熔丝类电路的修调探索

随着熔丝在电路设计中的应用普及,测试环节对熔丝修调的要求也越来越高,对测试人员提出了更大挑战。修调熔丝的目的是为了获得更精确的电压或者频率,按照制造材料和工艺可分为金属和多晶硅两种类型。不同的工艺结构决定了不同电路的熔丝有不同的特性,修调时需要针对具体电路具体分析,选择适宜的修调方案,并且编写简洁高效的修调程序。文章介绍了常见熔丝的特性,总结几种常用的修调熔丝方法,并分析了这些方法的各自特点,同时对修调熔丝的程序算法做了探讨。     

一款内置独立LDO的马达驱动电路熔丝修调方法

作为新一代集成电路稳压器,LDO以其成本低、噪音低、静态电流小、纹波抑制比高等特点被广泛应用于各种供电系统中。介绍了一款内置独立LDO的马达驱动电路,并通过LDO熔丝的修调介绍了几种常用的熔丝修调方法和注意事项。     

一种基于标准工艺的熔丝修调电路设计

为了减小芯片生产过程对集成电路的影响,使生产芯片参数符合设计要求,分析现有修调技术特点,提出了一种基于标准工艺的金属熔丝修调电路,并成功应用到一个开关电源芯片中。其结构简单,成本低,可在标准工艺线上实现;在节约电路版图面积的同时,减小了电路的功耗。基于TSMC 0.5μm BCD工艺,通过Hspice仿真工具验证了电路功能的正确性,并完成电路版图设计,满足修调要求。     

一种利用迭代法实现的熔丝修调方案

随着集成电路的迅速发展,测试过程中熔丝修调的精度受到越来越多的重视。在某些产品熔丝步距一致性欠佳的情况下,传统的查表法熔丝修调方案已经无法满足当下的精度要求,从而表现为测试过程中区域性或批次性的低良率,造成人力、物力的损失。将迭代法应用到熔丝表的计算中去成为了提升测试精度的必然趋势。采用迭代法的熔丝方案可以根据圆片当前区域的熔丝步距实时调整熔丝表,提升测试良率和测试精度。     

多测位并行测试的探索与实践

多测位并行测试技术是半导体测试业节约成本、提高效率的新途径,应用好并行测试技术可以大幅度降低测试成本.本文讲述了用台湾久元的SCUD-512型测试机和东京精密的UF200探针台实现双测位并行测试的实践过程,另外还介绍了并行测试技术在晶圆测试过程中的若干技术问题和解决方案.     

并行测试的测试调度及其控制

本文首先从理上比较严格的证明了测试调度问题是多项式可解的，提出了一种Ｏ（ｎ＾２）的最优测试调度策略。最后，阐述了一种测试调度的控制策略，使得多路转换器控制输入最少。     

一种高精度快速激光修调方案设计

在激光修调过程中,激光的修调路径和控制策略是影响修调精度和修调速度的关键因素,而常规激光修调方案难以同时满足高精度和快速修调。因此,提出了一种高精度快速激光修调方案,使用“离散+连续”结构的金属薄膜电阻图形提高修调效率和可靠性;利用阶梯形的激光修调路径提升修调精度;采用动态测试步长的控制策略提高修调速度。采用上述方案对60个金属薄膜电阻样品进行激光修调,结果表明：修调精度可达0.004%,平均测试步长为2.53,验证了所提出的修调方案可有效提升修调精度和修调速度。进一步将该方案应用在200个温度传感器芯片的校准中,结果表明200个温度传感器芯片的测温误差均校准至±0.2℃以内,平均测试步长为6.29。     

并行测试的一种新策略--测试段划分

由于测试响应观察及测试 置入只占用了测试时间的一部分,我们采用测试段划分策略来进一步利用测试调度资源。这样,原来在测试设计调度过程中冲突的子电路对采用测试段划分策略以后可能只是部分冲突了。文中提出了一种新的测试调度算法。该算法通过记录以往的冲突信息,提高了测试调度调度最优解的搜索效率。     

