粉末压片X射线荧光光谱法测定球团矿中各主次成分

采用粉末压片X射线荧光光谱法测定球团矿中的各主次成分,结合本公司的实际生产工艺和要求,通过优化制样过程中的各项参数,确定最佳的制样条件,选用具有一定梯度含量的自产球团矿样品用化学分析进行定值,而后绘制工作曲线对生产样品进行分析。经实际使用表明,本法测量准确度、精密度较好,所得分析结果与化学分析结果一致。     

X射线荧光光谱法分析锰铁

本文通过对X荧光光谱法测定锰铁中元素进行研究,试样采用粉末压片法制成,用国家标样和自制标样绘制工作曲线,取得了较好的效果.     

X射线荧光光谱法测定生铁块中杂质元素

应用荧光光谱仪分析生铁块中Si、Mn、P、S、As、Ti。该分析方法简便、快速,结果较为满意,适用于炼钢生产过程中的在线分析和质量控制。     

X射线荧光光谱法测定氧化锌粉中锌铁硫铜铅

以粉末压片方法自制样品,采用荷兰帕纳科Axios—PW4400型波长色散X射线荧光光谱仪一次测定氧化锌粉中的锌、铁、硫、铜、铅5种元素含量。试验测定结果与常规化学分析方法测定结果一致。分析结果准确、快速,成本低,适合湿法炼锌工艺系统中连续生产需要。     

X射线荧光光谱法测定钢水净化剂

采用粉末压片法制样，X荧光光谱法分析钢水净化剂（硅铝合金、硅铝钙钡、硅铝钡、硅钙线等）中的si、AL、ca、Ba、S、P，建立了较准曲线，使之测定方法简单、快速、准确。     

X射线荧光光谱法测定锰矿石成分

试样经熔融制成玻璃样片,用X射线荧光光谱法测定锰矿石中TFe、Mn等成分,通过条件实验找出最佳熔融条件和测定条件,测量结果与标样标准值、未知试样化学分析值对照表明,本法快速、简便、准确、可靠。     

用粉末压片X射线荧光光谱法分析三烧烧结矿

粉末压片X射线荧光光谱法（简称XRF法）广泛应用于钢铁行业生产原料的分析中，本文研究应用粉末压片XRF法分析三烧烧结矿的成分。     

波长色散X射线荧光光谱法测定氧化钼中主次成分

采用粉末压片法制取试样,波长色散X射线荧光光谱法测定氧化钼中的Mo、Pb、Cu、Fe、Si O2、CaO、K等7种成分。对仪器参数、基体干扰、曲线拟合进行了研究,试验了各成分的通道类型、晶体类型、探测器类型、管压、管流等分析条件后确定了最佳分析参数。选择了与试样基体相匹配的定值样品建立校准曲线,采取经验系数法对基体效应进行校正。对于主次量组分,相对标准偏差低于1%(n=11)。方法用于实际样品的分析,其荧光分析值与湿法分析值相符。方法能够很好满足氧化钼的主次成分分析。     

粉末压片制样—X射线荧光光谱法测定钼铁中的钼

本文介绍了粉末压片制样-X射线荧光光谱法对钼铁中钼含量测定的检测方法。文中采用钼铁样品与微晶纤维素、硬脂酸按一定的质量比混匀并细磨后采用硼酸镶边-衬底技术进行样品制备。选用生产用普通系列样品绘制标准工作曲线,在X射线荧光光谱仪上测定钼的含量。测量结果与钼酸铅重量法分析结果相符。     

X射线荧光光谱法测定锆钇粉体中的氧化钇

采用粉末压片法，用X射线荧光光谱法对锆钇粉体中氧化钇进行了测定，运用DJ数学模式进行干扰因素和基体效应的校正，其分析结果的精密度和准确度可满足生产分析要求。     

X射线荧光法测定高碳铬铁中的Cr、Si、P

应用X射线荧光光谱法测定高碳铬铁中的Cr、Si、P等元素的含量.通过选择合适的制样条件,确定仪器最佳参数,建立工作曲线,对高碳铬铁合金进行测定.结果证明,本法快速、准确、灵敏度高,能满足生产需要.     

粉末压片-X射线荧光光谱法测定深海富铁粘土中主次量组分

富铁粘土赋存于深海大洋的某些区域,目前缺乏富铁粘土相关标准物质和分析方法,实验利用台式X射线荧光光谱仪(XRF)结合压片法制样现场快速测定深海富铁粘土样品中的Na₂O、MgO、Al₂O₃、SiO₂、P₂O₅、K₂O、CaO、TiO₂、Mn、Fe、Cu、Zn、V、Sr、Zr、Ba、Pb和Y等组分。优化选择压力30 t和保压35 s的制样条件;采用多金属结核和富钴结壳、深海及近海沉积物国家标准物质以及定值深海富铁粘土样品绘制校准曲线, 解决了缺少富铁粘土标准物质的问题。对18个组分的测量条件进行了优化,使用经验系数法校正了主要成分SiO₂、CaO、Fe和Mn的基体效应。方法的检出限为3.67~1172μg/g。精密度试验结果表明,各组分测定值的相对标准偏差(RSD,n=7)在0.3%~2.2%之间。方法用于实际样品的分析,其分析结果与实验室采用其他方法的测定结果吻合,能够满足野外现场富铁粘土样品中多种组分同时快速分析的要求。     

