质谱学杂志第六卷总目录

文肠同位素质诺电磁浓缩同位素摘的质谱研究生物样品‘“C的转化和质谱分析技术““Ar同位素稀释技术中稀释系数与测定误差关系的探讨高丰度氮同位素的质谱分析用于微量锉同位素丰度比测定的增锅一热电离法钦同位素质谱分析数据处理的探讨精确测定同位素比方法的探讨无机质讼煤灰降尘的火花源质谱定量分析作者(期)页车宗伶赫崇岩、赵玉珍、王庆、高金方(l)19(2)21富云莲刘琦、邓中国张子斌、郝明理、赵焕珍、 陶德忠李杰元莫志超(3)l(3)7(4)11(4)21(4)33火花源质谱法分析绝缘晶体郭家珍、 马树钦隋喜云、顾培、玉永安、金万逸、(1)14羞兆权…     

质谱学报第八卷总目录

作者期页丹O﹄111月任一﹄月了户勺OD7‘njt勺J上JI 3 22孟宪厚、黄达峰、李铁球孟宪厚孟宪厚傅淑纯、刘永福富云莲刘泽银蔡炳湖彭运生高仁祥3、474 114 194 26八Ul勺n舀丹O游俊富弓长心祥、王美雁21 49 5312 2 2 no 文题 同位亲质讼同位素稀释质谱法测定水和铀化合物中痕量硼热电离同位素稀释质谱法文献(1973~1984班)热电离同位素稀释质谱法文献(1973、1984互)镁和礼混合同位素质谱分析 4“Ar/“gAr快中子活化年龄测定法的数据处理程 序关于eoZ一H20平衡法d’“o计算的探讨制样历程对质谱计测量结果的影响质谱法测定植物和土壤中稳定…     

质谱学杂志 第一卷——第五卷(1980～1984)总目录

总目录文肠作者卷(期)页,年同位亲质讼法单带热电离的一个离子发射模型精测氢同位素比值的新型质谱计同位素稀释质谱法的误差问题微量分析的有力手段—同位素稀释质谱法盐湖水中鲤同位素丰度比值的质谱法测定质谱法测定地下水中He/Ar,NZ/A:比值及 共在地震监测中的应用应用稳定性同位素’SN研究冬小麦的氮肥效 应铀同位素丰度的精确测定刘炳寰洪阿实、邱纯一孟宪厚肯应凯、邱纯一、朱腾王蕴蕙、孔令昌、曹海霞霍盛华1(1)9,19802(1)61,19812(2)1,19812(2)10,19813(2)40,19824(1)3,1983陈佑良、4(l)11,1953游文采、4(1)29,1983质谱分析铀和…     

同位素稀释质谱(IDMS)法测定痕量铅

本文在概述痕量铅分析重要性的基础上,通过典型实例介绍了同位素稀释质谱法(IDMS)分析各种介质中痕量铅的国内外应用现状。全面论述了试剂纯化、样品处理和铅的分离浓集流程,并对质谱精密、准确测定铅的关键因素作了综述。     

质谱学报第13卷总目录(1992年)

文肠 同位素质谱用热表面电离质谱法测量高电离电位元素锑同位素丰度同位素稀释质谱法测定反应堆辐照元件样品中”Sm和’sosm含量Lead IsotoPe Analysis by Mass SPee-trometry and Its Applieation in Ar-ehaeometry避开衫干扰的钱同位素质谱分析石油稳定同位素地球化学新进展IDMS分析中化学处理特点及空白消除方法同位素稀释质谱(I DMS)文献介绍(1989ee1991)1.同位素稀释质谱(IDMS)文献介绍(1989~1991)1. 无机质谱离子注入样品的二次离子质谱(S IMS)定量分析粉末样品中某些杂质元素的同位素稀释二次离子质谱定量分析方法的研究…     

火花源质谱法的现状和发展前景

本文对火花源质谱法的现状和前景作了综述。由于对火花放电时的理化过程及其机制的进一步了解,火花源质谱法的分析精度和准确度得到显著改善。离子源的改进有可能使离子束的能量分散限于100电子伏,这可大大减化质谱计并提高灵敏度。采用电检测手段、计算机数据处理、同位素稀释法和样品预处理,可以有效地提高火花源质谱法的分析能力并促使其发展。     

