铬铁矿砂中主要成分的X射线荧光光谱法测定

使用日本理学 3 0 80E3型X射线荧光光谱仪 ,采用粉末直接压片和理论α系数法校正基体效应的方法 ,建立了铬铁矿砂样品中Cr2 O3 、TFe、SiO2 、MgO、Al2 O3 、CaO组分的快速测定方法。研究了制样条件 ,克服了粉末样品的颗粒效应 ,用内控标样制作标准曲线 ,分析结果的精密度和准确度不低于化学法     

X射线荧光光谱法测定铁矿石中4种成分

试验了X射线荧光光谱法测定铁矿石中TFe,Si,Ca,Mg含量的方法。试验通过调整助熔剂四硼酸锂和铁矿石试样使用量的方法,对铁矿石试样进行荧光光谱分析。结果表明:通过降低四硼酸锂和铁矿石使用量的方法,可以准确地测定铁矿石中TFe,Si,Ca,Mg。分析结果误差符合国家标准,并可以降低分析成本19%。     

测定轻元素配位状态的X射线荧光光谱法及其应用

一些轻元素(Z≤30)配位状态的变化对其材料(如玻璃和催化剂)的化学和物理性能有着直接的影响,而X射线荧光状态分析法近十年来得到了较大的发展,是测定轻元索配位状态的一种较为简单和有效的方法。本文对这一方法的原理、数据处理、实验技术以及应用作一系统的介绍。     

钛合金的X射线荧光光谱分析

本文介绍了X射线荧光光谱法分析钛合金中铝、铌、钼、钨、钒、镍、铒、锰、锆,α系数校正基体效应。样品酸溶后灼烧转化成氧化物,四硼酸锂熔融制样。利用NBSGSC程序计算熔融片体系的理论α系数,输入PW1404X射线荧光光谱仪X40软件内,采用D-J校正模式准确计算出经基体效应校正后各元素的浓度,相对均方偏差小于1%。本方法适用于成份及含量多变的钛合金材料的分析,也适用于大量生产的几种钛合金材料(TC1,TC2,TC3,TC4,TC11)的分析。     

X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖的主次成分

利用高温熔融制备硅石、硅砖样品,应用X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖中SiO2、A12O3、CaO、MgO、Fe2O3等主次成分的百分含量。通过国家标准物质和合成校准样品制作校准曲线,研究了熔剂的选择及其与样品的稀释比例,脱膜剂加入量对制样重现性的影响,探讨了采用差量法计算所得的结果的准确性。试验结果表明:该方法的测定值与标准认定值一致,相对标准偏差小于5%,满足了硅石中常见组分快速分析的要求。     

X射线荧光光谱法测定高密度钨合金中铁和镍

采用氧化、熔融对样品进行处理,以X射线荧光光谱法测定铁、镍含量。经过LiF220晶体分光,用闪烁计数器对铁、镍进行测定。铁、镍工作曲线线性良好,相关系数均为0.9999,检出限分别为0.004%和0.008%;与人工配制标样理论值比较,铁、镍测定的绝对偏差小于0.10%;RSD分别为0.78%和0.71%。方法简单、快速、准确,可用于高密度钨合金中铁和镍的测定。     

钛合金中稀土元素钆,铒的X射线荧光光谱法分析

一、前言钛合金研究者根据性能的需要在TC4钛合金中添加1%以下的稀土元素铒。在含铝、硅、钼、铌、锆、钨、镓成分的耐热钛合金中加入1%以下的稀土元素钆。因必须     

用X射线荧光光谱法测定硅铁及硅镁铁合金中的主次量元素

采用低压聚乙烯镶边垫底粉末压片法制样，用日本理学３０８０Ｅ３型Ｘ射线荧光光谱仪直接测定硅铁及硅镁铁合金样品中的Ｓｉ、Ａｌ、Ｃａ、Ｆｅ、Ｍｇ、Ｍｎ、Ｃｒ、Ｐ、Ｔｉ、Ｔｈ１０种元素的含量。研究了制样条件，用冶金部标样配制标准系列，用经验系数法校正元素间的影响。     

X射线荧光光谱法测定冰晶石各元素含量的研究

采用粉末压片,硼酸镶边垫底的制样方法,用波长色散X射线荧光光谱仪测定冰晶石中的F、Al、Na、SiO2、FezO3、SO42-、P2O5、CaO等8个成分.本法分析速度快,测量精密度好,测量结果与化学分析结果相符.     

