同位素源X射线荧光法对高放废液中铀的分析

用~(109)Cd源激发,Si(Li)探测器探测的能量色散X射线荧光法和薄膜技术法对高放废液样品中铀元素进行分析。测量中对Si(Li)探测器进行死时间校正。将原始样品稀释到可测量水平时,用外标法对铀进行分析,其精度好于3%。在样品中重加10μg的铀,回收率是101% 107%。     

X射线RoHS荧光分析基体效应吸收校正的MCNP模拟

采用MCNP程序模拟RoHS元素荧光分析受基体材料和射线能量的影响。在低浓度RoHS分析中强度和浓度近似为线性关系,不同基体下直线斜率差别很大。对镉的计算表明,荧光强度的差异主要受吸收系数的影响,严重时达两个量级。为改善浓度测量的准确度,引入吸收系数影响因子对荧光强度进行校正,使用同一种标样刻度,可克服不同基体中浓度转换系数变化的影响。     

一种便携式能量色散X射线荧光分析仪的设计

研制了一种便携式能量色散X射线荧光分析仪(EDXRF)。激发源采用国产小口径Mo靶X线管,以变频技术设计了配套的高压电源和灯丝电源,探测器为电制冷半导体探测器。通过元素Cu、Zn、Ni、Pb的能谱测量,研究了该分析仪的检测性能和能量定标曲线,并且从理论上分析了其最佳元素分析范围。     

能量色散X射线荧光光谱仪现状及其发展趋势

能量色散X射线荧光光谱仪被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析等的重要工具.文中介绍了现代能量色散X射线荧光光谱仪主要性能指标,综述了能量色散X射线荧光光谱仪的硬件和软件研制现状,简述了多种新型的能量色散型X射线荧光光谱仪,并对其发展趋势与前景进行了展望.     

能量色散X荧光分析系统软件设计

本文介绍的是新研制的能量色散X荧光分析软件。本软件采用树状结构,具有操作方便、运行速度快、功能丰富、容错能力强等特点。本软件实现了X荧光分析的数据采集、谱的解析和基体校正等功能,其效果达到了国际上同类产品的水平。     

X射线荧光分析中基本参数法的应用

文章使用基本参数法,对合金钢样品不经化学处理,不使用参考标准,样品在同位素源激发的Si(Li)X射线荧光谱仪上进行测量,将测量结果送入同多道联机的EMG 666微机上进行计算,最后打印出分析结果。文中对入射角的变化,一次荧光效应和二次荧光效应,散射效应进行了研究,并对合金钢样进行了分析。用标准样品检验,表示分析准确度的相对误差小于±3%;表示方法精密度的相对偏差小于±6%。     

MCNP程序对X射线荧光分析校正曲线的模拟计算

X射线荧光分析中,由于物质成分变化对检测结果的影响,在多数情况下元素浓度含量和荧光强度间不是线性对应关系.针对0～100%浓度的Fe和基体为Cr(强吸收体)和O(弱吸收体)的二元混合物样品,使用MCNP程序模拟强吸收和弱吸收时Fe的荧光强度和Fe的浓度的对应关系.理论表明该对应关系为由参数p确定的曲线,p值由基体元素和...     

X射线荧光分析中基本参数法的应用

本文使用基本参数法,对合金钢样品不经化学处理,不使用参考标准,样品在~(238)Pu同位素源激发的Si(Li)探测器组成的X射线荧光谱仪上进行测量,将测量结果送入同多道分析器联机的EMG666微机上进行计算,最后打印出结果。文中对入射角的变化、一次荧光效应、二次荧光效应和散射效应进行了研究;对核电站的合金钢样进行了分析,用标准样品检验方     

X射线荧光光谱仪的现状

综述了波长色散X射线荧光光谱仪和能量色散X射线荧光光谱仪的现状和发展趋势,及其X射线荧光光谱仪的拓展,介绍了部分具有代表性的X射线荧光光谱仪的主要性能.     

铜镜的X射线荧光分析

建立一种不取样的分析古代青铜镜的方法,给出了52面铜镜的铜、锡、铅含量值。从所获得的含量值看,铜镜中的铜、锡比例很接近,这就证明了《考工记》里“金锡半谓之鉴燧之齐”的记载基本上是正确的。     

手提式X荧光分析仪在矿产普查中寻找伴生矿的应用研究

介绍了现场X射线荧光勘查技术的理论基础、仪器设备和运用X荧光分析仪寻找伴生矿的方法技术.运用手提式X荧光分析仪对新疆的两个地区进行勘探,并采用强度影响系数法和特散比影响系数法对分析中存在的基体效应进行了校正,结果发现了高含量的钴伴生矿和达到工业开采利用的伴生钒、钛矿.证明手提式X荧光分析仪在野外勘探中对寻找伴生矿具有重大意义.     

X射线荧光分析法直接测定胆结石中金属元素

本文叙述了使用X荧光分析法直接对胆结石中金属元素进行分析的过程,提出了一个适用于轻基体厚样品的逐次趋近计算法,并在计算机上成功地计算了胆结石中金属元素的测定结果。     

使用X光聚束系统的X射线荧光分析研究

复合光导管组成的Ｘ光透镜可将发散的Ｘ光束聚至直径φ０．５ｍｍ，聚束后的功率密度增加１０＾４倍，这种新型的Ｘ光透镜已用于Ｘ射线荧光分析研究，使用Ｘ光管功率仅２Ｗ，而探测限可达１０＾－９－１０＾１０ｇ．     

全反射X射线荧光分析

综述了全反射X射线荧光分析技术的基本原理，装置及特点，介绍了全射X射线荧光分析技术的应用及其前景。     

用镜像变换法计算X荧光分析的基体效应修正系数

本文阐述了在能量色散法X荧光分析中(EDCRFA)用经验系数法基体效应修正的基本表达式。由于在求解经验系数中存在的病态矩阵,造成计算结果误差很大,文中采用镜像变换法(Householder法)可以得到较稳定和精确的解,取得了明显的效果。     

X射线荧光分析中的综合灵敏度因子KI_0和准绝对测量

在X射线荧光分析,尤其是能量色散X射线荧光分析中常常使用相对测量方法。除了这一方法简单易行之外,主要是它避免了待测元素物理性质、激发源能量和强度、探测器特性以及几何因素等测量困难和现有参数数据不准确等引入的误差。其实质是在同一条件下,认为待测样品和标样中的待测元素含量比与特征谱线强度比相等: