低能γ光子及射线在透射金属箔方向激发的次级X射线

采用Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线探测系统，以透射法测量了＾２４１Ａｍ和＾２３８Ｐｕ放射源的低能γ光子和Ｘ射线在透过不同厚度的Ｆｅ和Ｃｕ箔时激发的次级Ｘ射线相对强度的变化，实验结果表明，激发产生的Ｘ射线相对强度在实验样品厚度范围内随箔厚的增加而增加，在高原子序数材料中将产生更多的特征Ｘ射线，各次级Ｘ射线的强度与箔厚形成方式以及激发源的活度，能量有关，最后对实验结果的物理机制进行了初步探讨。     

低能γ射线和X射线在几种金属薄膜中产生的次级辐射效应研究

对电子,低能γ射线和Ｘ射线穿透几种不同厚度的Ｆｅ,Ｃｕ和Ｔａ薄膜时所产生的次级电子及次级Ｘ射线进行了实验测量,并对影响次级电子和次级Ｘ射线强度的因素进行了分析。     

X射线及低能γ光子在金属箔透射面的光致电子发射产额

采用改进的密立根光电流测量法,在透射方向测量了＾２４１Ａｍ放射源的Ｘ射线及低能γ光子在透过不同厚度的Ａｌ、Ｆｅ、Ｃｕ、Ｔａ及Ｗ箔时光致电子发射的产额。结果表明：光致电子发射产额在样品厚度范围内随箔厚的增加而减少;在高原子序数材料中将产生更多的光致电子发射。提出了“射程层贡献”模型,以该模型为基础建立的计算方法所得结果与实验值间相对误差平均约为１０％。     

荧光X射线参考辐射的优化

在荧光X射线参考辐射场中,射线的强度和纯度会受到机械装置本身、辐射体厚度、次级过滤厚度、X光机管电压的影响。在优化设计参考辐射装置结构的基础上,通过理论分析计算和蒙特卡罗模拟,得到荧光强度和纯度随辐射体和次级过滤厚度的变化,并对X光机管电压对荧光强度和纯度的影响进行了测量。结果显示:F-Cs这一辐射质,当辐射体Cs2SO4的厚度大于490μm时,荧光强度达到饱和;当次级过滤Te O2的厚度约为327μm时,荧光纯度最高;荧光强度随X光机管电压的升高而增加,纯度随管电压的升高而降低。     

防护水平低能X射线次级标准电离室的研制

用具有优良导电性能的碳纤维材料经环氧树脂固化制成壁厚０．３６ｍｇ／ｃｍ￣２、直径为１９５ｍｍ的大体积球形电离室。电离室机械强度好、体积稳定、对低能Ｘ射线能量响应好、灵敏度高，它不仅可作为防护水平低能Ｘ射线次级标准实验室的参考电离室，而且也适用于照射量率的现场测量。     

样品颗粒度对X射线荧光强度影响模拟方法研究

通过MCNP软件建立均匀颗粒的面心立方最密堆积模型,以硫酸铜-锌组合样品为例,研究样品在X射线激发下的荧光强度随颗粒大小的变化情况。采用研磨方法制备不同颗粒度的无限厚样品并进行实验,以验证建模方法的正确性;在此基础上研究颗粒度效应对有限质量厚度样品荧光强度的影响。结果表明,自然状态的无限厚硫酸铜颗粒样品的荧光强度随颗粒尺寸增加而下降,变化程度小于统计涨落,与相同条件下的模拟结果基本一致;在质量厚度相同的情况下,样品颗粒尺寸增大,铜-锌荧光强度之比减小。     

透射式特征X射线测厚技术实验研究

介绍了特征X射线的测厚原理、测厚系统组成及数据处理方法,并利用铜和铁的特征X射线对纸张厚度进行了实验研究;当被测量纸张的厚度从7.2mg/cm2到43.2mg/cm2时dm与In Ⅰ曲线的相关系数达到0.999以上,测量相对误差在2%以内.     

X射线荧光分析的α系数法校正

X射线荧光分析中对厚靶基体的吸收增强效应必需进行校正。α系数法是应用得很广泛的一种校正方法。本文在Lachance-Traill数学模型的基础上增加了待测元素对其自身的特征X射线荧光强度影响的校正项。 假定某样品的基体中含有N种元素,它们的含量及X射线的相对强度分别为C_1,C_2……C_N及R_1,R_2……R_N,其中第i种元素的含量可根据下列半经验公式计算     

凸度仪X光机参数设置有效性的实验验证

X射线板带材凸度检测系统采用双X射线源和双排充气电离室探测器,对热轧生产线上的钢板进行厚度和凸度等参数的检测,X射线的能量和强度是决定钢板测厚精度的重要因素。为了保证测量精度,本文依据国标GB/T15636—2008假定由统计涨落引入的测厚误差应小于±0.06%,在X光机管电压为180kV、电流为11mA的情况下,从理论上估算了满足以上精度探测器输出的最大相对标准偏差,通过实验对测厚范围内的钢板进行测量,计算出各路探测器输出在不同厚度钢板时的相对标准偏差。实验结果表明,在满足系统测量速度的情况下,通过对几个原始数据进行平均,可使统计涨落小于理论估算值。X光机设置的管电压和管电流参数满足测厚精度的要求。     

