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研究了MgO-TiO2-ZnO(MTZ)系高压MLC介质陶瓷的结构和介电性能。XRD分析表明:其主晶相是六方晶系MgTiO3以及少量的ZnTiO3、CaTiO3附加晶相。此种瓷料制成多层陶瓷电容器,具有耐高压、高工作频率等优点。 相似文献
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运用回归数学分析并结合SEM观测结果,对影响ZnO-Al2O3系陶瓷电阻及阻-温特性的线性化机制进行了探讨。研究表明,Al2O3、MgO的掺杂及烧成工艺均对材料的电阻率和电阻温度系数有较为明显的影响,镁掺杂对材料的电子激活能有较大的影响,当材料的电子激活能值较低时,通过回归处理发现其阻-温特性具有较好的线性,符合麦克劳林公式。 相似文献
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使用电子陶瓷工艺制备得到了掺杂Mn和Sn的BaO-TiO2-ZnO-Nb2O5(BTZN)系陶瓷,XRD表明,其主晶相为Ba2Ti9O20、BaTi4O9,另外还有少量附加晶相:Ba4Ti13O30、Ba3Ti12Zn7O34、BaTi5O11等。少量Mn和Sn掺杂有利于系统Q值的提高,降低了烧结温度并提高了介电性能。文中主要对Mn和Sn掺杂的影响机理分析作了分析。Mn和Sn综合掺杂的结果,使得在中温1160℃得到了微波介电性能优良的BTZN陶瓷。同时,把此种瓷料制成多层陶瓷电容器开拓了一种新的应用领域。 相似文献
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低温烧结BaO-TiO2系微波瓷料 总被引:1,自引:0,他引:1
利用传统的混合氧化法制备BaO-TiO2系统陶瓷。通过添加适量的玻璃,系统的烧结温度在其介电性未降低的条件下被成功地降至950°C。该文也研究了玻璃的数量和预烧温度对介电性能的影响。按0.64BaTi4O9+0.33ZnO+0.03Nb2O5+xSnO2+yMnCO3(x=0.01~0.06,y=0.01~0.8)配方,在预烧温度为1110°C和烧结温度为950°C时,有以下的微波特性:其介电常数εr为32.2,介质损耗tanδ为1.5×10-4。这种系统陶瓷能与纯Ag电极共烧,使得MLCC的成本极大地降低了。 相似文献
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本文研究了BaO-TiO2-Nd2O3(BTN)系陶瓷的结构和介电性质。在该系统中加入适量的玻璃和添加剂,获得了一系列中温热补偿独石电容器(MLC)陶瓷,实验结果证实:当Ti/Ba=1.003时,BTN系陶瓷的居里温度(Tc)随Nd2O3含量的增大而产生逐步漂移。用XRD确定了陶瓷的主晶相,SEM照片显示出晶粒尺寸对Nd^3+含量的依赖关系,分析了Ti/Ba比对陶瓷介电系数温度系数(ae)的影响。 相似文献
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将ZnO-H3BO3(ZB)玻璃作为烧结助剂添加到BaO-TiO2-ZnO系(BTZ)陶瓷中,以实现BTZ陶瓷的低温烧结。研究了ZB玻璃的加入及球磨时间对BTZ陶瓷的烧结性能和介电性能的影响。结果表明:ZB玻璃的加入,明显降低了BTZ陶瓷的烧结温度。添加质量分数6%的ZB玻璃、球磨10 h时,BTZ陶瓷能够在950℃下致密烧结,获得良好的介电性能(1 MHz):εr=35.55,tanδ=2.2×10–4,–10×10–6/℃<α<+10×10–6/℃(–55~+125℃)。 相似文献
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以固态氧化物为原料,采用一次合成工艺制备PSN-PZT压电陶瓷,并研究PSN含量、B位离子Nb缺位量、ZrO2的减少量、微量添加元素、烧结工艺参数对陶瓷压电性能的影响。结果表明:PSN的加入使PZT的准同型相界点向富钛方向移动,当PSN的摩尔分数为3%,材料的最佳锆钛比r(Zr/Ti)=1.04。B位离子Nb的缺位可大幅度降低材料的烧结温度,在Nb缺位量为10%时,可使材料的烧结温度降低到(1 110±20)℃,同时保持优异的压电性能:居里温度TC=339℃,压电常数d33=427 pC/N,介电常数3εT3/0ε=1 750,机电耦合系数kp=0.72,介电损耗tanδ=0.014。 相似文献
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采用La2O3-B2O3-ZnO(LBZ)玻璃掺杂钙钛矿系CaO-La2O3-TiO2(CLT)微波介电陶瓷。运用XRD、SEM和微波介电性能测试等手段,研究了LBZ掺杂对样品烧结性能及微波介电性能的影响。结果表明,在CLT陶瓷中添加LBZ,有效促进CLT陶瓷烧结,使得CLT的烧结温度由1 350℃降低到950℃以下,同时保持较好的介电性能。当LBZ的质量分数为3%时,样品在950℃保温4h后烧结致密,并获得最佳微波性能,即介电常数εr=103.12,品质因数与频率的乘积Q×f=8 826GHz(f=3.03GHz),频率温度系数τf=87.52×10-6/℃。 相似文献
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Dielectric Properties of Yttria Ceramics at High Temperature 总被引:1,自引:0,他引:1
Jian Chen Zheng-Ping Gao Jin-Ming Wang Da-Hai Zhang 《中国电子科技》2007,5(4):320-324
Based on Clausius-Mosotti equation and Debye relaxation theory, the dielectric model of yttria ceramics was developed according to the dielectric loss mechanism. The dielectric properties of yttria ceramics were predicted at high temperature. The temperature dependence and frequency dependence of dielectric constant and dielectric loss were discussed, respectively. As the result, the data calculated by theoretical dielectric model are in agreement with experimental data. 相似文献