质谱学报第十、十一卷总目录

赤渐人胜者卷期页 !王可下立二另清丈贡一i普热电肉质谱法树脂珠技术的新方法lq‘n曰nll,.1刁..1质谱法测定1司位索丰度的精密度和 准确度用质谱法测定反应堆元件的燃耗表面电离质谱法在标准物质分析中 的应用Nd一Sr定量与同位素比位一次侧定 多接收程序的设计fuJ位素质谱中的谱峰鬓加干扰及消 }余IDMS法测定核动力堆辐照兀件中裂 变产物’4“NdC02一1120平衡法6’“0 SMOW位的计 算表达式及其关系用质谱计直接测定单颗粒铅石年龄 的方法测得我国股老地质年龄 36.5~37.2亿年(简讯)我国同位素质谱十年回顾与展望热表面电离质潜技术在锑…     

同位素稀释质谱法特点

1997年国际物质量咨询委员会(CCQM)在巴黎召开的第六次会议,将同位素稀释质谱法、精密库仑、电位滴定、凝固点下降法和重量法定位于具有绝对测量性质的方法.其中同位素稀释质谱法是唯一一种微量、痕量和超痕量元素权威测量的方法.因为IDMS可以通过天平称重和同位素丰度比的质谱测量,将化学成分分析转化为同位素丰度的质谱测量.     

火花源质谱法测定高纯稀土氧化物中的痕量稀土杂质

本工作用火花源质谱法研究了高纯稀土氧化物(Y_2O_3、Eu_2O_3、Tb_4O_7)中痕量稀土杂质的定量分析方法,检测下限为O.06～0.6ppm。本研究还用理论相对灵敏度因子计算了稀土杂质的含量,结果与由实验相对灵敏度因子求得值基本吻合。     

P507萃淋树脂分离—火花源质谱法定量分析高纯Nd2O3中痕量稀土元素

本采用萃取色谱法，以Ｐ５０７萃淋树脂为固定相，以ＨＣｌ－ＮＨ４Ｃｌ体系为淋洗液，研究了高纯Ｎｄ２Ｏ３（９９．９９９％～９９．９９９９％）中稀土杂质与Ｎｄ基体的分离方法。选择螯合剂－活性碳柱富集淋洗液中痕量稀土，采用火花源质谱法分析，测定下限０．０１μｇ／ｇ。     

热表面电离同位素稀释质谱法测定红酒中痕量铅

采用热表面电离同位素稀释质谱法 ( TI-IDMS)对国际计量委员会 ( CIPM)物质量咨询委员会 ( CCQM)组织的“CCQM-P1 2国际比对 -红酒中痕量铅”进行了准确测量。研究了铅含量低、样品前处理和空白污染等方面的问题 ,建立了适用于热表面电离同位素质谱分析的红酒中痕量铅化学前处理方法 ,同时对测量结果的不确定度进行了分析和评定     

煤灰降尘的火花源质谱定量分析

本文报道了两种不用标准样品定量分析煤灰降尘的火花源质谱法(SSMS)—火花源质谱增值法和固体同位素稀释法。用增值法分析了Cd、Zn、Cu、Cr、Ni和Pb六种元素,用稀释法分析了Zn、Cu、Ni、Pb四种元素,结果基本一致。分析的变动系数,前者小于30%,后者小于10%。检出下限均在1ppm以下。本文还讨论了迭加干扰的校正。     

铀材料分析中的无机与同位素质谱法研究进展

综述了近年来中国工程物理研究院材料研究所应用无机与同位素质谱法进行铀材料分析的相关研究工作。在痕量铀同位素测量方面,发展了一种以氧化石墨烯作为电离增强剂的热电离质谱制样技术,显著增强了电离效率。在铀材料中杂质元素分析方面,开发了基于微流控芯片与电感耦合等离子体质谱联用的在线分离、分析方法,提高了分析的自动化程度。在金属铀中杂质元素的辉光放电质谱直接测定方面,基于相对灵敏度因子影响因素的研究基础,获得了一套普适性的相对灵敏度因子,实现了缺乏基体匹配标准物质时的准确测定。利用飞行时间-二次离子质谱法研究了铀及铀合金的偏析行为、夹杂物的表征、氢化/氧化腐蚀行为,为铀材料研究提供了表征手段。最后,对无机与同位素质谱法用于铀材料分析的发展前景进行了展望。     

