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用扫描声学显微镜进行塑封器件的封装分层分析 总被引:5,自引:2,他引:3
古关华 《电子产品可靠性与环境试验》2004,(2):14-16
在塑封IC器件中,封装分层往往会产生电和封装的可靠性问题。由过电应力(EOS)和再流焊中的水汽膨胀引起的分层会显示出不同的失效模式。扫描声学显微镜可以用来检测封装分层,能在失效分析的早期阶段快速地鉴别失效原因。 相似文献
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由于具有对封装和芯片之间界面成像的能力,声学成像技术可用于检测缺陷、污染物和塑模料问题。从声学显微镜的换能器发射到样品的超声波脉冲,只会从材料的界面处反射回声信号——而对于同质材料则不会。如果样品是塑料封装的微电路(PEM), 相似文献
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探讨了在使用扫描声学显微镜对IC封装体扫描时,对扫描图形中的黑点产生的原因及判定方法以及芯片底部芯片胶分层的波形情况及其扫描方法进行了讨论,结果表明,气孔和未分散的橡胶是造成扫描图中黑点的原因,芯片胶底部的分层需要由透射图形结合波形图才能准确判定。 相似文献
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本文采用扫描声学显微镜(SAM),检测和对比了两家封装厂提供的PLCC44塑封器件在经历热冲击后的分层情况。发现两家样品的抗热冲击能力明显不同。文中方法简便有效,可用于快速评估器件的塑料封装质量。 相似文献
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微型声学产品的可靠性问题一直是很重要也很值得关注的问题.随着微型声学产品的发展,各种新工艺的应用,微型声学产品的可靠性问题日益突出.如热可靠性、胶水剥落、引出线断线、焊点脱开等,尝试通过仿真和试验相结合的方法对这些问题进行描述分析. 相似文献
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柳思泉 《电子产品可靠性与环境试验》2011,29(2):49-53
通过对超声显微成像技术(AMI)检测原理的分析,阐述了AMI在检测片式多层瓷介电容器(MLCC)裂纹、分层和空洞等内部缺陷方面的具体应用,其检测结果得到了破坏性物理分析(DPA)的验证.此外,还讨论了不同频率的超声波传感器对AMI检测结果的影响,对提高AMI检测结果的准确性具有指导意义. 相似文献
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近年来,高精度的位移测量精度要求越来越高,为响应这一需求,本文依据待测位移量可由反射光强变化得出的原理设计了一种基于塑料光纤的位移传感器.本文所涉及的光纤位移传感器以静态拉伸式杨氏模量测量实验中钢丝长度的微小变化为待测量进行设计.在整个传感器系统制作完成后,结果显示,在0~3mm的位移范围内,测量输出与实际位移成线性关系且线性度为0.6%,在较大位移区间内实现了具有良好线性度的测量,同时,根据实验结果测得灵敏度为2.13mV/μm,保证了测量的精准度.这种设计方法的使用扩大了塑料光纤的应用领域,同时,优化了传感器的精准度和线性化精度等性能指标. 相似文献
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本文利用声波技术和热成像技术,结合LABVIEW软件通过以太网通讯实现对变压器的实时监控。系统能够通过对功率阈值的设定产生对变压器故障的报警,通过热成像技术定位变压器故障对其进行检修。 相似文献
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