采用熔丝修调技术的高精度电流舵D/A转换器

高精度D/A转换器的实际精度往往低于理论上的精度。针对这个长期困扰的难题,在设计16位D/A转换器的过程中,提出了一种熔丝修调技术,即通过修调电流源输出端的电流,有效地减小电流源失配和有限输出阻抗对D/A转换器的DNL和INL的影响,大幅度提高D/A转换器的精度。基于0.18 μm CMOS 工艺的测试结果表明:在采用熔丝修调技术前,该电路的DNL和INL分别为－0.72~9.07 LSB和－5.55~18.1 LSB;在采用熔丝修调技术后,该电路的DNL和INL分别为－3.95~0.70 LSB和1.94~8.06 LSB。当输入信号频率为102 MHz、采样频率为500 MHz时,SFDR达到82.16 dBc,完全满足D/A转换器高精度的要求。     

一种低压差线性稳压电路的并行测试方法

介绍了一种特别的低压差线性稳压电路,以及针对该电路的测试方法。该电路的特殊之处在于圆片上所有管芯的输出端短接在一起,无法直接用常规方式进行多工位并行测试,需要使用浮动电源对每个工位进行隔离测试。同时在测试方案中加入了自校准功能,可以在长期大规模测试中有效地保证测试准确性,避免因测试系统出现异常造成误测。     

一种串并结合的多Site熔丝编程算法

随着集成电路产业的迅猛发展,熔丝修调越来越广泛地应用于集成电路测试工序,熔丝段数目随着需要修调参数的增多而逐步增长,传统的串行熔丝编程方案程序存在代码长、可维护性差、执行时间长等缺点,为了改进代码的可读性和可维护性,文章引进了改进型算法,但对测试执行时间没有任何改善。随着测试代工市场竞争日益激烈,多Site测试方案被广泛使用,但是熔丝编程还继续着串行编程的老算法,Site数目越多,熔丝编程时间越长。针对以上,文章提出了一种串并结合的多Site熔丝编程算法,将多Site熔丝编程时间控制在和单Site熔丝串行编程时间几乎一致。     

熔断器电压降自动测试系统的研制

熔断器作为电子产品安全的保护设备,电压降是衡量其性能优劣的重要参数。为提高熔断器电压降的测试精度、测试效率,研制了由恒流电源、电流传感器、电压传感器、PLC、标准夹具、自动进料装置及电脑构成的熔断器自动测试系统,实现了自动进料、不合格样品的自动筛选、测试数据的判定及输出。比较工厂的振动盘式测试设备,具有精度高、噪声低的显著优势。     

一种易烧写高可靠的硅化物多晶熔丝修调电路

多晶硅熔丝是一种单次可编程(OTP)的非易失存储单元,常用于集成电路的修调,确保电路在PVT下性能稳定.对传统熔丝修调电路进行了改进,设计了 一种常规修调电压下高可靠的硅化物多晶熔丝修调电路.该电路具有功耗低、易扩展和复用性强等优点.基于0.25μm CMOS工艺流片测试,该电路在3.3 V电压下实现了 14位DAC高...     

IC内置熔丝熔断方法

集成电路的发展对电路的精准度和可编程性提出了更高的要求。低成本、高灵活性的熔丝结构由此得到了大范围的应用。熔丝可调节方案随着熔丝数目的增加而呈指数倍数增加。在编写测试软件时,传统方法是机械地用if…else语句来编程,程序将是非常的冗长且可读性差。文章在总结传统测试方法弊端的基础之上提出了一种可用于准确、有效地熔断IC内置熔丝的新方法。通过寻找实际测量结果和对应熔断熔丝之间的规律,将数量级为2^n的熔丝熔断分析缩减至n次熔丝熔断分析。这种做法使程序简洁而又逻辑性强.     

真空熔断器的发展及与其它类型熔断器的对比

文章描述熔断器，尤其是真空熔断器的发展方向及发展前途，并且与其它各类型的熔器例如限流式熔断器和喷射式熔断器进行了对比分析。     

双功能熔断电阻器

系统扼要地介绍在线路中对过负荷起保护作用，且具有通用电阻器功能的熔断电阻器的类型和要求，并提出熔断电阻器的发展方向。