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相似文献
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1.
程皖民  冯静  周经伦 《电光与控制》2008,15(1):47-50,55
在加速寿命试验过程中,由于试验设备、观测手段或其他方面的困难可能会造成某些试验数据丢失或未观测到.为解决Weibull分布产品在恒加应力试验中出现的小子样缺失数据情形下的可靠性评估问题,提出了可以综合利用多源信息的Bayes可靠性评估方法.首先通过概率元方法得到缺失数据的似然函数,同时根据似然函数中各未知参数的物理含义确定其验前分布类型,再利用第二类极大似然估计原理得到验前分布中超参数的估计.最后通过仿真实例说明了该评估方法在小子样缺失数据情形下的有效性.  相似文献   

2.
对产品的寿命分布做出可信赖的统计推断是可靠性工程界亟待解决的问题之一。本文在结合实际工程问题的基础上,应用数理统计和优化算法理论,对产品寿命分布的统计推断问题进行了,从而提高了一种行之有效的方法。  相似文献   

3.
论述了某航天测控雷达的可靠性增长试验,首先指出了单台(套)电子产品实施可靠性增长试验的局限性,在此工程背景下,提出了适用于航天测控雷达可靠性增长的等效试验方法。并运用工程上常用的增长模型——AMSAA模型结合两次联试阶段截尾数据计算,得到了雷达平均寿命的数学表达式,从而揭示了航天测控雷达在设计定型后装备使用前的调整过程中的可靠性增长规律,最后采用两阶段截尾时刻的平均寿命估计值是否落在指数分布MTBF验证值的置信区间内的检测手段,验证了该方法的正确性。  相似文献   

4.
针对2.5D立体封装中热膨胀系数及结构尺寸均存在较大差异、极易在热应力作用下产生热疲劳失效的可靠性问题,开展多芯片硅基集成封装互连界面温度循环加速试验,并基于Weibull分布对2.5D封装互连界面热适配性能进行评估分析,实现了2.5D封装可靠性指标的评估和失效率鉴定方案的制定.  相似文献   

5.
n中取k系统(简称k/n-系统)是工程实践中应用最广泛的系统类型之一。为了在系统现场试验样本量很小的情况下进行可靠性评估,首先利用次序统计量推导了k/n-系统寿命分布的密度函数,并给出了模型参数的第二类极大似然估计(ML-Ⅱ估计);然后给出了k/n-系统Bayes可靠性评估的一般步骤;仿真实例表明了方法的可行性。  相似文献   

6.
n中取k系统(简称k/n-系统)是工程实践中应用最广泛的系统类型之一.为了在系统现场试验样本量很小的情况下进行可靠性评估,首先利用次序统计量推导了k/n-系统寿命分布的密度函数,并给出了模型参数的第二类极大似然估计(ML-Ⅱ估计);然后给出了k/n-系统Bayes可靠性评估的一般步骤;仿真实例表明了方法的可行性.  相似文献   

7.
针对某产品空投试验时多状态、小样本的特点,提出了一种基于正态环境因子的性能可靠性仿真评估方法。运用仿真技术获得了环境因子的仿真结果,利用环境因子将分散在不同空投条件下的试验数据折算到某一典型工况下,得到了较客观的产品入水可靠性评估结果。  相似文献   

8.
9.
对可靠性统计试验方法进行了应用研究,介绍了现场统计可靠性评估的方法和步骤,并探讨了环境因子折算的一些实际应用问题.  相似文献   

10.
可靠性评估领域中环境因子的研究进展   总被引:5,自引:0,他引:5  
论述了环境因子在可靠性评估领域的重要性,基于研究环境因子的3个前提,讨论了各类分布环境因子的定义。重点综述了国内环境因子的研究情况和所取得的成果,最后根据可靠性评估理论的发展方向和小子样理论在可靠性评估领域中的重要性,指出了对环境因子的确定方法进一步研究的必要性和方向。  相似文献   

11.
对于威布尔分布无故障数据可靠性评估方法中形状参数已知和未知的两种方法,通过一个例子进行对比分析,指出当形状参数毫无所知时,所得到的基本可靠度置信下限估计最为保守。通过相似产品的信息和工程经验对形状参数作出一个较为精确的估计是可行的。  相似文献   

