薄盒中液晶分子预倾角的测试方法

晶体旋转法是测试液晶分子预倾角的常用方法,但由于需要制备较厚的样品,使用上有很多不便。本文通过叠加一适当位相差,改进了晶体旋转测试液晶分子预倾角的方法,使用于测试较厚液晶盒中预倾角的系统在测试相当于产品厚度的样品时,保持了较高的测试精度。     

预倾角对液晶响应时间的影响

从理论上分析了预倾角对液晶动力学的影响,推导出一系列可用于描述预倾角非0条件下的液晶响应分析公式。使用垂直取向的液晶盒能够通过实验验证理论分析的正确性,这一发现将预倾角与液晶响应时间定量的联系在一起。对预倾角和液晶响应时间的关系的研究,将加深我们对液晶动力学过程的理解,从而有助于优化液晶的响应时间。从理论上分析了预倾角对液晶动力学的影响,推导出一系列可用于描述预倾角非0条件下的液晶响应分析公式。使用垂直取向的液晶盒能够通过实验验证理论分析的正确性,这一发现将预倾角与液晶响应时间定量的联系在一起。对预倾角和液晶响应时间的关系的研究,将加深我们对液晶动力学过程的理解,从而有助于优化液晶的响应时间。     

预倾角对液晶响应时间的影响

从理论上分析了预倾角对液晶动力学的影响,推导出一系列可用于描述预倾角非0条件下的液晶响应分析公式.使用垂直取向的液晶盒能够通过实验验证理论分析的正确性,这一发现将预倾角与液晶响应时间定量的联系在一起.对预倾角和液晶响应时间的关系的研究,将加深我们对液晶动力学过程的理解,从而有助于优化液晶的响应时间.     

带有预倾角的液晶垂直定向的研究

文中介绍了用ＪＡＬＳ－２０４定向液获得向列型夜晶垂直定向的原理和方法。文中对涂膜，烘烤，磨擦等工艺因素作了描述，并给出了预倾角，对比度，响应速度的实测数据。     

异构化聚酰亚胺取向膜预倾角的研究

制备了一系列异构化的聚酰亚胺取向膜，并用晶体旋转法测定了它们的预倾角。发现由芳香类异构化二酐制得的聚酰亚脑膜对预倾角影响不大，而由环己烷类顺反异构化二酐制得的聚酰亚胺膜的预倾角变化较大，且顺式的比反式的大。     

预倾角对超扭曲向列相液晶显示的影响

超扭曲向列相液晶显示(STN-LCD)在实际应用中经常会出现一种由周期性条纹织构引起的晶畴,这种晶畴引起光散射使显示性能下降。采用4种不同的PI作为超扭曲向列相(STN)液晶盒的取向膜,在相同的条件下用摩擦法取向并制成盒后用偏光显微镜观察,发现不同PI取向的盒其均匀性有显著差异,有的盒中有晶畴出现,有的盒则显示出了良好的均匀性。晶体旋转法测量结果表明,不同PI引起不同的预倾角,取向均匀的盒所用PI产生的预倾角比其他PI产生的预倾角要大3°左右。分析认为,较大的预倾角抑制了晶畴的产生,在合适的d/p值下,预倾角只要达到5°以上时即可以有效地抑制条纹的产生,满足生产要求,为解决STN-LCD存在的晶畴问题提供了依据和方法。     

聚酰亚胺添加剂对液晶预倾角的影响

液晶取向剂是制造液晶显示器的关键材料之一.目前对聚酰亚胺结构对液晶预倾角的影响研究较多,而添加剂对预倾角影响的研究还较少.文章用均苯四甲酸二酐(PMDA),4[(4-氨基苯基)-二(4-甲氧基苯基)甲基]苯胺,1,2,3,4-环丁烷四羧酸二酐(CBDA),4-己烷氧基联苯酚-3′,5′-二胺基苯甲酸酯和不同含量的添加剂制备了聚酰亚胺液晶取向剂.通过偏光显微镜观察,液晶分子在4种PI膜上都获得了均匀取向.研究发现,含添加剂的PI膜具有良好的耐溶剂性能,液晶分子的预倾角随添加剂含量的增加先增大后减小.     

小预倾角无缺陷铁电液晶器件的制备

对表面稳定铁电液晶器件中C1和C2两种排列态的自由能密度与表面取向情况的依赖关系做了理论模拟,得出采用较小预倾角的取向剂制备铁电液晶器件,可以消除器件中的Zigzag缺陷的结论.实验中采用预倾角为1.8°的取向剂RN-1199,得到了没有Zigzag缺陷的均匀排列器件.     