部分种子成分的特征X射线在等效生物材料中衰减的测定

用Ｓｉ（Ｌｉ）探测器实现了Ｎａ、Ｍｇ、Ｓ、Ｃｌ的特征Ｘ射线在有机膜中的相对衰减以及与Ｏ、Ｋ元素的特征Ｘ射线能量相当的Ｘ射线或轫致辐射在有机膜中的相对衰减，分别得出了它们减的数学描述，并把实验得到不同能量的Ｘ射线在有机膜中的质量吸收系数与Ｂｅｒｋｅｌｅｙ的ＯＣＧ软件计算出的结果相比，相关都小于３０％。     

硬X射线微探针及其应用

系统介绍了硬Ｘ射线的各种聚焦方法和在世界上各大同步辐射实验中的应用,以及硬Ｘ射线微探针的主要应用领域。     

经软X射线辐照的InP的表面损伤态

采用Ｘ光激发光电子能谱对经同步辐射软Ｘ光辐照的ＩｎＰ表面进行了分析。实验结果表明：ＩｎＰ表面辐照损伤与辐照Ｘ光的能量及剂量有关,尤其是具有近Ｐ原子Ｋ壳层共振吸收能量的软Ｘ光辐照与其它Ｘ射线辐照相比,其结果有所不同。文中就实验结果的机制进行了初步探讨。     

pMOS场效应管的X射线和低能强电子束的瞬态电离辐照效应

对电离辐照敏感的厚氧化层ｐＭＯＳ场效应管进行了Ｘ射线和低能强流电子束的瞬态辐照实验；通过对阈电压漂移的跟踪监测，研究了ｐＭＯＳ场效应管的瞬态电离辐照效应。运用辐射感生氧化物、界面缺陷模型并结合ＭＯＳ器件寄生二极管等效电路模型解释了实验结果。     

X射线参考辐射装置固有过滤层厚度的测量

固有过滤层厚度是X射线参考辐射装置的重要性能参数之一,需要进行定量测量。本研究以新版本ISO 4037-1标准规范为依据,以N系列辐射质（N-20~N-350）的X射线参考辐射装置为例,通过PTW30013电离室测量不同尺寸次级光阑下的辐射野,建立符合要求的实验环境。结果表明,采用半值层法测量得到该参考辐射装置的固有过滤层厚度为0.122 mm Al;通过增加铝过滤片厚度得出N-40~N-350辐射质下4 mm Al等效固有过滤层厚度;利用单质铝金属和铍金属在不同能量下质能衰减系数的转化关系,得出N-20~N-30辐射质下1 mm铍的等效固有过滤层厚度。本研究结果可为X射线参考辐射装置固有过滤的测量提供一定的参考。     

北京同步辐射软X射线装置与软X射线探测器标定

简单介绍了２套北京同步辐射软Ｘ射线装置，主要用于软Ｘ射线光学元件测量和软Ｘ射线探测元，器件的标定，给出了软件Ｘ射线装置上计量标准和探测器标定方面的研究结果。     

Ar16+与Zr作用产生的X射线谱

本工作对超导离子源(SECRAL)上的10～20 kV/q Ar16 和Ar17 入射到金属Zr表面进行实验研究.实验结果表明,高电荷态Ar16 在金属表面存在着多电子激发过程.Ar空心原子的K层发射X射线强度随入射离子的动能减少,靶原子Zr的L壳层发射X射线强度随入射离子动能的增加而增强.Ar17 单离子的Kα-X射线产额比Ar16 单离子的Kα-X射线产额大5个数量级.     

适用于轻便型X荧光仪的微型低功率X光管激发源

本工作研制了微型低功率Ｘ光管激发源，它的射线活度高，射线能量可调，检出限比放射源改善几倍；关掉电源和无射线产生，使用和携带安全方便，体积小，重量轻，功耗较低，适用于野外现场。     

用X射线荧光分析技术甄别金制品和镀,包金赝品

从理论上阐述了把Ｘ射线荧光分析和低能伽玛射线散射结合起来甄别金制品和镀，包金赝品的可行性，并在实验中进行了验证。这一方法适用于镀，包层厚度在７０μｍ以下的各种重金属覆盖样品。     

双能X射线骨密度测量中的X射线源

阐述了双能量Ｘ射线骨密度测量中使用的Ｘ射线源,介绍了产生双能量Ｘ线的两种方法,即Ｋ边过滤器法和高压切换法。重点介绍Ｋ边过滤器法的组成,特点和优点,并对这两种方法作了比较。     

低杂波电流驱动下HT-7超导托卡马克等离子体硬X射线辐射研究

用７个ＮａＩ（Ｔｌ）闪烁探测器组成的阵列观测能量范围在２０－５００ｋｅＶ,来自ＨＴ－７托卡马克等离子体的硬Ｘ射线轫致辐射。实验结果显示,硬Ｘ射线的径向辐射强度分布与低杂波的功率谱和等离子体的密度及磁志强度等放电参数密切相关。通过测量不同放电参数下硬Ｘ射线的径向强度分布,研究低杂波在等离子体中传播和吸收机制。