第三讲 选矿流程中颗粒成分的检测(下)

三、X射线探测器、测量、记录仪器和微机控制分光是X射线荧光分析的核心部件。因为不能精确地把各元素的特征X射线按波长分开;便无法定性、定量测定各元素。但是,接着而来的是必须有能够灵敏又能精确地检测(探测)这些区别不太大甚至极小的不同波长的X射线,并且把它们的强度记录下来,这便是X射线探测器和脉冲幅度分析器等的任务。     

矿浆载流X荧光分析仪理论模型探讨

基于X荧光的物理行为,详细阐述了荧光强度和脉冲计数的关系,X射线所固有的吸收定律,荧光强度和散射强度之间的关系,散射强度和矿浆浓度之间的关系。推导出散射强度和荧光强度的理论计算公式。介绍了利用迭代法在电子计算机上计算的方法和程序框图。     

流程X射线荧光分析的矿浆系统

<正> 为了在选矿生产中及时了解和掌握矿浆中有用元素的品位,白银公司选冶厂和白银矿冶研究所共同研制了流程X射线荧光分析仪,与此同时,对矿浆系统也进行了研究,因为良好的矿浆系统是流程X射线荧光分析的     

矿浆载流X荧光分析仪的标定技术

<正> 前言近十年来X荧光分析技术日益广泛应用于选矿厂快速分析矿浆中的金属品位,它已成为实现选矿生产过程计算机控制的基础和必要条件。这种技术的典型产品是芬兰奥托昆普公司的库里厄—300型载流分析系统,其工作原理和系统构成已有文章介绍。由于X荧光光谱仪给出的信息是X射线强度,它是被测样品中元素含量的相对代表量而不是金属品位值,尤其是在选矿厂矿浆中经常含有其它共生元素,其X射线强度相互影响,矿浆浓度又经常波动,因此为了使X荧光分析仪得到满意的分析精度,不仅仪器本身质量要高而且在很大程度上取决于标定工作的好坏。标定技术属于X荧光分析仪     

国外放射性同位素X射线荧光分析仪及其应用

一、概述放射性同位素X射线荧光分析仪是最近发展起来的一项新技术。在国外,它正在广泛应用于地质、勘探、采矿、选矿、冶炼和金属加工等工业部门。放射性同位素X射线荧光分析仪的基本原理是用放射性同位素源激发被测元素,使之产生特征X射线,并用罗斯过滤片或脉冲高度分析器对它进行能量选择(又称非色散     

基于STM32的新型X荧光在线品位分析仪的研制与应用

矿浆品位的测量一直是选矿行业的研究重点与技术难点,其测量精度的实时在线反馈直接影响了选矿工艺流程自动化控制的效果。为实现对选矿工艺流程中矿浆元素品位更加准确的测量,在上一代有核在线品位分析仪的基础上改进研发了新一代无核X荧光在线品位分析仪。该新型X荧光在线品位分析仪基于STM32F407控制芯片,采用X光管与半导体探测器相结合的测量结构,其技术架构与分析原理是：X光管与半导体探测器组成测量单元,由X光管激发的X射线照射到需要测量的矿浆表面,同时半导体探测器接收矿浆中待测元素被激发出的X特征荧光;主控单元接收处理半导体探测器上传的数据信号,通过串口通讯将所测元素计数率发送给工控机上位软件;最终上位软件调用Matlab数学分析工具同时采用BP神经网络进行数据的建模分析并得出品位数值。绍兴某选矿厂现场工业试验结果表明,相比较于上一代有核品位分析仪,该新型X荧光在线品位分析仪的测量精度与运行稳定性等均有了显著的提高,各项参数均达到了设计要求。     

使用能量色散和波长色散工艺的铅锌矿石的在流分析

在选矿过程中,使用在线X射线萤光分析监测矿浆流中固体组分。比较了波长色散和能量色散方法。后者使用同位素和固体探测器,能给出要求的控制精度。这种方法是很经济的,     

天然γ射线煤厚传感器的脉冲幅度分析器

<正> 天然γ射线煤厚传感器是采煤机滚筒自动调高系统的重要部件,它利用测量顶板岩石表面辐射的天然γ射线的方法,间接确定顶板煤皮厚度。采煤工作面顶板岩石中含有放射性元素,(钾40_K、铀~(238)U和钍~(232)Th等),这些元素产生的γ射线穿过不同的煤皮厚度其衰减的程度不同,产生的脉冲计数也不同。γ射线穿过煤皮后进入探头,再经过光电倍     

电子数字计算机在流程用多道 X-射线荧光分析仪中的应用

在流程用 X-射线荧光分析仪中,仪器的测定结果不是某一元素的含量值,而是与元素在矿浆中的含量、矿浆浓度、矿物组成、矿石粒度等因素有关的 X-射线强度值。为了得到矿浆中某元素的含量值,必须把仪器的测     

