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《电子科技文摘》2006,(1)
IELDVD060:9322:29630-169 0601365 圆片级等温测试与级装级恒流测试间的电迁移寿命外延差异的似乎合理的起因=Plausible origin of electromigration lifetime extrapolation difference between wafer level isothermal test and package level constant current test[会,英]/Wang,C.S.//Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits,2004.IPFA 2004.Proceedings of the 11th International Symposium on the.-169- 172(A) 相似文献
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《电子科技文摘》2006,(12)
0633126一种提高测量分辨率和信噪比的方法[刊,中]/李锂//西安工业大学学报.-2006,26(4).-333-335(C) 0633127直线位移工作台运动误差补偿方法研究[刊,中]/刘钧//西安工业大学学报.-2006,26(4).-316-320(C) 0633128发酵过程生物量软测量虚拟仪器系统的集成[刊,中]/郇黎明//北京化工大学学报(自然科学版).-2006,33 (5).-67-70(C) 0633129基于VC++的坐标系统转换程序设计与实现[刊,中]/刘亚静//湖南科技大学学报(自然科学版).- 2006,21(3).-61-64(C) 0633130非线性校正在冲板流量计中的实现[刊,中]/傅元//沈阳工业大学学报.-2006,28(4).-430-433(C) 0633131基于DSP的同步相量测量装置的研究[刊,中]/杨卫华//单片机与嵌入式系统应用.-2006,(10).-50-52 (C) 相似文献
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《电子科技文摘》1999,(10)
Y98-61452-282 9915798评估电机定子线圈适应三相短路绝缘能力的动态弯曲测试法=Dynamic bending tests:a method to evaluatethe ability of stator coil insulation to accommodate 3phase short circuits[会,英]/Christodoulou,A.& Wed-dleton.D.//1998 IEEE International Symposium onElectrical Insulation,Vol 1.—282~287(AG)9915799新颖的便携式数字化超声波探伤仪[刊]/王敬东//电子技术应用.—1999,25(5).—28~29(D)超声波探伤仪的数字化是超声波探伤发展的迫切需要。文中结合实际研制开发工作,介绍了数字化超声波探伤仪的软硬件设计方案、系统组成、功能特点,并对探伤信号的高速采集技术进行了分析.同时给出了适合应用的解决方案。参3 相似文献
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《电子科技文摘》2003,(5)
Y2002-63332-1733 0310274通过最小阶非线性观察仪的管道漏泄定位=Leakagelocation in pipelines by minimal order nonlinear observer[会,英]/Verde,C.//Proceedings of the 2001 AmericanControl Conference Vol.2 of 6.—1733~1738(HE)Y2002-63336-4338 0310275微分代数(DAZ)系统的滑动观察仪=A sliding observ-er for differential-algebraic(DAE)systems[会,英]/Tar-raf,D.C.& Asada,H.H.//Proceedings-of the 2001American Control Conference Vol.6 of 6.—4338~4343(HE) 相似文献
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《电子科技文摘》2002,(8)
0215904动态测量系统的逆系统设计〔刊〕/蓝银11遥测遥控一2002,23(2)一35一40(C) 为了从测量信号中恢复出原始的物理信息,需要设计动态测量系统的逆系统,以使整个系统的传递函数为1。但对于非最小相位侧量系统,简单的逆变换会引起系统不稳定,零相位误差算法的引入有效地解决了这个间题。文中以温度测量为例,对其进行反演,仿真表明结果真实可靠,方法具有一定的实用价值。参7 02159053G基站的侧试(刊)/Tello valenci盯/电信技术一2002,(3)一75一77(L) 0215906实用变量程模拟信号单片机检测电路(刊〕/李卷宗//电测与仪表一2002,39(3)一33一3… 相似文献
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《电子科技文摘》2000,(5)
Y99-61677-54 0008263JEDEC 123准则的高频限制=High frequency limita-tions of the JEDEC 123 guideline[会,英]/Williams,D.F.//Characterization of flip-chip CMOS ASIC simultane-ous switching noise on multilayer organic and ceramicBGA/CGA packages.—54~57(EG)本文对 JEDEC 123准则所描述的工序中固有的系统高频误差进行了评价。此准则适合于电子封装电感和电容模型参数的测量。参6 相似文献
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《电子科技文摘》2000,(8)
Y2000-62252 00132261999年第38届 SICE 年会会议录=Proceedings of the38th SICE annual conference(SICE‘99)[会,英]/TheSociety of Instrument and Control Engineers.—1999.—391P.(PC)本次会议由 SICE 主办,于1999年7月28-30日在 Iwate 大学召开。该会议录为国际论文部分,共收录70篇文章。内容主要涉及传感器与测量,电动机,健壮控制,机器人学,生物系统,建模与模拟,控制设计,工业应用,信号处理,目标跟踪,神经网络,模糊控制以及智能系统等。 相似文献
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《电子科技文摘》2000,(4)
Y2000-62031-161 0006455光临近校正(OPC)和非均匀性对电阻率和线宽测量性能的影响研究=Investigation of optical proximity cor-rection(OPC)and non-(?)formities on the performariceof resistivity and linewidth measurements[会,英]/Smith, S. & Walton, A(?)//1999 IEEE InternationalConference on Microelectronic Test Structures.—161~166(AZ) 相似文献
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《电子科技文摘》2003,(12)
Y2002-63522-2936 0328563可线性化误差动态的非线性观察仪存在性的充分必要条件=A necessary and sufficient condition for the exis—tence of a nonlinear observer with linearizable error dy-namics[会,英]/Krener,A.J.& Xiao,M.Q.//2001Proceedings of the 40th IEEE Conference on Decision andContro1.Vol.3 of 5.—2936-2941 相似文献
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