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现有的数字光处理投影(DLP)系统采用色轮和中继透镜等元器件,由此导致投影系统结构复杂。针对现有技术的缺陷,本文设计了一种以三色LED作为照明光源,以梯度折射率透镜形成平行光的新型DLP投影系统。和传统的投影系统相比,减少了色轮、中继透镜、反射镜等元器件,简化了光学系统的结构。借助于Tracepro软件进行了模拟与仿真,对光线追迹的结果进行分析,分析得到整个投影系统的光斑均匀性为96.9%。结果表明本设计使投影系统的光路得到了简化,光斑的均匀性也得到了改善。本设计只需要选择合适的投影镜头,就可以消除LED面光源宽度过大对投影光斑的影响。 相似文献
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本文为扩大R902沟曲率测量仪测量范围提供了方法,并进行了理论探讨。通过改进支承座,大滚棒和测量头,使该仪器测量范围从R1~R8mm扩大到R1~R15mm,并保持原仪器的测量精度。附图7幅,表3个。 相似文献
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本文介绍了中科院上海光机所研制的CDMS-1型电视线宽测量系统设计及检测。线宽测量技术主要用于集成电路生产的在线测量,以及掩模制造中的质量控制,CDMS-1型电视线宽测量仪利用计算机对集成电路图像进行数字处理,从而保证了仪器测量精度。经检测表明该系统的各项测试指标均达到原设计要求。 相似文献
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为了解决三维测量仪器的小型化问题,设计了一种数字投影结构光三维测量仪光路结构,并用Zemax软件进行了性能优化。该结构分为投影光路和照相光路,投影镜头采用反远距结构,由5片透镜组成,全视场调制传递函数大于0.35。照相镜头采用双高斯结构,由6片透镜组成,全视场调制传递函数大于0.12。两镜头口径均小于14mm,长度小于40mm,像面照度均大于90%,可以对80~120mm远的物体进行测量。投影图像像素密度为1 028×768,相机拍摄图像像素密度为1 280×960,在工作距离100mm处可以测量28mm×21mm的表面。镜头全部采用球面透镜。该结构具有测量精度高、成本低、加工容易、体积小等优点。 相似文献
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张步超 《仪器仪表标准化与计量》2005,(6):35-36
介绍一种高精度的超声波厚度测量仪系统。论述系统的测量原理、系统构成,给出脉冲发生器、同步电路、计数器等电路的设计。总结系统的实验结果和系统特点。 相似文献
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精密角接触球轴承综合参数测量仪 总被引:1,自引:0,他引:1
结合惯性导航测试设备精密轴系的技术要求,研发了滚动轴承综合参数测试仪。该测试仪能检测轴承回转过程中的摩擦力矩、轴承刚度及几何精度,并能以图表或曲线的形式给出摩擦力矩与轴系预紧载荷、预紧载荷与轴承轴向位移等的关系。该系统集成了压力、位移、力矩等类型的传感器,在虚拟仪器平台上设计硬件控制、测量系统和软件,具有可扩展性好,成本低等特点。该系统将装配中难以控制的最佳预紧力转换为对轴承隔套高度差的控制问题,较好地解决了轴系装配过程中的最佳预紧问题并保证了轴系具有平稳的摩擦力矩。测量轴系的摩擦力矩特性显示,在8r/min转速下,运行平稳后的转动摩擦力矩为(0.62±0.16)Nm。该实验数据为控制转台的低速率运动和建立准确的补偿干扰力矩模型提供了理论依据。 相似文献
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本文在分析了氧化锆测量仪的工作原理的基础上利用8031单片机构成了氧量测量仪。通过软件提高了测量精度和抗干扰能力。此测量仪精度高、可靠性好,造价低廉,通讯功能满足了用户对远程控制的需求,具有广阔的应用前景。 相似文献
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国内轴承生产厂商主要是采用量规、卡尺对轴承高度进行手动测量,测量效率低,容易造成疲劳操作带来经济损失。现设计了一种基于单片机的无内圈、冲压外圈轴承的高度自动测量装置。该装置采用电感式位移传感器,将高度尺寸的变化值转变为传感器输出电压值,由AT89S52单片机作为控制芯片构成的测量系统,很好地适应了快速的生产节拍需求,并利用VB开发人机界面。该测量装置能精确地测量这种轴承的高度,自动化效率高,满足了生产需求,是一款实用的测量装置。 相似文献
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Topographic characterization of unworn contact lenses assessed by atomic force microscopy and wavelet transform 下载免费PDF全文
Ştefan Ţălu Krzysztof StȨpień Mustafa Oguzhan Caglayan 《Microscopy research and technique》2015,78(11):1026-1031
This paper analyses the three‐dimensional (3‐D) surface morphology of optic surface of unworn contact lenses (CLs) using atomic force microscopy (AFM) and wavelet transform. Refractive powers of all lens samples were 2.50 diopters. Topographic images were acquired in contact mode in air‐conditioned medium (35% RH, 23°C). Topographic measurements were taken over a 5 µm × 5 µm area with 512 pixel resolution. Resonance frequency of the tip was 65 kHz. The 3‐D surface morphology of CL unworn samples revealed (3‐D) micro‐textured surfaces that can be analyzed using (AFM) and wavelet transform. AFM and wavelet transform are accurate and sensitive tools that may assist CL manufacturers in developing CLs with optimal surface characteristics. Microsc. Res. Tech. 78:1026–1031, 2015. © 2015 Wiley Periodicals, Inc. 相似文献
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