应用于镍矿浆的放射性同位素X射线载流分析技术

前言放射性同位素X射线矿浆载流分析装置,目前在澳大利亚有九座选厂,在赞比亚有一座选厂作为例行分析投入使用。该装置包括放射性同位素X射线源和闪烁探测器,并把它们装在一个探头内。探头能直接浸入选厂生产矿流。从探头来的电信号经小型数字计算机处理后就可给出待测元素含量和矿浆密度。     

电子数字计算机在流程用多道X-射线荧光分析仪中的应用

在流程用X-射线荧光分析仪中,仪器的测定结果不是某一元素的含量值,而是与元素在矿浆中的含量、矿浆浓度、矿物组成、矿石粒度等因素有关的X-射线强度值。为了得到矿浆中某元素的含量值,必须把仪器的测定结果按照山试验找出的数学公式进行     

用X射线萤光取样代替刻槽取样的尝试

在矿山设备日趋现代化的今天,传统的、笨重的刻槽取样法已难以适应矿山生产发展的需要。不少矿山工作的同志正不断探索和试验新的取样方法。 X射线萤光取样是新兴的用放射性同位素X射线萤光仪进行的核物探取样手段。当放射性同位素源照射被测矿石时,会激发矿石中的待测元素,产生该元素的特征X射线。根据莫     

矿浆流中矿浆成分的自动控制

方法的实质在于测定矿浆固体中的两个元素的谱线强度之比Z,而不是测定某一元素的谱线的强度。在流经专供测定的小室1(图1)的矿浆中,借助X射线管2通过小孔3激发元素的次生X射线谱。在它们的空间分散后,借助多薄板型平行光管4和弧形晶体石英5经过小缝6和7到达带晶体NaJ(Tl)和光电培增管的闪烁计数器8,从这里得到我们所需要的元素的谱线。这些谱线的强度,在测定过程中顺序并多     

TW系列X射线荧光光谱仪

TW系列X射线荧光光谱仪是天津市技术物理研究所2006年研制开发成功的最新型X射线荧光元素分析仪器。 TW系列X射线荧光光谱仪采用波长色散X荧光分析方法,该方法比传统的能量色散X荧光分析法的精确度要提高1—2个数量级。特别是对于轻元素（硅、镁、铝、硫、磷）提高的更为明显。     

矿浆流程分析用的放射性同位素探头

为了分析选矿广的矿浆或溶液,芬兰的奥托昆普公司发展了一种使用放射性同位素为辐射源的探头。分析的元素一般为铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、铅;用反散射来测定矿浆密度。每个探头能同时测定五种元素的含量及矿浆密度。所设计的探头可直接浸入到矿浆流或安装在由主矿流样品连续通过的流通式样品盒上。小型计算机用来计算X射线荧光强度的分析数据和提供报告。探头获得的精度:对原矿流和精矿流为1～5％;对尾矿流为5～15％。     

吸收限型复合滤光片

本文介绍的复合元素滤光片,主要供XRF分析装置的浸入式探头使用。直接激发型浸入式探头,通常采用吸收限型滤光片,其使用原则限于被测元素的X射线能量低于干扰元素的X射线能量;但当被测元素的X射线能量高于干扰元素的X射线能量时,就不能使用吸收限型滤光片,若采用复合元素滤光片就能顺利地加以解决。用复合元素滤光片测定铜精矿中含铜量在10～22％范围内的样品,其绝对误差小于±0.3,满足控制分析精度的要求。     

能谱无标样法在镍合金中的应用

X射线能谱无标样定量分析方法,是本世纪70年代中期发展的一种简便快速的微区成分的定量分析方法,一次可以分析16个未知元素的含量,只需7—8分钟。该定量分析方法是利用经验公式计算纯元素标样的X射线强度因子Pi(i表示不同元素),待测定试样中某元素X射线强度P_u后,调用Pi计算程序求得某元素的特征X射线强度比K,再利用     

采用固体探测器和放射性同位素X射线源的矿物样品X射线荧光分析

从澳大利亚的选矿矿物流中,就铁、铜、锌、锡和铅,大约采集了七百个供荧光分析用的样品,以它们为例,说明了固体探测器和放射性同位素X射线源的使用情况。探测极限取决于0.001～0.004％元素重量范围内计数的统计性(三倍于标准偏差)。分析精度一般在元素平均含量的2％～10％之间(均方根值),所做含量测定并与矿业公司所提供的化验结果相比。在绝大多数情况下,误差主要来自化验,而不是来自X射线荧光技术本身。本文指出了固体探测器和放射性同位素X射线源在矿业分析中可能应用的若干方面。     

选矿厂矿浆品位自动分析——载流 X 荧光分析仪

载流 X 荧光分析仪,是以 X 射线为一次辐射源,采用集中的进样装置,连续依次测定许多种矿浆品位的一种大型精密分析仪。现简要介绍其原理。一、X 射线的产生及衍射图1是一种产生 X 射线的射线管。其中K 是发     

X射线辐射分选机及分选工艺研究

详叙了X射线辐射分选机的发展历史及其工作原理,并介绍了近年来国内外的分选实践,研究表明：低品位矿石经过X射线辐射分选,可以被预先抛弃产率60%左右的合格尾矿,大幅度提高选厂的入选品位,显著提高选厂的经济技术指标。