12.
威布尔分布下竞争性故障装备的可靠性分析   总被引:1,自引:1,他引:0  
利用外场故障数据,对威布尔竞争性故障装备进行了可靠性分析.首先对外场故障数据进行处理和失效模式分析,分别为各部件建立威布尔分布模型,得到其形状参数和尺度参数.进而在竞争性故障下,得到装备的可靠度函数和失效率函数.最后给出了一个陀螺仪算例来说明该分析方法的有效性.研究表明,该分析方法更符合装备的故障规律.  相似文献   

13.
基于最小二乘法,利用Excel的已有函数和单元格的引用,估计威布尔分布的参数m和η,用RAND()函数产生的随机数和逆变法抽取服从分布参数为m和η的威布尔分布抽样样本,计算可靠度的一个抽样值,反复抽样,得到可靠度的分布密度函数,用SMALL()函数返回可靠度置信下限的仿真值。实例表明,仿真结果与计算结果很接近,用Excel进行可靠性数字仿真,可以避免繁杂的编程工作,方便实用。  相似文献   

14.
推导了韦布尔分布参量满足的最大似然(ML)估计方程和其为球不变随机矢量(SIRV)的条件,给出了模拟相关韦布尔分布雷达杂波的原理和流程。在此基础上,基于球不变随机过程(SIRP)法仿真了具有高斯谱的韦布尔分布及其特例——瑞利和指数分布,弥补了零记忆非线性(ZMNL)法不能独立控制边缘概率密度函数(PDF)与相关函数的不足。最后不仅验证了模拟数据的PDF与理论分布,估计的功率谱与理论谱的吻合程度,而且分析了ML估计的分布参数与真实值之间的相对误差。结果表明,基于SIRP法仿真相关韦布尔分布雷达杂波是有效的。  相似文献   

15.
现有的可靠性增长模型大多是针对可修系统建立的,而现实中大多存在的是不可修产品,即产品投入可靠性增长试验出现故障后,很难修复如新再次投入试验.针对武器装备小子样、不可修的特点,提出了Bayes可靠性增长分析方法.首先利用多台产品异步增长理论得到各阶段试验数据的似然函数,然后构造了增长模型参数的Gamma-均匀验前分布并给出了模型参数估计的ML-II方法,通过Bayes统计推断对装备研制全过程的可靠性增长规律进行分析,最后通过仿真示例说明了该方法在工程上的应用.  相似文献   

16.
冯静 《电子学报》2011,39(6):1253-1256
对于退化失效型产品,当产品的特性参数超过给定阈值时即发生失效,失效阈值定义越严格则对产品功能要求越高,则产品越容易发生因不满足该功能要求而失效,可见产品的寿命数据与失效阈值的定义密切相关.对于长寿命产品,通过紧缩失效阚值的方法,可以在低应力水平下得到更多的失效数据.论文建立了寿命分布与试验应力和失效阈值的关系模型,并提...  相似文献   

17.
研制阶段的成败型产品可靠性Bayes评估   总被引:2,自引:0,他引:2  
研究了研制阶段的成败型产品可靠性的Bayes评估问题。针对当前可靠性评估方法中,经典统计方法无法利用历史信息,而传统Bayes方法又存在对历史信息与现场信息不加区分的缺陷,提出了研制阶段成败型产品可靠性评估模型。模型使用混合验前分布,并用历史样本与现场样本的拟合优度来确定混合分布中的继承因子,这样合理性就很容易得到解释。  相似文献   

18.
王小林  郭波  程志君 《电子学报》2012,40(5):977-982
针对维纳过程性能退化产品,提出了一种有效融合先验退化信息、寿命数据以及现场退化数据的可靠性评估方法.首先利用Expectation- Maximization( EM)算法基于先验退化信息和寿命数据信息确定参数的先验分布;其次利用贝叶斯方法对参数进行更新,并在此基础上进行可靠性评估.该方法能根据现场退化数据不断地对可靠性进行更新,实现对产品可靠性的实时评估.最后通过金属化膜电容器可靠性评估实例验证了该方法的适用性和有效性.  相似文献   

19.
当前航空装备普遍采用数字化研制模式,为引入可靠性仿真等先进技术带来了机遇。基于故障物理理论,以电子产品的设计信息和预期工作环境作为输入,利用建模与仿真方法对产品在寿命环境下的应力特性进行分析;结合应力损伤模型进行故障预计,得到产品的故障信息矩阵,从而提出了一种基于产品数字化样机的可靠性设计分析方法。针对某航空电子设备的应用验证结果表明,利用该方法可以发现产品可靠性薄弱环节,提出的具体预防对策可指导设计改进,达到消除潜在故障以提高产品可靠性的目的。  相似文献   

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