多畴液晶显示器定向层表面预倾角的紫外调整

报道了两种由紫外光感生调整定向层表面预倾角的技术，紫外调整可使聚酰亚胺薄膜液晶的表面预倾角在小面积内作选择性的改变。基于聚酰亚胺的ＬＣ表面预倾角的这种选择性改变，提出了两种制造双畴液晶显示器的结构。三维模拟所得结果表明，对于所提结构，每个象素发为两个畴。利用这种方法在和了双畴扭曲向列试验屏与薄膜晶体管寻址双畴ＴＮ屏。本文叙述了紫外调整和其他制作以畴液晶显示器的方法不同，不需要采用通常的光敏抗蚀技术     

宾主效应原理测试液晶分子电控倾角

液晶分子的预倾角测试技术对研究液晶器件电光特性十分重要,现有的晶体旋转法不适合测试20°￣70°之间的倾角,本文提出一种利用宾主效应原理测试液晶分子电控倾角的实验方法。推导出液晶盒中液晶分子倾角与透射光强的关系式,制备出加二色性染料液晶盒,对样品施加电场,观测液晶盒电光特性。对实验结果进行分析,认为该实验方法对于测试15°￣75°之间的液晶分子电控倾角具有一定的可行性。     

模拟有源矩阵液晶显示的实验分析

本文描述了扭曲向列相液晶显示单元与分立的场效应晶体管，背对背二极管，电容器匹配在一起的实验和分析结果。在最佳匹配条件下，观察到在液晶矩阵显示中不出现交叉效应，闪烁现象。实验结果满足了多扫描线的实验要求。     

用微锥膜改善反射式彩色液晶显示器件的视角

本文提出并设计了一种具有微圆锥形结构的膜，用于改善反射式彩色液晶显示器的色度和视角。模拟计算结果表明，这种膜可以准直从锥形底部入射的光，向前散射由锥形顶部入射的光。作为应用实例，我们分析了微圆锥形结构膜对反射式干涉彩色滤光膜视角特性的影响，其作用十分显著。由于微锥膜的作用不依赖于液晶器件层，所以对多种模式的反射式彩色液晶显示器都是有效的。     

垂直定向液晶光阀及光电特性的研究

系统地讨论了排列相畸变模式液晶光阀结构，原理和制作，结合实际测试对其等效电路和电学匹配进行了分析，详细讨论了它的光电特性及相互关系，实测的液晶垂直排列方式工作的液晶光阀性能指标为，分辨率大于５０ｌｐ／ｍｍ，白光输入灵敏度为６．７７μＷ／ｃｍ＾２，响应时间为２００ｍｓ／３００ｍｓ，白光输出对比度为２００：１。     

光控取向材料F-PVCN表面偏光性及预倾角与曝光的非单调关系

本文报导首次观察到在光控取向材料表面上液晶分子预倾角与紫外光非单调曝光的关系。我们发现这种在加氟聚乙烯基肉桂酸(PVCN-F)表面预倾角与曝光的关系是非单调性的，而在无氟PVCN时显示的关系是单调递减的。这些和PVCN-F和PVCN表面的入射光偏光性变化有关系。实验结果表明表面偏光性和入射光变化对于光控取向材料的预倾角产生在机理上起着很重要的作用。     

一种测量少数载流子寿命的新方法

本文介绍一种简便实用的测量少数载淳子寿命的新方法－ＭＯＳ电容测量法，它对测量样品的要求不高，可在生产过程中实时测量，测量方法、数据处理及测量设备均较简便。     

电场对铁电液晶分子排列的影响

本文通过在铁电液晶相变过程中施加交变电场的方法，研究了电场对铁电液晶分子排列的作用。实验表明在液晶相变点附近施加低频交变电场，能够使铁电液晶分子形成均匀排列，从而提高了铁电液晶器件的记忆效应与对比度，最后我们给出了合理的理论解释。     

液晶可变相位延迟器相位延迟的精确定标

为了能够利用液晶可变相位延迟器(LCVR,liquid crystal variable retarder)对 光波的相位延迟进行准 确测量,提出一种基于Stokes参量测量光强法和最小二乘法的LCVR对光波相位延迟的精确定 标方法。从理论分析光波经LCVR后影响相位延迟变化的因素,采用基于Stokes参 量测量的光强法分别对波长为405、532、632和641nm入射光相位延迟随电 压的变化进行测 量, 并实验验证归一化后的相位延迟变化只与驱动电压有关;基于最小二乘法对不同波长的 初始相位延迟量进行定标研究,导出不同波长入射光经LCVR后初始相位延迟量定 标方程,用671 nm波长 的激光对定标方程进行了验证,经定标方程求解的671nm波长的初始相位延 迟量与实 际值偏差为 1.4 nm,且任一驱动电压下,相位延迟量的实际测量值与公式定标计算 值最大相对误差为0. 18%。最后,通过与其他定标方法的比较,进一步说明采用本文方法定标的精确性 和可靠 性。     

氧含量对VO2-x晶格特性和结构相变影响的研究

采用沉淀法制备了氧含量不同的VO2-x纳米粉．对样品进行了差式扫描量热(DSC)、X-射线衍射(XRD)和透射电子显微镜(TEM)的测试，并结合第一性原理的计算结果，具体分析了氧含量对氧化钒纳米粉的晶格特性和结构相变造成的影响：缺氧样品中形成钒填隙，富氧样品中形成氧填隙，两种缺陷分别造成晶胞体积的膨胀；缺陷带来的各向异性造成晶粒形状的改变；同时，不同缺陷态造成的能带中电子状态的改变也可能成为影响氧化钒的结构相变特性的重要因素之一．     

双轴分子构成液晶薄层的分子场理论

本文以分子场理论研究双轴分子构成的液晶薄层。双轴分子通过色散力作用，使分子质心固定在简单立方晶格的格点上。在液晶薄层的一侧是基板，它对界面层上的分子提供吸引作用，另一侧为自由表面。给出了各分子层上序参数随温度变化的情况。