X荧光光谱法测定除尘灰成分的实验研究

除尘灰含有少量金属铁和游离碳,不能直接熔融制成玻璃样片。采用灼烧的方式将样品进行预处理,再熔制成玻璃片,采用X射线荧光光谱法测定TFe等11种成分,通过条件实验找出最佳熔融条件和测定条件,测量结果与标样标准值、未知试样化学分析值对照表明,本法快速、简便、准确、可靠。     

粉末样品的粒度对压片-X射线荧光光谱法测定炉渣准确度的影响

压片-X射线荧光光谱法(XRF)测定炉渣的准确度常常受到粒度效应和矿物效应的影响。实验结合扫描电镜和能谱仪的检测手段,从宏观和微观的角度研究了炼钢精炼炉渣各组分在不同粒径范围的分布;对不同制备方法制得的粉末样品进行压片法和熔片法制片后采用X射线荧光光谱测定,并分析了检测结果产生差异的原因;借助ANOVA一元方差统计分析法,在0.16~0.088mm粒度范围内,讨论了粒度对不锈钢精炼渣、电炉渣、碳素钢精炼渣、电炉渣主成分的压片-X射线荧光光谱法结果的影响:同一样品的同一组分在不同粒度范围内所占份额不同,特别是氧化钙、二氧化硅、三氧化二铝、氧化镁尤为显著,以至影响样品的均匀性和代表性;当样品粒度研磨至0.16~0.088mm时,粒度影响不显著,压片法测定结果趋于稳定,可满足生产检验需求。     

粉末压片X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素

介绍了X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素的方法。研究了粉末压片法中助研剂丙二醇的选择和用量,考察了氧化铝粒度对X射线荧光强度的影响。试验表明,样品的粒度达到40 μm以下,粒度效应减弱;对于10.0 g氧化铝样品,加2滴丙二醇,研磨40 s,并用硼酸镶边垫底,制备的测量样片效果较好。用系列氧化铝标准样品作校准曲线,对样品中11个元素进行测定,其SiO₂、Fe₂O₃、Na₂O、K₂O、CaO、Ga₂O₃、ZnO测得结果的相对标准偏差（RSD）均小于8.0%,P₂O₅、TiO₂、V₂O₅、Cr₂O₃的含量在3倍检出限以上,RSD小于10%,含量在3倍检出限以下的RSD小于17%。用氧化铝标准样品验证,测量结果与标准样品的认定值基本一致。     

压片制样-X射线荧光光谱法分析铁矿石中钾钠锌

在高炉炼铁过程中,入炉料铁矿石中钾、钠、锌3种元素会与高炉耐火砖发生反应,严重时会使耐火砖砖体破裂,影响高炉生产。为保证炼铁高炉稳定顺行,需要对铁矿石中钾、钠、锌3元素快速、准确测定。实验将试样研磨过200目(74μm)筛,压样机压力30t,保压时间30s,应用压片制样-X射线荧光光谱仪(XRF)测定铁矿石中钾、钠、锌3种元素。对同一铁矿石试样进行精密度测试,钾、钠、锌3种元素测定结果的相对标准偏差(RSD,n=11)为1.3%、1.5%、2.8% 。对铁矿石标准样品进行分析,测定值与认定值一致,相对误差在允许范围内。     

x射线荧光光谱仪测定烧结矿组分

叙述了应用x射线荧光光谱仪测定烧结矿中的TFe、CaO、MgO、SiO2、Al2O3、S。通过对其影响因素进行理论分析和试验研究,确定了最佳测定条件,有效满足了实验方法分析标准的要求。该方法具有快速、准确、精度高、成本低等优点,能及时为生产部门提供准确的参考依据,有力促进了炉况调剂,实现了高炉长周期稳定顺行。     

X射线荧光光谱法测定石灰石中多组分含量

采用粉末压片法制样,建立了X射线荧光光谱法测定石灰石中10种组分(CaO、SiO₂、MgO、Fe₂O₃、Al₂O₃、MnO、TiO₂、K₂O、Na₂O、SrO)含量的方法。通过试验确定石灰石样品粒度达到74 μm以下,3.00 g样品称样量,30 t压力压片的制样条件。试验发现,压片时利用硼酸镶边和硼酸衬底,不另外添加粘结剂可解决样品粘结问题;利用经验α系数法校正基体效应,校正后校准曲线的离散度较小,有效地消除了重叠谱线干扰。各组分的检出限在0.47~188.08 μg/g之间。对石灰石试样进行精密度考察,各组分含量的相对标准偏差(RSD)在0.042%~5.7%范围内;对石灰石标准样品进行分析,各组分的测定值与认定值相符。方法满足进出口商品检验工作对效率和准确度的要求。     

X射线荧光光谱法测定贵金属含量的不确定度评定

依据GB/T18043-2013对金项链含金量进行测定,考虑标准物质、测量重复性、样品均匀性、标准曲线线性等因素对X射线荧光光谱法测定贵金属含量的不确定度进行评定,结果表明测量重复性所产生的不确定度所占分量最大。本文采用的评定方法,能够广泛运用到贵金属含量检测。