氦质谱检漏仪的进展及应用

随着科学技术的发展,氦质谱检漏仪及其应用技术也在不断的发展和完善。一方面,检漏应用技术不断对检漏仪提出新的要求,迫使仪器自身更新;另一方面,检漏技术也在随时随地补充现有检漏仪在应用过程中存在的某些不足,因此两者的关系是相互补充、相互促进的。     

947型氦质谱检漏仪故障分析

扼要介绍947型氦质谱检漏仪的工作原理、故障原因及排除。     

JLH-1型氦质谱检漏仪

由于当代高真空技术的迅速发展,特别要求在金属真空容器内保持极低的压强,因此必须对真空系统设备的连接、各种真空容器和管道等进行密封试验,以消除一切可能存在的漏隙。因此在很多场合下普遍需要一种灵敏度较高的检漏仪器,来探知真空系统上极其微小的漏孔。福州无线电厂已试制成功一种 JLH-1(仿ПТИ-4А)型的氦质谱检漏仪,它是一可移式的、用氦气作探测气体的小型磁偏转质谱仪,可用于寻找金属真空系统任何部分的微漏,是一种重要的仪器。     

氦质谱检漏仪与氟油平台在元器件检漏中的应用

本简要介绍拟质谱检漏仪和氟油平台的工作原理及其在元器件检漏中的应用。     

基于虚拟仪器的氦质谱检漏仪监控系统设计

基于虚拟仪器技术,使用LabVIEW开发平台,设计了应用于氦质谱检漏仪的监控系统。利用计算机、数据采集卡和单片机,实现了数据存储功能,达到了自动控制检漏仪部分动作的目标。该系统提高了氦质谱检漏仪的自动化水平,提高了真空系统检漏的效率。     

小型双极氦质谱检漏仪的研制和制造

本文扼要介绍自行设计的XH-701型双极氦质谱检漏仪的原理、特性、使用情况以及校正和存在的问题。也谈到制造中的一些情况。     

基于氦质谱检漏仪下的检漏技术研究

本文介绍氦质谱法真空箱检漏技术的原理,以及在工业产品泄漏检测的实际应用效果,同时提出了提高检测限的方法途径。     

氦质谱检漏仪灯丝脆断故障的研究与解决

对氦质谱检漏仪灯丝进行研究,明确了灯丝脆断的原因,提供了一种灯丝自制方法,及核算方法和误差分析法,指出延长灯丝寿命的措施。     

用ZLS-23氦质谱检漏仪装成的多用途检漏系统

ZLS-23型氦检漏仪是成都仪器厂的新近产品,该产品具有灵敏度高、操作方便、不需用冷却系统(只用液氮)就能方便的进行检漏,根据该产品说明书所述,其灵敏度可达5×10~(-10)～1×10~(-12)乇升/秒,因此使用该检漏仪作电真空器件及其他零件的检漏是一台比较理想的仪器。由于成都仪器厂出品的ZLS-23型氦质     

冷钛泵在氦质谱探漏仪中的应用

本文介绍了一种对氮质谱探漏仪进行改进的方法。实验证明,在真空系统中接入一只冷钛泵,能使灵敏度提高1～1.5个数量级,即从4.3×10~(-9)托·升/秒提高到4.9×10~(-11)托·升/秒,并使探漏时间有所缩短,从而提高工作效率.     

无损氦质谱检漏

用于集成电路的管壳,除在散热、电气性能和机械强度等方面应满足器件要求外,还要求尽可能密封。对气密性封装来说,密封性通常是可以保证的。然而由于零部件质量或工艺操作等种种因素,个别器件往往出现漏气。这种漏气的器件,在使用过程中由于周围气氛的侵入,从而引起器件性能的劣化甚至完全失效。从而大大降低了产品的可靠性水平。通常采用对器件100％进行潮湿试验的办法,淘汰因气密性不好而早期失效的器     

QFD在电子产品设计中的应用

随着人们对质量要求的不断提高,QFD在工业生产中的应用也越来越广泛,为了更好地满足社会对产品的需求,将QFD应用于某企业蓝牙耳机的生产中,通过质量屋的建立,运用QFD理论中的方法对其进行设计,确定出该企业蓝牙耳机的改进目标。     

仿真技术在电子产品设计中的应用

本文就通过仿真技术在电子产品设计中的应用发展和趋势进行分析,为电子仿真技术的应用发展提供一定的措施。旨在为我国的电子产品的设计发展起到很好的促进作用。     

粉末涂料在电子产品涂装中的应用

粉末涂料静电喷涂是近年发展起来的一项新材料、新工艺。其工艺流程简单、无污染、材料利用率高。涂层具有高厚度、手感好、色彩鲜艳的特点。是国家经委、电子工业部要求在“七五”计划期间大力推广应用的重点新工艺项目。我厂通过一段时间的研究试验,已成功地把粉末涂料静电喷涂技术应用于电子产品外壳涂装。提高了产品外观质量和竞争力,取得了良好的经济效益,有效地治理了环境污染。本文结合电子行业的特点,对粉末涂料静电喷涂的工艺特点、原理和操作流程作较详细的介绍,并以试验数据和实践效果论证其应用于电子行业涂装工艺中的可行性和实用价值。     

仿真技术在电子产品优化设计中的应用

随着电子产品的高速发展,采用EDA软件进行电路仿真与设计已成趋势。针对电子产品设计方法的不断更新,讨论了电子产品的最优化设计。以低通滤波电路设计为例,借助AltiumDesigner软件,对设计电路的直流工作点、瞬态过程、交流小信号、参数扫描等进行了详细分析。实验结果表明:实际设计电路的响应与仿真结果吻合,说明该方法可缩短新产品的开发周期,提高电子产品的设计效率与质量,有利于改进产品的可靠性。     

低温容器的氦质谱检漏

分析了大、小型低温容器的氦质谱检漏的各自特点及应注意的问题,讨论了部分国产氦质谱检漏仪的应用特点。     

氦质谱检漏试验方法分析

从电子元器件气密性封装的原理入手,介绍了常用的检漏试验方法,阐述了美军标MIL-STD-883氦质谱检漏试验方法的最新发展,分析了积累氦质谱试验方法的特点及要求,并探讨了基于氦气交换时间常数τHe的氦质谱检漏思路。     

半导体器件的无损氦质谱检漏

自本刊1973年第3期发表《无损氦质谱检漏》一文以来,陆续收到一些兄弟单位来信询问有关半导体器件检漏问题,现经从事此项工作的同志们将上文讨论、修改、补充之后再行发表,以解答读者提出的一部分问题。我们这方面工作做得很不够,望各兄弟单位批评帮助。