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相似文献
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1.
本文介绍了用常角法、比较法检测度盘、光栅盘刻线位置误差及其数据处理方法。在保证测试条件的前提下,两种方法所求得的刻线位置误差及由它得到的直径误差结果趋于一致。另外,对检测结果的可靠性等问题进行了一定的分析。  相似文献   

2.
近年来,由于国防工业、精密机械以及仪器议表制造业的发展,对精密圆刻线机的刻划精度要求很高,用途要求很广:要既能刻码盘、光栅盘,又能刻度盘;既能光刻,又能刀刻。按照设计要求,QGG405型光电圆刻线机刻出的盘子(包括光刻光栅盘和刀刻度盘),其直径全中误差应小于±0.2秒。因此,QGG405型光电圆刻线机的总精度检验工作,就相当于0.2秒光栅盘和光学度盘直径误差的检验工作。现简单叙述如下。一、检验方法对刻线机刻出的盘子的精度检验,我们用定角法观测,按海佛林克法的公式进行计算。这种方法是以直径全中误差为指标来评定度盘质量的。这和  相似文献   

3.
为了比较真实地测量出圆光栅直径误差φi及刻线位置误差θi,本文指出了对被测盘信号进行差放处理的必要性。从理论进行了分析,并用实验进行了验证。  相似文献   

4.
对超微粒乳胶的基本性质、涂布工艺、光刻实验等进行了讨论。用超微粒乳胶光刻出直径为50mm、刻线数32768线对的小型高密度圆光栅。  相似文献   

5.
光栅盘作为计量元件,广泛应用于科研生产的许多部门。由于工艺技术的进步和许多新技术的应用,其制造精度越来越高,因而对其检测技术的要求也越来越高。光栅盘各刻线的实际位置与理论位置之间的角差称为刻线误差。在很多仪器中,为了消除光栅盘安装偏心的影响,都采用对径提取信号的方法,因此对光栅盘的要求就不再是刻线误差而是直径误差。在光电检验仪上检测直径误差主要有两种方法:比较法(绝对法)和常角法。比较法就  相似文献   

6.
在毛主席无产阶级革命路线指引下,中国人民解放军沈字619部队、总字820部队、6569工程和昆明机床厂三单位的革命职工,认真贯彻执行毛主席独立自主、自力更生的方针,充分发挥工人、干部、技术人员与科研、生产、使用单位三结合的大协作精神,于1974年底试制成 QGG405光电圆刻线机。QGG405光电圆刻线机采用了高精度精密轴系、光栅定位和集成电路控制等新技术。它能刻制码盘、光栅盘和光学度盘;既可光刻,也可刀刻;既能连续刻,也能间歇刻;既能刻玻璃件,也能刻金属件。刻划效率较高,用连续光刻法刻制一块三万多条线的光栅盘只需  相似文献   

7.
介绍一种采用“滚动光栅”作为长度标准,通过显微镜瞄准刻线,直接对被检钢卷尺刻线间隔进行检定的装置和新方法,并简要地进行了误差分析。  相似文献   

8.
肖莉 《中国计量》2015,(2):120-121
<正>一、指标线与标尺分度刻线不平行第一种情况:指标线倾斜。调修方法:调整指标线镜筒位置。打开侧盖,松开指标线镜筒与固定套圈凹槽处的固紧小螺钉,转动指标线镜筒并在投影屏上观测,直至指标线位置与标尺分度刻线平行,标尺分度刻线上边缘与指标线第三条虚线上边缘对齐且指标线在运动的全程内横向位移量不大于标尺分度刻线短刻线长度的1/10。  相似文献   

9.
一用600刻线测tR值 1.将米字线镜头对谁在零位(如图1所示),调整样扳几圆弧和米字线60。刻线相切,读取横向读数y,。 2.移动横向滑板使圆弧R的顶点和米字水平线相切,这时读取横向读数yZ,yZ一y,即为被测半径值。 上述测量原理可用简单的几何关系证明:由R圆心D点分别向oA和oC做垂线: 匕DOC二30”乙DCO=90” OD=ZDC 又’:BD一DC…OB=BD 二用90“刻线测盘R值 将米字线镜头对准在45。位置,如图2所示。用90“刻线测量圆弧半径,其方法和用60。刻线一样,只不过测出0仑值后再乘以常数2·414229,即为被测样板半径值。┌─────┬──┐│…  相似文献   

10.
万能工具显微镜的附件光学分度头示值超差 ,由于装拆较繁杂 ,螺钉的松紧也难把握 ,盲目调整 ,费时费力。笔者经过多次实践 ,总结出下面一种简便易行、效率很高的调修方法 ,以供光学仪器检修的同行们参考。光学分度头示值超差需要调修时 ,打开边上的外盖 ,取下灯泡和读数显微镜。利用此显微镜直接瞄准分度盘上的分划基圆 ,把自带的小灯泡放在原来显微镜接收光束的位置 ,即光源与读数显微镜位置互换。运用的是光线可逆性原理。固定好相互位置 ,轻轻转动分度头主轴 ,仔细观察分划圆在转动过程中的径向偏移。可以利用读数显微镜中分划板上的某些…  相似文献   

11.
本文介绍的静态光电显微镜瞄准电路是微机化光栅数显象点仪的一部份,其作用是在精密静态测长中,实时显示工件刻线象(测尺时)或边缘反射象(测端度或测孔时)与光电显微镜的振动狭缝振动轴线的相对位置,以提示操作者移动工作台,使工件刻线象或边缘反射象与狭缝振动轴线完全对中,从而避免了目测对线所产生的误差,使瞄准精度大为提高。  相似文献   

