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探讨了利用flex和bison工具开发混合信号边界扫描系统EDIF网表文件解析器的基本步骤和方法,并利用这两个工具强大的功能生成了EDIF网表文件的词法分析器和语法分析器;与直接使用高级语言相比,自动生成的EDIF解析器具有功能完善、简洁明了、易于修改和扩充等突出特点. 相似文献
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王燕 《计算机测量与控制》2006,14(10):1307-1309
边界扫描技术(BST)是一种新型的VLSI电路测试方法,但在扫描链路的设计中如何将不同厂家、不同型号、不同工作电压的BS器件实现JTAG互连,如何将边界扫描测试、在线编程和仿真结合起来一直是一个亟待解决的问题;为解决上述问题,在大规模集成电路设计中采用逻辑可编程扫描链方法,利用边界扫描技术对电路板进行测试,实验证明采用逻辑可编程扫描链方法可有效的解决测试与在线编程(或在线仿真)的兼容问题。 相似文献
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本文提出将广泛用于测试领域的边界扫描技术应用在基于FPGA的计算机硬件实验课程中,利用边界扫描技术解决FPGA的配置和测试两大关键问题。在PC机上编写边界扫描主控器的C语言代码,驱动计算机并口对FPGA的TAP引脚进行控制,验证了使用边界扫描方法的正确性。 相似文献
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为了解决装备中大量线缆通断测试的需求,将边界扫描测试技术应用到线缆测试中,线缆之间连接关系转化为大规模逻辑器件之间的连接关系,利用信号收发判断连接关系的正确性;试验证明,测试设备能够短时间内,准确查找到线缆的错连、少连、多连等错误类型,测试结果准确可靠,满足大量线缆测试的需求,也为边界扫描技术的扩展应用提供了一种有益的参考. 相似文献
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罗秋明 《计算机应用与软件》2008,25(1):66-69
分析电路的Protel设计文档中网表文件描述的器件电气连接信息和所采用器件的BSDL文件所描述的边界扫描特性,然后生成逻辑测试向量,再进一步根据网络中驱动与响应点来影射到扫描过程中的测试数据,实现电路中stack-at-1、stack-at-1、短路和开路等故障. 相似文献
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陈庆孔 《计算机与数字工程》2010,38(9):62-65,72
边界扫描技术是标准化的可测试性设计技术,它提供了对器件的功能、互连及相互间影响进行测,极大地方便了对于复杂电路的测试。文章针对XCV600_HQ240,介绍了边界扫描的基本结构、边界扫描测试操作流程、测试接口和IEEE 1149.1标准规定的数据寄存器和指令寄存器,结合FPGA芯片的BSDL文件进行边界扫描配置和测试。 相似文献
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针对基于边界扫描测试技术对集成电路测试复杂的问题,提出了贪婪算法和图的色素理论算法;贪婪算法是指在测试网络与器件之间建立一个矩阵模型,通过局部最优解来寻找全局最优解的一种算法;图的色素理论是借助图的色数理论和技术,通过图形绘制网络与器件的关系,从中寻找最少着色方案的一种算法;实验结果表明,贪婪算法和图的色素理论两种算法的应用都能够较好地解决电路板测试性复杂性和测试性完备性问题,具有很强的实用性,可用于复杂数字电路板测试。 相似文献
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边界扫描技术及其在PCB可测性设计中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
阐述了边界扫描技术的基本原理,从设计方法、优化策略及实现技术等方面,对基于边界扫描技术的PCB可测性设计进行了研究,并给出了具体的实现方法;以对某海军导弹通用测试系统中的数据采集电路板进行改进为例,实现了该电路板的可测性设计;经验证,该方法有效地缩短了数据采集电路板的开发周期,降低了其维修测试费用,因而将具有更为广泛的应用前景. 相似文献
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在边界扫描测试技术中,由BS器件和非BS器件主成的逻辑簇测试是研究的难点问题,文章介绍了高效、简明、移植性好的TCL语言.在深入研究边界扫描簇测试原理的基础上,以实现逻辑簇测试为目的,采用了TCL嵌入C++的方法实现测试用例的脚本化,完成了基于TCL语言的Cluster测试脚本设计;通过对数字电路实验板的测试结果分析,得到了使用TCL脚本语言与C++联合编程能够实现簇测试,并且可以提高边界扫描测试软件工作效率的结论,具有较好的应用前景。 相似文献
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边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连等进行测试的一种统一方案,极大地提高了系统测试的效率。本文详细介绍了边界扫描测试的原理、结构,讨论了边界扫描测试技术的应用。 相似文献
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边界扫描技术在模拟电路的可测性设计大多仍停留在IEEE1149.4标准所规定的模拟测试总线上,并没有做到真正意义上的内建自测试设计;针对模拟电路信号提取和比较相对困难的测试难点,提出采用方波脉冲作为测试激励信号的方法,并以模拟开关为辅助桥梁,设计了基于边界扫描的模拟电路BIT结构;通过各个模块功能的时序仿真证明了该结构设计的合理性,并以集成运放uA741作为被测电路,通过信号上升沿脉冲计数充分证明该结构的可行性。 相似文献
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现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。该文提出了嵌入式处理器80386EX芯片内部功能的测试方案,设计了符合JTAG规范的测试系统结构,实现了芯片的内部功能部件的测试。接着,通过实验证明了文章所提方法的可行性。最后讨论了下一步的研究工作。 相似文献
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为提高现代军事装备的故障检测能力,运用VC++软件编辑控制界面,设计并制作了一种基于51系列单片机的边界扫描控制器;该控制器由USB转串口电路和单片机构成,结构简单、通用性强且成本低廉;将PC机发送的测试指令或数据进行USB与JTAG协议转换,产生符合IEEE1149.1标准的JTAG总线信号;以EPM7128芯片为测试对象,注入JTAG信号并采集测试响应,实现了对基于测试芯片硬件电路的故障检测;测试结果表明:设计的边界扫描控制器可实现对单芯片和芯片级联的边界扫描状态的控制,能避开可编程芯片的内部逻辑程序控制,完成对可编程芯片及其外围电路的故障检测。 相似文献
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基于边界扫描的电子系统故障诊断技术研究 总被引:1,自引:0,他引:1
电子系统的发展对其测试与故障诊断提出了更高的要求;边界扫描技术为芯片级、电路板级以致系统级测试提供了一套高效的标准化手段,但其应用也增加了电路的复杂性;以某电路板级系统为原型,进行了基于边界扫描的测试设计,构建了边界扫描测试系统;将贪婪策略应用于测试性优化设计中,通过置换简化、定性分离等方法,综合权衡设计复杂性和测试性改善;在互连测试实验中得到的结果与注入的故障模型相符,说明利用边界扫描机理能够准确地定位故障,得到了预期结果。 相似文献
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吕晓明 《计算机测量与控制》2009,(9):11
电子产品的微型化使得传统的物理接触方法所能进行的测试访问机会越来越少,测试变得越来越复杂和困难,形成测试"瓶颈",使故障诊断因信息量不足导致虚警率增高。而解决测试"瓶颈"的唯一途径就是加强测试性设计(DFT),即采用"并行工程"的思想,在产品的设计阶段就考虑测试性,通过添加一些特殊的电路结构,来提高原电路内部节点的可控性和可观测性,从而实现对内部电路的测试。 相似文献
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房晓杰 《计算机应用与软件》2003,20(3):74-76
本文研究了CPLD、VHDL及边缘扫描测试技术,以在电力机车辅助系统中的应用为例,取代传统的继电器有触点控制电路,简化了电路设计,生产及调试,提高了系统可靠性。 相似文献