共查询到10条相似文献,搜索用时 343 毫秒
1.
朱震宇 《电子产品可靠性与环境试验》2013,(3):19-24
在微波组件的生产过程中,静电放电(ESD)是导致产品失效的主要原因之一。介绍了ESD损伤的失效类型,分析了ESD对微波组件造成的危害特点,阐述了在微波组件设计和生产中静电防护的重要性,以及所采取的ESD防护管理方法和ESD防护的具体技术措施。 相似文献
2.
电子产品中静电防护问题研究 总被引:1,自引:0,他引:1
本文介绍了静电起电、静电放电(ESD)的机理及静电放电的危害,进一步阐述了人体感知静电和产品潜在损伤等问题及其产生的原因.针对静电积聚、静电敏感度和静电耦合能量等产生静电放电的前提条件,按照抑制起电、控制积聚的防护原则,提出了减少静电放电危害,提高电子产品可靠性的具体措施,在设计阶段对产品进行ESD防护网络设计,在生产... 相似文献
3.
4.
器件充电放电模式的静电防护 总被引:1,自引:0,他引:1
蔡依林 《信息技术与标准化》2008,(10)
由于其他的失效ESD模式的解决,近几年集成电路的生产中,CDM失效的问题愈加突出.介绍了CDM原理及分类,主要探讨了器件静电放电(ESD)防护设计和CDM防护(环境、包装、操作等)的方法. 相似文献
5.
通过对静电及静电放电(ESD)的简单介绍,提出了在电子装联中进行静电防护的必要性和基本思路. 相似文献
6.
《固体电子学研究与进展》2015,(4)
通过搭建ESD测试系统,测量TVS二极管的ESD防护性能,比较其标称参数与ESD防护性能之间的关系。结果表明,TVS二极管的反向击穿电压在一定程度上能够反映ESD防护能力,反向击穿电压与ESD峰值电流、ESD钳位电压呈线性关系,标称钳位电压略低于实际ESD钳位电压,而其他标称参数与ESD防护能力关联较小。标称参数难以全面反映器件的ESD防护能力。 相似文献
7.
在第二代居民身份证的制卡制证过程中,静电放电(ESD)现象比较严重,成为主要的失效原因之一.在仔细测量的基础上,给出了整个制卡过程中生产环境的静电电压测量值.这些测量数据,对进一步分析制卡层压工序ESD现象,以及身份证模块ESD指标的确定具有重要的意义.并提出了相应的静电防护措施. 相似文献
8.
比较了传输线脉冲(TLP)波形和人体金属模型(HMM)波形作为静电放电(ESD)防护器件测试注入波形时的测试精确度,强调了在动态测试中使用TLP的优势。从微观机理角度分析,计算了载流子输运方程与电流连续性方程,提出了聚合物材料ESD抑制器的防护性能表征参量。设计和搭建了等效ESD测试系统模型,通过TLP方法研究了膜状ESD抑制器的防护性能。结果表明,膜状聚合物ESD抑制器有良好的静态、动态防护特性,同时薄型覆膜结构更适合有高频多点防护需求的电路设计。 相似文献
9.
10.
便携式设备电路设计中的ESD防护 总被引:1,自引:0,他引:1
文章介绍了便携式设备电路设计中常用的ESD防护方法,分析对比了这些方法的优缺点,在此基础上提出了新的防护方法,详细分析了新方法的特性,并用实际案例验证了其有效性. 相似文献