频测试能力。本文分析测试仪管脚电子电路特性和DUT到测试仪的接口,以及在这些领域对ATE提出的新要求。