12.
在几何量测量中 ,经常要测量非整形圆弧半径 ,由于一直套用弓高弦长等方法去测量 ,在测试中常因计算繁琐而引起误差偏大。本文根据多年的工作实践 ,从理论上探讨出两种对非整形圆弧半径测量的方法 ,现介绍如下。一、用万能工具显微镜定夹角方法测量对非整形圆弧半径测量时 ,一般视采用刻线的夹角不同分为三种情况 :a 用 6 0°的刻线测量 ,镜头对准“0°”位置上。b 用 90°度刻线测量 ,镜头对准“4 5°”位置上。c 用 12 0°度刻线测量 ,镜头对准“90°”位置上。测量步骤 :1 粗动、微动纵、横向滑台 ,使定夹角刻线中的Ⅰ与圆弧相切 (如…  相似文献   

13.
应用圆形磁栅(或光栅)测量齿轮、齿轮传动链或其它类型的圆分度精度时,由于存在安装偏心。使它的录磁(或刻线)旋转中心,磁栅盘的几何中心和被测旋转轴的中心均不重合,因而对测量精度会产生直接的影响。一、安装偏心的数学分析图1表示磁栅盘存在安装偏心时各部分的几何关系。  相似文献   

14.
提高码盘、圆光栅均匀性的研究   总被引:3,自引:1,他引:3  
随着科技的发展 ,对码盘、圆光栅的线条数、均匀性要求越来越高 ,本文着重对码盘、圆光栅刻制中出现的均匀性问题进行分析 ,找出影响码盘、圆光栅均匀性的主要因素 ,提出了相应的改进措施。  相似文献   

15.
我厂自行设计的万能角度尺圆度刻线机制造成功。据我们了解目前国内现有的圆度刻线机(包括进口的)均采用蜗轮和蜗杆的传动来完成,在结构上比较复杂,零部件的制造和配合要求精度很高,其中的关键件蜗轮、蜗杆和齿轮等都要求“0”级精度。我们却采用了棘轮、棘爪拨齿传动、靠定位轮定位来进行精密分度的新结构,即由多精件组合传动转为单精件定位分度。经过长期使用证明:这台万能角度尺刻线机完全可以达到较高的精度,且结构简单,制造较易,调整操作方便,稳定性好。其结构见示意图1。回转盘1上装有精密定位齿盘2和棘齿盘3。电机通过变速后,带凸轮5和凸轮6转动、凸轮6拨动杠杆,通过滑块移  相似文献   

16.
本文介绍制造回光栅所采用的一种新型接近式光刻系统的原理、结构和光刻性能。该系统可以在有间隙的情况下进行光刻,并通过实验给出了刻制不同宽度刻线时的间隙量大小。此装置已用于制造圆光栅。这种方法不仅可以制作圆光栅,而且还可以制作线光线。  相似文献   

17.
游标角度尺(0—320°)示值的修理,有时越修越坏,以至最后报废。产生示值不合格的原因是主尺圆弧导向面的磨损或因多次修理改变了原来的圆弧中心。修理其他部位和零件都不能使示值合格。但修理主尺圆弧导向面又不知修何处和修多少?我们是在万工显圆分度台上通过测量确定修理位置和修理量的,然后根据其数值在曲线磨床(MD9030)上修理。一、在万工显上精测将主尺上所有零件拆下(如图1),平放在万工显圆分度台上。以三条刻线的外端点(A、B、C)为基准找正(即第一条和最后一条以及25°那条)。让以上三端点所定圆的圆心重合于圆分度台的回转中心。如有辅助测量胎具,这项操作较易,否则可用  相似文献   

18.
立式光学计示值不稳定时,可从以下几点找出原因并予消除。 1.测杆在轴套内配合间隙过小或测杆有毛刺、锈蚀;润滑油干涸等,会影响测杆的正常移动。在不安拨叉的情况下,用手指拨动测杆,可发现刻度尺零刻线不能回到零位。这时可卸下轴套和测杆进行调修。  相似文献   

19.
<正>一、架盘天平不平衡的调修在使用中,特别是新购买的架盘天平经常会出现不平衡的现象,其原因和调修方法如下:1.两边重量不一致。两边相差很小时,调整天平一侧或两侧的平衡砣解决。如果相差很大,应在秤盘底下的十字托架上加放平衡重物于轻盘方向并固定好。2.秤盘"张冠李戴"。秤盘放错这种情况时常出现在同规格的几台架盘天平,认真核对并放好,问题就可解决。需要注意的是:相同型号、相同规格,  相似文献   

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天平常用“眼观、手感、凭经验”的方法进行调修,往往不易很快掌握,如果能使用一些专用的小工具,就既可保护原件不受损伤,同时简化了调修过程。现将我们研制的调角器、拉子、叉扳手和对码等几种调修工具介绍于下。1.调角器:用于检查边刀与中刀的不平行度。这是一对四个不同口径的四、六方扳手,除了做为扳手之外还可以做为调角器(又名四角铊)之用,如图1。制作时调角器的厚度尺寸要求不严,重量一般为7~10克,但要求两只重量精确一致。所以只能通过调整其厚度使得两只扳手重量相同。边刀与中刀不平行,是造成天平示值变动的重要原因之一。所谓调角,就是把每个边刀前、后两个端部相对于中刀的力矩进行比较而检查这种不平行度并予以校准。  相似文献   

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