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负偏压温度不稳定性(NBTI)退化是制约纳米级集成电路性能及寿命的主导因素之一,基于40 nm CMOS工艺对NBTI模型、模型提参及可靠性仿真展开研究。首先对不同应力条件下PMOS晶体管NBTI退化特性进行测试、建模及模型参数提取,然后建立了基于NBTI效应的VerilogA等效受控电压源,并嵌入SpectreTM仿真库中,并将此受控电压源引入反相器及环形振荡器模块电路中进行可靠性仿真分析,可有效反映NBTI退化对电路性能的影响。提出了一套完整可行的电路NBTI可靠性预测方法,包括NBTI模型、模型参数提取、VerilogA可靠性模型描述以及电路级可靠性仿真分析,可为纳米级高性能、高可靠性集成电路设计提供有效参考。 相似文献
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A 50 GHz cross-coupled voltage controlled oscillator(VCO) considering the coupling effect of inductors based on a 65 nm standard complementary metal oxide semiconductor(CMOS) technology is reported.A pair of inductors has been fabricated,measured and analyzed to characterize the coupling effects of adjacent inductors. The results are then implemented to accurately evaluate the VCO’s LC tank.By optimizing the tank voltage swing and the buffer’s operation region,the VCO achieves a maximum efficiency of 11.4%by generating an average output power of 2.5 dBm while only consuming 19.7 mW(including buffers).The VCO exhibits a phase noise of—87 dBc/Hz at 1 MHz offset,leading to a figure of merit(FoM) of-167.5 dB/Hz and a tuning range of 3.8%(from 48.98 to 50.88 GHz). 相似文献
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一种基于Sobel分解算子的图像边缘检测并行算法 总被引:4,自引:6,他引:4
付光远 《微电子学与计算机》2006,23(9):132-134
串行Sobel梯度算子边缘检测算法需要将两个掩模S1和S2分别在图像的每个像素上移动.并在每个像素上进行11次加法运算,即需要11xN^2次加法,时间复杂度为O(N^2);文章提出了一种Sobel算子分解模型。并设计了一种在SIMD—MPP模型上基于Sobel分解算子的并行图像边缘检测算法.该并行算法总共只需要8次平移操作和9次加法运算即可完成,其时间复杂度为O(1),加速比达到N^2,大大地提高了基于Sobel算子的图像边缘特征提取的效率。 相似文献