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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
本文用不同的发射极宽度和长度与集电极电流Ic和集电极-发射极间电压VCE的函数关系研究了集电区含InGaAsP层、基区为Zn高掺杂的小尺寸InP/InGaAsDHBT的高频性能。结果表明,减小发射极宽度比减小其长度能更有效地提高fmax,0.8μm发射极金属条宽的DHBT在Ic=4mA的小电流时,具有超高的fmax和fT,其数值分别为267GHz和144GHz,fmax的增加归结为基区电阻和降低了  相似文献   

2.
X波段功率AlGaAs/InGaAsp-n-p异质结双极晶体管(HBT)=X-bandpowerAlGaAs/In-GaAsp-n-pHBT’s[刊,英]/Hill.D.G.…//IEEEElectronDeviceLetters.1993.14(4...  相似文献   

3.
本文用不同的发射极宽度和长度与集电极电流I_c和集电极-发射极问电压V_CE的函数关系研究了集电区含InGaAsP层、基区为Zn高掺杂的小尺寸InP/InGaAsDHBT的高性能。结果表明,减小发射极宽度比减其长度能更有效地提高,0.8μm发射极金属条宽的DHBT在I_c=4mA的小电流时,具有超出超高的f_(max)和f_T,其数值分别为267GHz和144GHz,f_(max)的增加归结为基区电阻和降低了的Bc结电容乘积的降低。  相似文献   

4.
新结构高性能In_(0.3)Ga_(0.7)As/In_(0.29)Al_(0.71)As/GaAsHEMT研究证明,InGaAsHEMT的结构优于GaAsMESFET和习用的AlGaAs/GaAsHEMT。在GaAs上制备的赝配结构HEMT(PM-HE...  相似文献   

5.
本文简要报告我们气态源分子束外延实验结果.材料是GaAs(100)衬底上外延的晶格匹配的Iny(Ga1-xAlx)1-yP(x=0~1,y=0.5),InGaP/InAlP多量子阱;在InP(100)衬底上外延的InP,晶格匹配的InGaAs、InAlAs以及InP/InGaAs、InP/InAsP多量子阱,InGaAs/InAlASHEMT等.外延实验是用国产第一台化学束外延(CBE)系统做的.  相似文献   

6.
目前GaAs基低噪声HEMT,包括用于DBS的InGaAs/N-AlGaAsPHEMT已经商品化,且GaAs基功率HBT也将很快进入市场。尽管InP基HEMT或HBT仍处于研究与发展阶段,但由于它们特殊的电性能,它们将有希望成为下一代异质结构器件。在继续改进器件结构和工艺过程中,晶格生长工艺的改进激发了一种新的趋势,提出并实现了一种用InP做有源层的新型器件结构。这篇文章主要描述了这样一种InP基HEMT和HBT器件结构的最新进展。  相似文献   

7.
高速、高增益InP/InGaAs基HBT双异质结结构和InP集电极使得双极晶体管具有高击穿电压和高漂移速度。瑞典和芬兰的科学家用InP作发射极和集电极,用InGaAs作高掺杂基极薄层,制作出的InP/InGaAs双异质结双极晶体管(DHBT),既得到...  相似文献   

8.
目前GaAs基低噪声HEMT,包括用DBS的InGaAs/N-AlCaAsPHEMT已经商品化,且GaAs基功率HBT也将很快进入市场。尽管InP基HEMT或HBT仍处于研究与发展阶段,但由于它们特殊的电性能,它们将有希望成为下一代异质结构器件。在继续改进器件结构和工艺过程中,晶格生长工艺的改进激发了一种新的趋势,提出并实现了一种用InP做有源层的新型器件结构。这篇文章主要描述了这样一种InP基H  相似文献   

9.
GaAs、GaP、InP、InGaAsP、AlGaAs、InAlGaAs的化学腐蚀研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
为研制全集成光开关、微片式激光器等,对GaAs、GaP、InGaAsP、InAIGaAs、AlGaAs等材料的化学腐蚀进行了实验研究。为了研制InAlGaAs/InAlAs/InAlGaAs微片式激光器,开发了H3PO4/H2O2/H2O薄层腐蚀液和HCl/H2O选择性腐蚀液;为了研制InGaAsP/InP/InGaAsPTbar型光波导,开发了HCl/H3PO4/H2O2薄层腐蚀液和HCl/H2O2选择性腐蚀液;为了研制GaP、InGaP光波导,开发了HCl/HNO3/H2O薄层腐蚀液。它们都具有稳定、重复性好、速率可控、腐蚀后表面形貌好等特点。除此之外,蚀刻成的GaP光波导侧壁平滑无波纹起伏。此种结果尚未见报导。  相似文献   

