测试与可测试性设计发展的挑战

CMOS器件进入超深亚微米阶段,集成电路(IC)继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在测试和可测试性设计上都面临新的挑战.本文首先介绍了测试和可测试性设计的概念,分析了测试和可测试性设计面临的困境;然后讨论了系统芯片设计中的测试和可测试性设计,最后对测试和可测试性设计的未来发展方向进行了展望.     

一种CPU模块的测试设计

论述了对一种CPU模块的测试设计,此测试设计为了检测该种CPU模块的功能和性能.在设计过程中,首先,对该CPU模块的功能和性能进行了分析,并在此基础上,提出了测试需求,同时根据测试需求设计了测试方法.最后,通过对这种CPU模块的功能和性能进行测试和验证,为设计人员提供了设计和测试建议.     

BGP4+协议的分布式一致性测试系统的设计

首先对BGP4+进行了分析,然后阐述了BGP4+的分布式的一致性测试系统的设计方法,包括主测试系统的设计、从测试系统、测试套的描述方法的设计以及它们的部分设计框图.最后使用一个简化的分布式测试系统对BGP4+协议实现进行了一致性测试实践.     

基于并行机制的边界扫描技术

在SoC测试时,测试功耗和测试成本是其可测性设计中最重要的一点要求.在分析了常见测试结构的测试功耗的基础上,提出了一种并行扫描机制的测试结构,包括访问机制的设计和测试控制器的设计.该方法可根据测试成本和测试功耗的要求,选择不同的构造方法.     

航空机载综合控制管理设备的测试性设计研究

分析了开展航空机载设备测试性设计的目的和意义,对设备的测试性设计流程、设计方法、试验验证和指标评估等方法进行了探讨。首先,具体描述了机载设备的BIT设计方法;其次,对典型功能电路采用的BIT方法和复杂电子器件采用的边界扫描测试性设计进行了介绍,肯定了测试性试验对装备测试性指标评估的作用;然后,对测试性设计中常见问题提出了解决措施;最后,指出装备应持续改进测试性设计以达成用户要求。     

一种压缩可测性设计的研究实现

本文针对固定管脚芯片可测性设计中测试向量庞大和测试时间过长问题,提出了一种有效的压缩可测性设计,改进了传统并行扫描测试设计。该设计方法在SMIC 0.18μm工艺下一款电力载波通信芯片设计中验证,仿真结果表明压缩扫描可测性设计能有效减少测试向量数目,从而减小芯片测试时间。     

基于雷达装备的测试性评估方法研究

雷达装备在作战中具有重要的作用,而雷达装备的测试性设计对雷达装备起关键作用,对雷达装备的测试性设计进行分析,及时将测试性设计和试验相结合,使雷达装备的测试性水平得到提高。首先对雷达装备的测试性设计进行了分析和阐述,之后基于设计和试验提出了一种测试性评估方法,并提出一套测试性评估程序,来帮助雷达装备进行测试性评估。     

基于MBSE的微波统一测控系统测试性设计

针对当前微波统一测控系统研制中存在的测试性要求宽松、测试性设计模式落后的问题,通过综合权衡可靠性、维修性和保障性的各项要求和约束条件,确定了微波统一测控系统的测试性定量要求,并对开展测试性定量设计和验证的可行性进行了论证;采用系统工程设计思想,将测试性设计和功能设计融合,构建了基于模型的系统工程（Model-based Systems Engineering,MBSE）的测试性设计环境和设计流程,可为微波统一测控系统在数字化研制过程中开展测试性设计和仿真验证提供参考。     

某飞行器测试系统的设计与实现

文章针对某型飞行器设备的测试需求,围绕测试系统开发的总体方案设计、硬件设计、软件设计与优化、系统集成与联调进行论述,介绍了该测试系统的设计与实现方法,验证了设计合理性,形成了一套应用于某型飞行器设备研制、生产过程的测试装备。     

基于UltraFlex的多时钟域电路测试方法

介绍了一种在UltraFlex系统上进行多时钟域电路测试的方法,利用了UltraFlex系统自身硬件设计的特点和VBT,解决系统在多时钟电路频率比较高的情况下最小公倍数频率超过测试系统规格的问题。此方法通用,可进行不规则多时钟ASIC的测试,降低了设计和测试人员测试算法设计的难度,提高了设计和测试开发速度。