含锡铜基钎焊材料中铟的纸上薄样X射线荧光光谱测定

含锡铜基钎焊材料中铟的加入对降低焊温、提高焊接性能有很重要的作用。含量为x%的铟的测定可以采用结晶紫、双硫腙及二-2乙基磷酸等比色法,也可以采用     

X射线荧光光谱法测定碳化钨粉中钽、铌量

碳化钨粉是生产硬质合金的主要原材料,碳化钨粉中钽、铌含量是一个重要的成分指标,通常采用化学重量法、原子发射光谱法(AES)分析。本方法采用经典的压片制样法,将碳化钨氧化成三氧化钨混合磨匀,以消除颗粒效应,在无合适含钽、铌的碳化钨及三氧化钨标样情况下,采用在三氧化钨基体中加入钽、铌标准溶液的方式配制标样,采用变动的理论α影响系数法校正基体效应,建立了X射线荧光光谱仪(XRF)测定碳化钨粉中钽、铌含量的分析方法。校准曲线在钽质量分数0.005%~1.0%范围内相关系数为0.999,铌质量分数0.005%~1.0%范围内相关系数为0.999,方法加标回收率95.8%~104.0%,相对标准偏差(RSD,n=7)小于3.6%,分析结果同原子发射光谱法(AES)、化学重量法一致。     

X射线荧光光谱在铝矿石赤泥组分分析中的应用

文介绍X射线荧光光谱在铝矿石，赤泥等材料组分分析中的应用。采用熔融玻璃片和粉末压片法制样，用理论α系数和散射线内标法校正元素间的效应。使用PW2403x射线光谱仪对样品中的Al2O3、SiO2、Fe2O3、TiO2、K2O、NB2O、CaO、MgO、P2O5、灼减、MnO、S、Pb、Zn、Sr、Zr、V、Ga、Cr等19个元素进行测定，其分析结果的精密度和准确度可与化学法相媲美。     

X射线荧光光谱法测定Au—Ag—Cu合金中的各元素

Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ虽同为ＩＢ族元素，但它们被激发后所产生的特征图谱却各不相扰，能够一次笥连续测定。此方法具有快速高效、操作简便和稳定性好的特点，适用于厂矿企业炉前分析和中间产品控制分析。     

锰矿中主次成分的X射线荧光光谱法测定

介绍了熔融制样X射线荧光光谱法(简称XRF)测定锰矿中TMn、TFe、SiO2、Al2O3、CaO、MgO、TiO2、P2O5、K2O等常见组分的分析方法。对试样进行烧损校正,采用国家标准物质和以国家标准物质为基体制备校准样品,建立了基体校正后的校准曲线,并探讨了熔剂体系、稀释比例、氧化剂、脱模剂对熔融制样精度的影响等因素。以四硼酸锂为熔剂、硝酸铵为氧化剂、碘化铵为脱模剂,采用1:12.5的稀释比例高温熔融制样、XRF测量锰矿中主次成分,满足了日常生产快速分析的需要。     

X射线荧光光谱法在萤石测定中的应用研究

采用四硼酸锂-偏硼酸锂为混合熔剂,以高温融片的制样方法,用波长色散x射线荧光光谱仪测定萤石中的CaF、SiO、FeO、S、P、KO等成分。本法操作简便快速,测定精密度高,结果与化学分析法一致。     

X射线荧光光谱法测定镁砂及其矿物原料中主次成分

介绍了以国家标准物质作为参照物,采用熔融制样X射线荧光光谱法进行镁砂及其矿物原料(镁石、菱镁矿)中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、MnO、P2O5含量测定。讨论了熔融制样采用的熔剂体系、样品与熔剂的稀释比例、融熔制样的温度和时间对制样精度及测量准确度的影响。探讨了镁石、菱镁矿等碳酸盐样品烧损量对测定结果的影响和校正方法。方法各元素的精密度(RSD)在0.17%～3.44%(n=10)间,实验表明:所得分析结果能够满足镁砂中常见组分快速分析的需要,且方法的精准度和分析速度优于现行的湿法化学分析法。     

理论α系数在钡玻璃X射线荧光光谱中的应用

用Ｘ射线荧光光谱测试了特种钡玻璃中的Ｓｉ，Ａｌ，Ｓｒ，Ｚｒ，Ｂａ，Ｎａ和Ｋ七种元素。采用熔融法制样，用人工标样作为校正标准，ＤＲＡＬＰＨＡ软件计算理论α系数，ＣＱ方程校正元素间的吸收增强效应。结果表明，与经验α系数校正法相比，理论α系数法的测定结果与化学分析法的测定结果更为一致