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相似文献
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1.
干法腐蚀     
袁明文 《半导体情报》1991,28(1):55-64,F003
  相似文献   

2.
在MMST规划中,为得到期望的快周期、低成本的硅片加工工艺,大多数腐蚀工艺是在TI(德克萨斯仪器公司)设计和建造的先进的真空反应设备上完成的。用于反应离子刻蚀和微波刻蚀的设备与原位探测器相结合,并与全厂范围的CIM系统相连,探测器和CIM系统通过提供实时控制可满足完成工艺所需的要求。它们还能实现一些工艺的批间控制和其他标准的统计工艺控制。  相似文献   

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4.
从化学动力学的角度重新审视腐蚀和清洗过程,我们对半导体表面腐蚀和清洗工艺做了以下改进.  相似文献   

5.
Si的化学自停止腐蚀方法的研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
李国正 《微电子学》1995,25(4):45-47
本文介绍了两种化学自停止腐蚀Si的方法和原理,并将它与电化学自停止腐蚀作了简要比较。  相似文献   

6.
曹均凯 《半导体光电》1990,11(3):280-285
采用 RIE 法,利用 PIN 光电二极管,研究了干法腐蚀损伤机理及引起损伤的主要因素。由于离子轰击及电子、紫外线辐射,形成了腐蚀面的损伤和沾污。射频功率的大小对表面损伤起着主要作用。用退火方法可以降低损伤程度,甚至可以消除小功率作用下的损伤。  相似文献   

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9.
介绍强磁场增强反应离子腐蚀实验的研究结果,其中包括不同材料的腐蚀速度与磁场的关系以及负载效应等。  相似文献   

10.
从半导体激光诱导液相腐蚀的工艺原理出发,对影响刻蚀精度的主要因素进行了分析研究,从刻蚀图像分辨率、侧壁垂直度及底面平坦度、表面均匀化三个方面提出了改善刻蚀精度的方法。  相似文献   

11.
携带气体对二氧化硅干法刻蚀的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
文章研究了采用氩气和氦气作携带气体时气体流量对刻蚀速率、均匀性和选择比等主要刻蚀参数的影响。实验结果表明,当采用氩气作携带气体时,其流量选择在氩气:刻蚀气体≈1:1时,刻蚀结果优化;当选择氦气作携带气体时,其流量选择在氦气:刻蚀气体≈2:1时,刻蚀结果优化。氩气和氦气相比,氩气更具优越性。  相似文献   

12.
本文叙述等离子刻蚀铬膜的基本原理,用空气携带四氯化碳为气源,在高频电场作用下产生等离子体.实验证明,该等离子体能有效地刻蚀铬膜,获得较理想的微细图形.  相似文献   

13.
电子回旋共振等离子体的刻蚀技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
用电子回旋共振等离子体进行了硅基材料的刻蚀技术研究,进行了沟槽刻蚀实验,得到了较为陡直的侧壁.制作了精细图形,等离子体损伤较低.  相似文献   

14.
介绍了一种新型等离子体刻蚀机的使用条件,通过对各种参数变化的组合实验,得到了最佳工艺数据.利用该刻蚀机生产的电池片刻蚀效果好,刻蚀后经检测,电池片漏电流小,并联电阻大,提高了电池片的综合性能指标.  相似文献   

15.
介绍了用于太阳能电池片生产工艺中的新型等离子体刻蚀机及设备的工作原理、构造、简单的工艺试验结果。与现在生产线上普遍使用的老式等离子体刻蚀机相比,它大大提高了生产产能,减少了设备维护工作量。该设备操作简单,是一种实用、高效的生产型工艺设备。  相似文献   

16.
针对双层布线中二铝在通孔处台阶覆盖率低的问题,通过优化光刻胶膜的厚度、硬烘温度,以及调整刻蚀气体流量、腔室压力及极板功率,开发出坡度为62.5°的倒梯形通孔;二铝在通孔处的台阶覆盖率大于90%。将该技术用于D/A转换器的研制,成品率得到明显提高。  相似文献   

17.
离子束刻蚀   总被引:5,自引:0,他引:5  
介绍了几种常用的干法刻蚀的机理,重点介绍了离子束刻蚀的基本原理,给出了55种不同材料在500eV能量1mA/cm^2束不充密度条件下的刻蚀速率,并给出了刻胡束流和束流密度增加而增加的试验结果和实际图形刻蚀的扫描电镜分析结果,对有关问题进行了讨论。  相似文献   

18.
深硅槽开挖工艺   总被引:1,自引:0,他引:1  
李祥 《微电子学》1993,23(2):39-43
本文介绍了硅槽应用,即硅槽隔离和硅槽电容,对器件性能的改善。并介绍了硅槽隔离和硅槽电容的形成步骤及硅槽刻蚀剖面的形貌控制,CBrF_3刻蚀硅槽侧壁保护层的形成等等。  相似文献   

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