从GSM到TD-SCDMA飞思卡尔实现无线射频器件的突破性技术

无论是对于GSM/EDGE还是TD-SCDMA基站的设计,RFIC的性价比是否优秀都对整个系统的成本与性能具有重要的影响,如何能够选择到合适的射频器件也是通信设备制造商所一直关心的问题.飞思卡尔在RFIC产品方面具有业界领先的优势,产品线涵盖1 GHz,2 GHz,3.5 GHz以及各种通用功率放大器等,凭借对于客户需求的了解,飞思卡尔的这些产品正在为全球的通信设备制造商的产品设计提供着前所未有的技术体验.     

从GSM到TD-SCDMA飞思卡尔实现无线射频器件的突破性技术

无论是对GSM／EDGE还是TDSCDMA基站的设计，RFIC的性价比是否优秀都对整个系统的成本与性能具有重要的影响，如何选到合适的射频器件也是通信设备制造商一直关心的问题。飞思卡尔在RFIC产品方面极具优势，产品线涵盖1GHz、2GHz、3．5GHz以及各种通用功率放大器等。     

表贴封装的射频器件的低成本测试方法研究

本文介绍的表贴射频器件为无引脚器件,通常利用底部焊在PCB板上使用。在研发和生产过程中,当频率要求比较高的情况下,很难对其进行非焊接条件下的高精确度测试。本文提出了一种廉价、准确的测试方法,并通过HFSS仿真设计了一种以弹针为接触介质的测试方案。该测试方案的射频通道的驻波典型值为1.15,插损小于0.6dB,可以满足频率低于12GHz的射频测试需求。同时该测试方案接触可靠且廉价,也可用于表贴器件的电老炼。     

射频器件测量的校准技术研究

射频微波元件在使用矢量网络分析仪(VNA)进行S参数测量时,往往需要引入夹具以连接微波元件和VNA两端的线缆。但是这个过程不可避免的引入了导体与地之间的自有电容以及导体与导体之间的互有电容的耦合误差。为了去除这些误差对测试的影响,本文使用了不同的校准技术,如直通-反射-线(TRL)、双延时(Double-L)、直通-反射(TR)来去除这些误差。实测结果表明：直通-反射-延时线(TRL)的幅度和相位与官方手册结果一致,三种校准技术均有较高的精度,但直通-反射-线(TRL)比双延时(Double-L)、直通-反射(TR)应用范围更广。     

WLAN设备射频测试技术分析

阐述了市场运用WLAN技术终端产品的测试技术、方法,及其物理层测试对WLAN终端产品广泛互操作性能的重要意义和实际应用中的影响。     

挑战现有测试技术的SoC器件

随着先进的集成电路(integrated circuit简称IC)设计思路和高密度工艺技术的实现，半导体制造厂商能够创建出系统级芯片(system-on-chip简称SOC)器件，在该器件内不同种类的数字和模拟电路核心被集成在非常微小的尺寸上面，发挥着各自的功能。然而，不管从先进的设计和功能实现上所获取的收益如何，制造厂商在将这些复杂的器件转化为大批量快速生产和实现良好性能价格比的时候，所面临的挑战也是非常大的。当采用传统的测试技     

新型高功率射频器件的应用

1前言 自贝尔实验室物理学家Shockley、Bardeen和Brattain发明晶体管以来,这一小小的固态器件不断取得进展：在各种半导体和制造技术中它的影响举足轻重,在曾经停滞不前的发射管领域开拓了越来越多的应用。     

用表面贴装器件进行原理性测试

很多工程师和技术人员常常选用双列直插器件进行电路的原理性能测试,现有的做法是在带有过孔的玻璃纤维板上插入集成电路,使用绝缘导线点对点连接起来进行性能测试。然而,最近十年随着表面贴装技术(SMT)的快速发展,很多新型IC只提供表面贴装形式。在使用表面贴装器件进行测     

微波器件射频动态老化系统

在微波器件应用领域不断扩展的趋势下,对微波器件可靠性的要求也在日益提升。在评估微波器件的可靠性时,射频动态老化试验是非常重要的一个试验。试验系统的实用性、经济型和可靠性对评估的准确性和安全性有着直接的影响。文章将微波混频器作为研究对象,搭建了射频动态老化系统,提高了电路系统的稳定性。实践证明,利用此系统可以更好地完成微波器件的老化过程,相较于静态老化系统有了显著的改进和提升。     

采用低成本射频器件实现医疗保健网络

由于医疗保健费用的持续上升,政府开始着力寻找新的、更有效的方法来预防和治疗疾病.为此本文提出了一个基于超低成本、低功耗的射频器件的解决方案.     

