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NexFET:一种高可靠与高性能的低压功率DMOSFET 总被引:1,自引:0,他引:1
本文介绍一种具有高性能和高可靠性的新型低压功率MOSFET——TI公司的NexFETTM,它将一种高可靠、高性能的RF LDMOSFET与齐纳二极管组合。基于MOSFET结构的RF LDMOSFET将品质因数(Ron*Qg)改善两倍。一个纵向集成的齐纳二极管钳制峰值开关节点电压的尖峰形成,从而使MOSFET免受击穿。 相似文献
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Ron Mancini 《电子设计技术》2005,12(9):86-86
最近常常在讨论齐纳二极管电压参考的作用与优势。尽管齐纳二极管是一种既稳定又精确的电压参考,但它们也要求高偏置电压(通常最小为8V)。这种高偏压要求将大多数齐纳二极管参考排除在源电压为5V(或更低)的电路以外。尽管能使用低偏压齐纳二极管,但其温飘会使其不能用于精密应用中。所有半导体结构都具有对温度敏感的基本电路,因此任何半导体参考都必须采用某种形式的内置温度补偿。齐纳二极管参考即采用内部串联二极管来进行温度补偿。基一射极偏差电压电路也具有同样的温飘问题和相应的解决方案,但由于其不依靠齐纳结,因此能在较低电压上工作。 相似文献
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四、固体基准源在单片D/A转换器设计中,稳定基准的设计最为关键。稳定基准源的主要指标是热稳定性。 (一)齐纳二极管基准源齐纳二极管基准源是电子系统应用较早且较广的一种固体基准源。产生基准电压的方法不外乎图11所示的四种。即(a)利用齐纳二极管在适当偏置电流下的零温度系数击穿点产生基准电压。(b)利用齐纳管端电压的正温度系数和正偏,二极管端电压的负温度系数串联补偿的原理产生基准电压。(c)利用建立电阻比来获得基准电压。(d)利用平衡电桥产生基准电压。电路计算表明(c)的输出基准为: 相似文献
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随着卫星接收机、有线系统和Internet商务的激增,很需要安全加密。伪随机码发生器几年前需定货,现在人们可考虑自己做。本文绘出的是一工作在单电源的真正的随机码发生器。此电路工作在单5V电源,只需最少的调节。此电路通过对齐纳二极管产生的随机噪声流与一个基准电压电平进行比较而产生随机“1”和“0”。假若正确地设置阈值而且时间周期足够长,则噪声将由高于和低于阈值的随机组数量相等的样本组成。图1所示的电路是随机噪声发生器。从1N753A齐纳二极管可获得最佳噪声性能,此齐纳二极管具有6.2V齐纳”拐点”。此二极管用来产生随… 相似文献
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设计了一种基于功率金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的高压开关组件。通过串联20只1 kV的RF MOSFET单元电路,获得耐压10 kV以上的高速、高重复频率的开关组件。开展了高压开关组件的结构设计和1 kV的RF MOSFET单元电路设计及散热设计。利用开关组件进行了10 kV脉冲源实验装置设计,测试结果发现脉冲前沿较仿真结果变缓。 相似文献
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碳化硅MOSFET因其材料的特殊性,适合高压、高频和高功率密度场合。该文设计一种碳化硅MOSFET的驱动电路,通过软件PSpice对碳化硅MOSFET以及碳化硅肖特基二极管的开关特性进行仿真研究,并设计RC缓冲电路解决开关的尖峰震荡问题。搭建硬件实验电路,在Buck电路中针对碳化硅MOSFET和Si IGBT在不同负载和占空比下进行电路效率分析。实验结果表明碳化硅MOSFET开关速度快、开关损耗小以及驱动电阻小。碳化硅肖特基二极管无反向恢复特性,适合高频下工作。RC缓冲电路能有效抑制开关产生的尖峰和震荡,在Buck电路中碳化硅MOSFET比Si IGBT在不同负载和占空比下效率要高。 相似文献
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迄今为止,电路中使用的基准电压源主要由齐纳二极管来担任。但是一般齐纳二极管存在一些问题,第一是动态内阻大,一般均在十几欧姆以上,尤其在小电流下,内阻更大;因此稳压性能很不理想。第二是稳压值易受环境温度影响,温漂大。第三,一般齐纳二极管的击穿电压容易受硅片表面状态的影响,噪声性能很差。精密有源基准 NG199(参考美国国家半导体的LM199而设计的)则克服了齐纳二极管的上述缺点,具有一般齐纳二极管所不及的性能指标,其温漂可低于1ppm/℃。在电子线路中,凡使用稳压管的地方几乎都可用NG199代替,并且能使线路性能大大改善。在模数转换、精密电压源、精密电流源等方面都有广阔的应用前景。 相似文献
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根据传统硬开关电源引起的不良影响,提出了一种新型软开关BUCK变换器,使得高低桥MOSFET管都能在不管是轻负载或者重负载情况下达到ZVS状态.在连续导电模式(CCM)和高负载电流情况下,上桥MOSFET管开通,下桥MOSFET管侧的二极管在死区时间内导电,这样就造成了上桥MOSFET管的开关损耗.新型软开关BUCK变换器在传统BUCK变换器的基础上加入了电感和电容,在外加电感电容的情况下,在CCM下的死区时间内的电感电流可以有效地从下桥二极管整流到上桥二极管中.根据仿真结果和工作模式分析验证其性能. 相似文献