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相似文献
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探讨以三束激光为基础制作光学逻辑元件的可能性。描述了三束激光的结构、其运转及以其为基础制作逻辑元件。  相似文献   

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衍射光学元件制作中的基片涂胶方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
在基片上涂布一层厚度均匀的光刻胶层,是衍射光学元件制作中的一个重要步骤。介绍了目前用于衍射光学元件制作的两种主要涂胶方法———提拉法和旋转法,分析了这两种方法的特点和影响胶层厚度的主要因素,尤其是对其均匀性的影响,并提出了获得均匀胶厚的途径。对于提拉涂胶,选择粘度较高的光刻胶溶液与合适的提拉速度将有助于减小Marangoni流动和Van derWaals力对膜厚均匀性的影响;对于旋转涂胶,可以通过密封基片所在空间,或者通过气流控制器使基片上方空气流动处于层流状态来获得均匀一致的溶剂挥发速率,从而提高胶层的均匀性。  相似文献   

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研究了光学元件镀膜前超高洁净度要求的超声清洗工艺,在超声波清洗机的频率和功率一定的情况下,通过研究超声清洗剂、清洗温度、清洗时间等对光学元件超声清洗效果的影响,研制出有效清洗光学元件的清洗工艺,并保障超声清洗工艺对光学元件的表面状况无损伤。同时发现光学元件的放置时间会影响元件的清洗效果。超声清洗刚加工好的光学元件洁净效果较好,清洗时间较短;有6个月存放期的光学元件,表面颗粒污染很难洁净清洗。  相似文献   

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采用大规模集成电路的多次掩模光刻和刻蚀技术制作二元光学元件阵列是较为传统和实用的制作方法,其工艺过程主要包括:利用光刻技术将设计的掩模版图形转印到有光刻胶的衬底表面;利用刻蚀技术将光刻胶的图形转移到衬底表面,形成所需的表面浮雕结构.在工艺中,光刻胶的行为和特性对衬底的最终图形有着极为重要的作用.光刻和刻蚀两道工序都要求实际图形与掩模版的图形达到很高的一致性,这样才能实现元件被高保真地制作到衬底上.在整个工艺过程中,由于不同光刻胶在甩胶、前烘、曝光、显影、坚膜、刻蚀或腐蚀等工艺中表现不同的行为特性:附着性、均匀性、边缘效应、分辨率、感光度、高温形变、耐刻蚀性等等,使得所制作的器件性能有较大的区别.本文详细研究了不同光刻胶在不同工艺过程中的行为.在二元光学元件的制作中,通过选用不同的光刻胶:在第一次光刻刻蚀台阶较深时,选择粘度系数较大,高感光度,耐刻蚀的厚胶;在套刻中,刻蚀台阶较浅时,选用高分辨率、高陡直度、耐高温的薄胶,最终制作出了性能良好的二元光学元件.(OD2)  相似文献   

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本文结合多层聚酰亚胺和多层低温共烧陶瓷结构,描述了多芯片组件(MCM)的制作工艺,多层低温共烧陶瓷用作封装基在。还报道了这种组件的主要特性。  相似文献   

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本文系美国工程科学院院士、美国科学院院士田炳耕博士来沪讲学时,本刊特约.原文用英文书写,现摘译后,分两期刊登. ——编者  相似文献   

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详细介绍了二元光学元件制作的光刻技术和一些新的制作工艺,包括薄膜沉积法、激光束或电子束直接写入法和准分子激光加工法.针对用于CO2激光器模式优化的二元光学反射镜,分析了元件制作误差,包括掩模对准误差、台阶刻蚀深度误差和台阶刻蚀宽度误差对谐振腔振荡模式的影响.  相似文献   

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用高容量的光波系统经济有效地传输信息,目前已在多方面应用.将来,光波系统也可以通过直接光学处理来转换信息和完成其他功能,因此光编码的信息能够直接传输到终端而不需要中间转换成电的形式. 能实现这种功能的回路称为“集成”光路或光子回路.这类回路中还能够加进用制造光波元件的材料制  相似文献   

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论述计算机光学元件制作的方法,着重介绍了灰度掩模技术,反应离子束刻蚀法和激光直写技术,并且说明了其在空间聚焦器上和激光雷达上的新应用。  相似文献   

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为减少磁流变抛光过程中误差对加工精度的影响,实现光学元件磁流变高精度加工,采用一种不确定度误差工艺方法对加工中的误差进行抑制。通过对磁流变加工过程中的位置误差和去除函数误差进行不确定度分析,在理论分析与实验分析的基础上进行验证实验。由仿真与实验结果可知,加工中面形误差与中频误差均存在3.5 nm的不确定度误差值,通过验证实验,得到了加工后的面形误差RMS值为20 nm,中频误差RMS值为14 nm。结果表明,采用误差不确定度的方法可优化加工工艺流程,减少误差对加工过程的影响,可以达到不确定度下的面形精度。该方法为磁流变高精度确定性加工以及面形误差与中频误差的抑制问题提供了一种解决方案。  相似文献   

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衍射光学元件的设计方法杨国桢,顾本源,董碧珍(中国科学院物理研究所,北京,100080)衍射光学是基于光学衍射原理和利用计算机产生全息图和相息图(Kinofosms)以及微电子加工技术而发展起来的一个新的光学分支。衍射光学元件通常是在光学材料片基的薄...  相似文献   

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二元光学元件制作过程中的线宽误差   总被引:2,自引:2,他引:2  
李红军  赵晶丽 《光电子.激光》2000,11(3):279-281,297
基于标量衍射理论,首先5得出线宽增加情况下4阶二元光学元件衍射效率的解析式;并以4阶、8阶二元光学元件为例,进行计算机模拟并系统分析红宽增加和线宽减小两种情况下,线宽误差对二元光学元件衍射效率的影响。指出线宽误差对二元光学元件衍射效率影响较大。模拟计算结果对二元光学元件的制作提供重要的理论指导。  相似文献   

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