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针对方位瞄准过程中的强光干扰问题,在结合光电自准直测角和光栅测长原理的基础上,提出了基于莫尔条纹的自准直测角方法.分析了基于莫尔条纹自准直测角原理,即利用自准光栅像和透射光栅重叠产生莫尔条纹,将角量变化转变为线量变化进行测量.根据该原理设计了光学系统,建立了基于莫尔条纹自准直测角的数学模型,给出了理论计算公式,并进行了测量精度分析.理论计算结果显示,在±15′的视场范围内,系统精度达到1″,优于采用狭缝时光电自准直测量的精度. 相似文献
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对光栅信号的质量指标,主要是对光栅到莫尔条纹信号质量指标进行了分析,并通过采用谐波分析法,对光栅信号质量进行动态综合检测的电路进行了实现。这对计量光栅的发展和长光栅的检测,具有一定的现实意义。 相似文献
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大家知道,现有两光栅迭合时的莫尔条纹方程的讨论,都是在两光栅尺面相互平行的条件下进行的。但是,在光栅副工作过程中,两光栅尺面在空间实际上可处于随意位置而并不平行。那末,在此情况下,空间两光栅的莫尔条纹方程将如何表达?同时,两光栅面间空间角的变化又将如何改变莫尔条纹的宽度及方向,进而造成对光栅系统测量精度的影响?本文利用建立空间光栅平面与空间栅线方程的办法,理论求导了空间两光栅的莫尔条纹方程;并就两光栅面间空间角的变化对条纹宽度及方 相似文献
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无衍射光莫尔条纹空间直线度测量的原理与实验 总被引:6,自引:0,他引:6
提出用无衍射光和莫尔条纹进行空间直线度测量的技术。无衍射光用作直线基准并照射在一环光栅上,由于无衍射光斑也是一系列环状条纹,因此光栅上将发生莫尔条纹,光栅固定在移动物体上,若运动轨迹偏离无衍射光的中心线,莫尔环就将发生偏离,莫尔环的偏离量数倍于光栅的偏离量,由此产生一放大的二维直线度信号,图像处理技术用于计算机莫尔环的中心,理论和实验表明,该方法具有高灵敏度和抗激光漂移的优点。 相似文献
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光栅微振动测试传感技术的研究 总被引:6,自引:0,他引:6
提出了一种微弱地震波信号新的检波理论和方法.设计了一种测微振动传感器,采用光栅谐振子为敏感元件,将地震的机械信号转换成光调制信号——莫尔条纹,再用光电器件将其转换成数字化电信号.采用80倍细分技术,使传感器分辨力达到125nm;用MATLAB软件对PIC单片机记录的信号进行振动过程重构.结构中设计了横向限振片和光栅调节器,对光栅间隙、光栅间纵横向夹角进行调节,有效地限制了光栅间隙及角度的变化产生的误差.同时也校正了光栅的累积误差.有效地抑制了横向振动,提高了系统精度,同时可降低对该系统的横向限振要求,有利于结构设计.由于该传感器直接将地震的机械信号以脉冲数字信号输出,避免了器件精度不同对传感器输出数据质量的影响,简化了组装工艺.重点介绍了光栅数字地震检波器的结构设计、理论分析、辨向细分技术等.最后给出了测试数据和结论. 相似文献
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利用在准直状态下光栅的同莫尔条纹,探讨了一种测量透镜焦距的新方法,这种方法简单方便,可以达到较高的测量精度。 相似文献
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系统由半导体激光器、聚焦镜头、反射式标尺光栅、四裂相指示光栅和光电接收元件组成。该系统具有光学两倍频作用和大光栅副间隙下使用及间隙对莫尔条纹信号调制度不敏感等特点,并且整体结构分离式、小型化和轻型化,在各类精密测量装置和精密加工仪器中将得到越来越广泛的应用。本文介绍这种反射光学式位移检测系统的结构原理,系统特点和应用。 相似文献
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Microshape and rough-surface analysis by fringe projection 总被引:1,自引:0,他引:1
A fringe-projection system for microscopic applications, fringe-projecting microscopy, is developed and analyzed. Projection of the grating and imaging of the fringe system, modulated by the surface, are accomplished by the same high-aperture objective. The spectrum of the grating is spatially filtered and projected into the aperture with a lateral shift, which leads to a telecentric projection under oblique incidence and telecentric imaging. Topographies of specularly as well as diffusely reflecting surfaces can be obtained. The measurement of highly rough surfaces is described together with preprocessing steps. The resulting intensity distribution of the fringes is analyzed. Formulas for vertical and lateral resolution, measuring range, and dynamic range, based on noise considerations, are presented and verified by topographies of technical surfaces. 相似文献