基于AD698的半桥式电感位移传感器高灵敏度测量电路设计

针对主动磁轴承系统中电感位移传感器的高灵敏度设计要求,在对AD698芯片的输入输出特性进行了实验测量的基础上,对AD698的典型应用电路加以改进,提出了一种基于AD698的半桥式电感位移传感器高灵敏度测量电路设计方案。实验证明,相对于AD698的典型应用电路,这种方案能够显著地提高电路的灵敏度,并且输出电压的噪声没有明显增大。     

航空发动机位移信号测量系统设计与实现

在某型航空发动机数控系统中,需要测量发动机油门杆角度、导叶角度和计量活门位移等角位移和直线位移信号.该型航空发动机数控系统主要由DSP芯片TMS320F28335及外围电路构成.为了实现对位移信号的测量,选用了AD698来激励直线位移传感器(LVDT)和角位移传感器(RVDT)并采集它们的输出信号,设计了相应的信号调理电路以匹配AD698和TMS320F28335 A/D端口的输入输出电气特性要求.测试结果表明,设计的信号调理电路能满足航空发动机位移信号测量的要求,系统工作稳定可靠、测量精度高.     

基于AD698的旋转变压器驱动及解码电路设计

主要设计了一种基于AD698芯片的旋转变压器的驱动和解码电路,该电路结构简单,采用AD698信号调理添加简单的外接元件产生旋变所需的励磁信号.信号的解码采用AD698芯片A通道作为主要控制端口,B通道作为信号调理端口,通过信号的调制解调来线性采集角度信号,并由A/D采集卡采集标准信号.该驱动解码电路板已成功应用于某舵机试验台直流无刷电机测速装置中.     

基于磁阻传感芯片阵列的磁导引AGV传感器设计

介绍了一种基于磁阻传感芯片设计的通用磁导引自动导航小车(AGV)传感器.根据测量得到的磁导引AGV使用磁条的磁场分布,提出使用磁阻传感芯片HMC1021组成线阵的测量方案,并设计了硬件电路.利用不同标定位置的磁阻传感芯片的输出结果,拟合磁场强度与芯片标定位置的二次函数关系,计算得到磁条中心与传感器中心的横向偏移距离.通过实验验证了设计的传感器的准确性,并提出减小误差的方法和改进方案.     

差动变压器式位移传感器测量系统优化

差动变压器式位移传感器在测量小位移量时有着许多的优点。对差动变压器式位移传感器和AD698芯片(信号调理器)的工作原理作了简单的分析介绍,利用差动变压器式位移传感器线性范围大且重复性好、灵敏度和分辨力高的测量优点,配合使用AD698芯片搭建位移测量系统,精确地将差动变压器式位移传感器的机械位移转换成单极性的直流电压。同时采用曲线拟合法构建系统的智能化非线性校正模块,进一步提高了测量系统的线性度,减小了非线性误差。     

基于AD8337的自动增益调节电路的设计

本文介绍了AD8337的芯片特点和工作原理,并结合实际应用给出了一种利用AD8337设计的自动增益调节电路及实验结果.     

基于CDC与ARM的微位移电容传感信号处理电路设计

设计了基于数字电路方法,采用电容数字转换芯片AD7745和高性能ARM微控制器为核心的信号测试电路。给出了AD7745的测量原理和电路的软硬件设计。AD7745直接将微弱的电容信号转换成数字信号而非电压信号,避免了将有用电容信号同误差电容信号一起转换成电压信号,有效降低了环境中分布电容和寄生电容的干扰。实验结果表明:设计的微位移电容传感信号处理电路提高了变极距型电容传感器的稳定性和抗干扰能力,实现了0.72μm的分辨力。     

新型单片机电能表抄表系统设计

介绍了一种基于MSP430单片机的复费率单相电能表的主电路及通信接口电路,给出了其具体电路,采用AD7755作为专用电量测量芯片以保证测量脉冲数的准确性,硬件日历时钟及参数存储采用总线器件以减少电路连线.综合设计使电能表的工作可靠性得到大大提高.同时对系统的软件设计和可靠性设计也作了介绍.     

差动电感式位移传感器调理电路设计

介绍了线性可变差变压器(LVDT)的组成和测量原理。通过对比和分析现有LVDT信号调理电路的特点,设计了一种基于AD698芯片的单芯片解决方案的调理电路。该电路采用比例输出,可有效提高调理电路的准确度和抗干扰能力。其输出采用电压隔离芯片ISO124,可实现隔离度达1500 V有效值电压的隔离,减少了不同系统间的传输干扰。设计了变送器输出模块,可通过选择电流输出方式提高长距离传输的可靠性。通过对电路的测试和分析,证明其满足使用单通道LVDT高精度测量的需求。该电路设计方便、准确度高、易于实现,具有很好的应用前景。     

基与AD8302的C波段鉴相器设计

为解决C波段功率合成中相位测量的问题,该文介绍了一种用于RF/IF幅度和相位测量的AD8302芯片,并利用它的鉴相功能实现了一款C波段的鉴相器的设计.首先采用前端变频电路将信号频率变换到AD8302可以处理范围内,然后利用AD8302进行相位差的测量.测试结果与芯片说明手册的鉴相结果相吻合。