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本文通过扫描电镜、能谱分析、X-衍射、包裹体测温等研究后认为,导致Ed ̄1段储层失去大量孔隙空间和酸化增产措施中效果不佳的主要原因为硅质胶结作用。提出了对于硅质胶结程度较发育的刚脆性储层,在油田开发酸化增产过程中,应采用HF酸处理和加砂压裂,可获较好效果。 相似文献
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页岩储层孔隙特征与结构的观察研究 总被引:1,自引:0,他引:1
页岩气储层孔隙特征与微观结构对页岩气勘探开发具有重要意义。以五峰组、龙马溪组样品为例,使用常规扫描电镜、氩离子抛光-场发射扫描电镜对孔隙特征、微观结构进行观测,识别出多种成因-形貌孔隙类型,对储层孔隙特征进行了刻画,认为页岩储层孔隙主体处于纳米级别,孔隙形态复杂,类型多样,微裂隙发育;微米级的孔隙与微观结构可以由常规扫描电镜直接观测,而氩离子抛光蚀刻处理有利于纳米级孔隙的定性观测。分析对比了常规扫描电镜、氩离子抛光-场发射扫描电镜试验方法的优势与不足,提出将定性与定量研究手段相综合,在利用扫描电镜系统观测页岩储层孔隙结构的基础上,结合使用高压压汞、气体吸附等定量化方法可以全面描述页岩孔隙特征,是目前对页岩储层孔隙特征进行综合表征的最佳手段。 相似文献
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临盘油田盘二断块是一个复杂的断块油气田,该断块地下断层切割剧烈,沉积相带变化快,油气分布不均,成岩作用强烈。本文通过显微镜、扫描电镜结合X-射线衍射分析等手段来研究盘二断块沙三下段储层的成岩作用类型及对储集空间的影响。 相似文献
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靖安油田延长组低孔低渗储层的扫描电镜研究 总被引:7,自引:0,他引:7
本文以靖安油田延长组储层为研究对象,通过扫描电镜、X射线能谱及光学显微镜、X射线衍射等,对碎屑岩储层的岩性、孔隙及成岩作用进行了分析。储层岩石类型主要为岩屑质长石砂岩和长石砂岩组成。储层孔隙类型以原生粒间孔隙和次生溶蚀孔隙为主。成岩作用有压实作用、胶结作用和溶蚀作用。压实作用和胶结作用是导致储层低孔低渗的主要原因。溶解作用所形成的次生孔隙改善了储层的性能。 相似文献
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本文通过扫描电镜和铸体薄片观察并结合X射线衍射和压汞分析对珠江口盆地白云凹陷珠江组岩屑砂岩储层的孔隙结构、矿物组成进行了分析,结果表明:珠江组岩屑砂岩储层发育有原生孔隙和次生孔隙,储层平均孔隙度12.3%,属于物性良好的油气储层。储层中原生孔隙发育较差,孔隙组成以次生孔隙为主,次生孔隙中溶孔和铸模孔构成了储层主要孔容,为油气主要富集渗流场所。储层自生矿物包括粘土矿物、次生石英加大、黄铁矿和片沸石等,粘土矿物为主要自生矿物,其发育程度与储层孔隙度呈负相关性。 相似文献
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随着煤层气勘探开发与二氧化碳地下储存技术的发展,煤储层微观孔隙结构的研究逐渐向纳米级别深入。以太原组无烟煤为例,率先采用氩离子抛光-场发射扫描电镜技术直接观测煤纳米孔,为煤储层微观储渗结构的观测提出一种新的研究方法。结果表明,煤储层孔隙主体处于纳米级别,分别发育在炭质、颗粒矿物、粘土矿物内部及接触部位,类型多样,以炭质内部的纳米孔最为发育;孔径差异显著,孔径主体分布范围为10~700 nm,集中在50~100 nm;孔隙形貌特征复杂、连通性不均一。氩离子抛光-场发射扫描电镜在煤微观孔隙系统分类及微观结构辅助定性-定量表征两方面具有广阔运用前景。 相似文献
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页岩储层微观孔隙结构特征是储层物性特征评价的重要内容之一.本研究使用氩离子抛光-场发射环境扫描电镜技术对渤海湾盆地东营凹陷沙四段页岩中的微孔结构进行了观测,并运用图像处理软件JMicroVision对各类型微孔进行了定性和定量分析.结果表明:孔径介于100~801nm的粒内孔以及100~981nm的粒间孔对页岩总孔隙度贡献最大;粒间孔和粒内孔的大量发育与矿物含量高有关,其中含量最高的黏土矿物的粒间孔和粒内孔与微裂隙伴生,并在页岩中呈条带状分布.氩离子抛光-场发射环境扫描电镜结合JMicroVision定量分析技术精度可达纳米级,能够为页岩微孔隙研究提供直观可靠的资料. 相似文献
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The article describes a model representation of radar probing data in form of a mixture of background and target samples, which is the sum of two random variables with very different parameters. For model development we research the behavior of the central moments of the distribution mix without assuming the distribution law form. An example it is described the detection of the signal at the output of compression system of chirp ionosonde. 相似文献
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解决IP网QoS问题是目前通信领域的研究热点之一.虽然研究已经取得了一定的进展,但人们对于IP 网QoS本身的含义及相关的问题还有着不同的理解.本文将从IP网QoS的定义入手讨论相关的一些问题以及解决IP网QoS问题所做的各种努力. 相似文献
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《Proceedings of the IEEE. Institute of Electrical and Electronics Engineers》1968,56(6):1024-1032
Assuming that visual responses are due to the action of particles on the membrane of the visual cells, the stochastic variability of the response should be a function of the number of particles producing it. Quantitative predictions can be made with the aid of a model proposed in previous articles. It is found that responses produced in visual cells of Limulus by absorption of a single photon have the stochastic properties which would be expected if the response to one photon were brought about by 25 particles. It is concluded from this that the processes leading to visual responses produce multiplication of particles. The effects of temperature and of metabolic poisons suggest that these processes are of chemical nature. 相似文献
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By means of exact conformal mapping method we have defined character of dependence of squares amounts of angular part of film
element on angled part dimension. We propose relations, approximating obtained dependence. Calculation results and experimental
researches of large-scale models are represented. 相似文献
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上市公司为了增强市场竞争力,不断扩大生产规模,追求规模经济,但是由于我国较低生产力水平、政府干预、体制等原因,上市公司的规模经济效果并不明显。同时,20世纪90年代以来,科学技术的日益发展,改变了企业发展的外部环境和条件,使得规模经济的实现方式发生了新的变化。在信息化时代下,规模经济理论需要进一步创新和拓展,企业按照新形势来选择合适的经济规模。 相似文献
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近红外光谱技术在水果品质无损检测中应用的研究与现状 总被引:6,自引:0,他引:6
简单概述了我国水果产业的发展现状,着重阐述了国内外利用近红外光谱技术进行水果品质无损检测的最新研究进展,分析了当今研究中存在的问题,并对利用近红外光谱技术进行水果检测的前景进行了展望,提出了一些建议。 相似文献
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A. M. Emel’yanov 《Semiconductors》2010,44(9):1134-1139
A method for analyzing the luminescence spectra of semiconductors is suggested. The method is based on differentiation of
the spectra. The potentialities of the method are demonstrated for luminescence in the region of the fundamental absorption
edge of Si and SiGe alloy single crystals. The method is superior in accuracy to previously known luminescence methods of
determining the band gap of indirect-gap semiconductors and practically insensitive to different conditions of outputting
radiation from the sample. 相似文献