10.
用分子束外延技术生长了InGaAs/GaAs异质结材料,并用HALL效应法和电化学C-V分布研究其特性。讨论了InGaAs/GaAs宜质结杨效应晶体管(HFET)的优越性。和GaAs MESFETS或HEMT相比,由于HFET没有Al组份,具有低温特性好,低噪声和高增益等特点。本文研究了具有InGaAs/GaAs双沟道和独特掺杂分布的低噪声高增益HFET。  相似文献   

11.
1WKu波段AlGaAs/GaAs功率HBT最大功率附加效率达72%《IEEETransactionsonElectionDevices》1995年第42卷11期报道,通过采用最佳发射极镇流电阻器和电镀热沉(PHS)结构已经成功地获得了Ku波段大功率...  相似文献   

12.
具有低温特性的宽频带P-HEMT MMIC LNA《IEEETMT&T》1993年第6—7期报道了使用0.2μmT型栅,InGaAsP-HEMT工艺制作了两个8~18GHZ宽带单级MMIC低噪声放大器。其中一个为平衡结构的P-HEMTMMICLNA,...  相似文献   

13.
赵俐  龙北生 《半导体光电》1996,17(2):134-136
介绍了通过插入InAs层到InGaAs沟道中,改善了InAlAs/InGaAs高电子迁移率晶体管(HEMT)的性质,合适的InAs层厚度和准确的插入位置会使在300K时此结构的HEMT比普通结构的HEMT的迁移率和电子速度分别提高30%和15%。  相似文献   

14.
势垒厚度在2.5~50nm AlAs/GaAs隧道发射极HBT的奇特电流增益近几年来,人们对用隧道势垒作为有效质量滤波器的兴趣越来越大。曾有人提出一种新型TEBT结构AlGaAs/GaAs双极晶体管。在这种结构中,由于其电子和空穴穿过势垒的几率有很大...  相似文献   

15.
本文给出了带有In0.49Ga0.51i包层的InGaAs-GaAs应变量子阱激光器实验结果。镀有AR-HR膜、并有p-nInGaP电流阻挡结的掩埋异质结激光器,在连续波(CW)和室温(RT)下,给出3.1mA的低阈值电流和95mW的高功率输出。这是首次以两次MOVPE方法生长制作的InGaAs-GaAs-InGaP掩埋异质结激光器。  相似文献   

16.
20Gbit/s HBT调制器驱动IC据《NEC技报》1995年第5期报道,NEC公司新开发的AIGaAs/GaAsHBT,应用于20Gbit光调制器驱动IC中,获得了良好的超高速和高压输出性能。在IC制作中,NEC采用了独特的异质护环HG-FST工...  相似文献   

17.
高击穿电压InAIAs/n ̄+-InGaAsHFET最近报道了一种适于高压应用的InP基HFET,它采用的是双应变外延结构。为了提高器件的击穿电压,采用了如下方法:①采用量子阶沟道,以实现电子的量子化和提高有效沟道的带隙;②使用应变的In_(0.41...  相似文献   

18.
南京电子器件研究所于1995年引进美国EPI公司生产的ModularGenⅡ型MBE设备,封面展示了这一设备,该设备具有75mm和50mm的生产能力,所研制的GaAs,AlGaAs,InGaAs和InAlAs材料具有良好的电特性,利用这些材料研制的HFET,HEMT和PHEMT等器件具有良好性能。生长化合物材料的MBE设备  相似文献   

19.
借助一新的工艺模拟与异质器件模型用CAD软件──POSES(Poisson-SchroedingerEquationSolver),对以AlGaAs/InGaAs异质结为基础的多种功率PHEMT异质层结构系统(传统、单层与双层平面掺杂)进行了模拟与比较,确定出优化的双平面掺杂AlGaAs/InGaAs功率PHEMT异质结构参数,并结合器件几何结构参数的设定进行器件直流与微波特性的计算,用于指导材料生长与器件制造。采用常规的HEMT工艺进行AlGaAs/InGaAs功率PHEMT的实验研制。对栅长0.8μm、总栅宽1.6mm单胞器件的初步测试结果为:IDss250~450mA/mm;gm0250~320mS/mm;Vp-2.0-2.5V;BVDS5~12V。7GHz下可获得最大1.62W(功率密度1.0W/mm)的功率输出;最大功率附加效率(PAE)达47%。  相似文献   

20.
概述了InGaAs/GaAs异质结构材料用于制作微波器件的优越性,叙述了材料的MBE生长、输运特性和掺杂分布,以及用于制作Ku波段低噪声高增益HFET的结果:栅长0.5μm,12GHz下噪声系数0.93dB,相关增益9dB。  相似文献   

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