使用移动电话更小、更省电的射频器件新技术

随着移动通信技术的飞速发展,人们对移动通信终端的要求也越来越高,尤其是在终端的体积、重量及耗电等方面的高要求,对移动通信器件提出了挑战。为了满足移动电话小型化、低耗电的要求,在关键的射频器件中越来越多地采用了半导体新技术。本文以影响移动电话体积和耗电的关键部件双工器和功放为例,介绍先进的FBAR和E-PHEMT技术原理及在射频器件中的应用。     

PWM器件的量产测试方案

本文介绍了主要的PWM器件分类,并在此基础上,重点介绍了基于STS8200平台的PWM器件量产多工位并行测试解决方案,以及并行测试中的注意事项。     

WiMAX射频测试浅析

根据WiMAX参数，射频测试主要是对WiMAX技术的物理层的关键指标和性能进行评估和验证，一般按照基站侧和终端侧进行区分，并且在每一侧都分别对发射机和接收机进行测试。具体而言，射频参数测试中的核心内容通常包括接收机的灵敏度、CP值、帧定时；发射机的循环前缀与符号定时、调制与编码、频谱平坦度、功率控制、相对星座图误差、频谱模板等内容。需要注意的是，射频参数测试不仅应该参考WiMAX认证中RCT文档的要求，而且，对于发射机的功率要求、杂散等具体的地区性指标，还需要符合所在地区无线电管理部门的规定，即一般所说的要通过频率核准的测试。     

射频测试仪器应对WiMAX测试挑战

移动WiMAX带来的测试挑战 WiMAX是当前世界上最复杂的调制方式之一,它在一种非常强大的多功能系统中融合了多种技术,其中包括,带宽超过20MHz,可配置2000个以上的副载波,具有很高的峰-均功率比,同时支持SISO和MIMO射频配置结构。这种复杂性增大了制造商面临的测试挑战。吉时利（Keithley）仪器公司,     

用于消费类器件测试的解决方案——Sapphire D-10

消费类电器及产品的制造商通过提高产能应对客户的需求。现在的便携电子产品需要更长的电池寿命；电话、PDA整合多种功能；玩具和游戏要求更好的图象质量和操作性能；基于铝铁等金属的汽车也与现代电脑结合得愈来愈紧密。这些多元化的应用驱使IC需求在未来三年内急速增长（IC insights 2005）。     

用于射频无线通信的MEMS器件

无线通信的发展已成为推动半导体工业发展的真正动力，许多半导体公司为了在这一领域占有一席之地正大力开发微电机械系统(MEMS)。实现目标的途径之一是设计出可集成无源器件的方法，这些器件占当今无线手机中所用器件的70％。研究人员目前正努力开发芯片集成技术，MEMS技术便是其中的重要组成部分。MEMS已用于开关、滤波器、局域振荡器、可调电容器及高品质因数电感线圈等。制作这些器件的光刻条件与那些标准的在极端复杂的表面上进行的半导体制造工艺大相径度。本文讨论了制作这些器件的难点以及一些经证明可以满足要求的制作方法。     

5G射频元器件测试平台和技术

随着5G产业的全面发展,5G时代的新需求也给国内射频产业链带来了快速发展的机会,5G基站的建设、智能手机、可穿戴智能设备的应用以及其他5G物联网移动终端的制造需求将拉动5G射频元器件市场大幅增长,与此同时也带来了大量5G射频元器件的射频参数测试工作。本文基于矢量网络分析技术,针对微波功率器件特殊的封装形式,分析了测量夹具引入误差的不可忽略性;研究5G射频元器件测试技术,通过研制测试板、夹具和校准件,对射频放大器、下变频器和射频前端进行了测试,并验证了放大器、滤波器的射频参数,得到了较好的预期测量结果。本研究通过试验数据表明了测量夹具误差去除前后对测量结果的影响,对微波功率器件的测量具有一定的参考价值。     

广播发射台的射频测试

发射台的安装、维护和故障排除既复杂又费时间。必须采用许多测试方法，以确保发射机的正常工作。有些测量是用校准发射机，使其保持最佳运行。