用火花源质谱增值法定量测定钽粉中磷

本文论述了采用火花源质谱增值法,并用高纯金属粉稀释样品,定量测定钽粉中磷,从而实现了质谱法不但能测定微量元素,也能测定其它方法难以测定的较高含量的杂质,扩大了应用范围。     

同位素稀释质谱法测定核材料中的微量稀土

本文简述了核材料中微量稀土分析的重要性及同位素稀释质谱法(IDMS)测定稀土的原理、特点和优越性,介绍了近二十年来国内外微量稀土常用的分析方法,重点是IDMS的应用现况,给出了测定灵敏度、误差和主要分析程序。本文还全面介绍核材料中微量稀土的分离富集方法,并主要阐述了IDMS测定稀土的最佳条件、难点及其解决方法。     

质谱学报第七卷总目录

者期页朱凤蓉、周佩珍、田明、杨伟25 1 31 49 69 75 1642 文题 同位紊质讼提高怀同位素分析灵敏度的技术—活性炭 粒法使用胶体石墨技术测定铀同位素丰度比热电离同位素稀释质谱技术在痕量分析中的 新进展热电离质谱法测铀的系统校堆1l杨坤山、王娅妮孟宪厚陈茂林、华永明、游文彩、陈锦华、赵忠刚陈良孟宪厚孟宪厚44黄达峰李思林、赵墨田汽30 11255762沈雅珍李炳林、王美雁、陆柏龄、吴杰祝大昌3罗兴华3周士涛、刘永康、钱志鑫、游俊富、4王理尹明、詹秀春4︹“UQ口明.二,主应用ZhT一03型质谱计准确测定‘”N同位素 丰度热电离同位素稀…     

国际原子量委员会采用我国测定的锑原子量新值

我国北京大学张青莲、钱秋宇同志和国家标准物质研究中心赵墨田、王军同志采用校准质谱法测定锑原子量取得新成果。两种锑同位素~(121)Sb和~(123)Sb试剂,经精密纯制,得化学纯度100.0%Sb_2O_3。在一台MAT—261固体源热电离质谱计上,测得试剂的同位素丰度分别为99.01原子%~(121)Sb和     

同位素稀释电感耦合等离子体质谱法测定高纯石英中痕量硼

应用同位素稀释电感耦合等离子体质谱法 ( ID-ICP-MS)测定地质标样 ( GSD-4和 GSD-8)和高纯石英中的痕量硼。样品处理采用低温密封焖罐酸溶样技术 ,将样品与稀释剂充分混匀 ,硼损失较小。硼元素在碱性条件下主要以 B( OH) 4 -形式存在于溶液中 ,可被硼特效离子交换树脂所交换吸附 ,故能很好地与大部分基体元素分离 ,从而减少基体效应。测定结果表明 :该方法测定痕量硼具有较高的准确度和精密度 ,且方法的检出限低 ,可达 5 1 .7ng/g,是准确定量测定痕量硼的理想方法     

TI-59型程序计算器用于火花源质谱分析的数据处理

本工作编制了一个火花源质谱分析的数据处理程序。其主要功能包括谱线强度计算、扣背景、扣干扰、样品含量和误差的计算等,基本上满足火花源质谱法的各种数据处理的需要。     

质谱学报第14卷总目录(1993年)

(期)页同位素质谱同位素稀释质谱法厕定奶粉标准物质中钾张艳娟、赵墨田水中氖的快速分析同位素稀释质谱(I DMS)文献介绍(1 989~1991)班.杜晓军孟宪厚同位素稀释质谱(I DMS)文献介绍(1 989~1991)W.孟宪厚2 79自贡锉的同位系丰度研究ISOTOP DILUTION MASS SPECTROME-TRY:MORE .PHYSICAL”MEASURE-MENT IN CHEMICAL ASSAY黄文、张青莲、赵敦敏PAUL DE BIEVRE ,0 Ar一”Ar法国际标准样BSP一1角闪石的桑海清、王松山、胡世玲、裘冀、测定U.C.Ordani,K·Kawa,hita国际原子量委员会采用我国测定的锑原子…