首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 8 毫秒
1.
2.
控制图是生产企业判定生产过程是否出现异常的一种工具,在生产实践中,控制图控制界限并非以3σ为最佳,而是根据实际情况选择确定。  相似文献   

3.
通过实例介绍了统计技术的应用及技巧,同时系统地阐述了进行控制图的设计的全过程。  相似文献   

4.
本文介绍了Q(X)-Q(S^2)控制图的统计量、绘制方法及实例。  相似文献   

5.
平均值x及极差R控制图是质量管理中用得最多的一种控制图,但它在日常生产中使用较困难,原因是经常有点跑出控制线外,即失控,而实际上生产线却无异常产生,这是从误报警而犯了第一类错误,这些主要是由平均值x及极差R控制图的局限性引起的。如果用平均值x及移动极差R控制图就完全可以解决以上问题,从而大大降低第一类风险而没有增加第二类风险。  相似文献   

6.
7.
本文介绍了Q()-Q(S~2)控制图的统计量、绘制方法及实例。  相似文献   

8.
学习一种实用的方法,建立并分析单片和批量工艺的控制图。  相似文献   

9.
通过实例介绍了统计技术的应用及技巧,同时系统地阐述了进行控制图设计的全过程。  相似文献   

10.
纪功铭 《微电子学》1992,22(3):65-67
人所熟知,产品的质量是设计和制造出来的。当设计正确合理时,如何保证制造过程的质量就十分关键了。这就要求每道工序都要能达到符合该工艺规范的预期指标值,每道工序加工质量的稳定性要好。换而言之,加工过程须处于受控状态。为此,产生了各式各样的控制图,这些控制图各有其用场与优缺点。控制图的基本形式如图1所示,加工件的质量数据处于上、下控制线之间就认为是受控的。在正常情况下,当加工处于受控状态时,其总体质量特性服从正态分布规律,从既保证质量又经济合理的角度出发,人们把上、下控制线间的范围定为±3σ(σ为其标准偏差)。因为落在±3σ以外的几率只有0.3%,是一个小几率,在次数少的活动中一般不会发生,所以认为它是受控的。  相似文献   

11.
12.
蒋萍 《今日电子》1997,(6):89-91
目前,数据库设计已成为MIS系统开发中最困难而又最关键的部分,尤其是在一个网络环境中,数据库的设计更加复杂化。本文是作者在从事多项MIS系统开发中,总结出的一种简单实用的数据库设计方法。 一、数据库设计概述 数据库系统在MIS系统中,起着举足轻重的作用,尤其随着MIS向大型化、网络化方向发展,分布式数据库越来越得到广泛的应用。很难想象,一个脱离数据库的MIS系  相似文献   

13.
SPC的典型控制图的应用范围   总被引:3,自引:0,他引:3  
研究了统计过程控制技术中的常规控制图、通用控制图、小波动控制图、多元控制图、选择控制图及其应用范围。  相似文献   

14.
陈娟 《电子质量》1997,(9):14-15
工厂由于各种预想不到的原因导致生产进度落后已很常见,作者在文中介绍了几种实用的排程压缩法可帮助企业提高生产进度。  相似文献   

15.
杨超  李利 《电子对抗》1996,(4):9-15
本文基于自适应天线阵列理论,提出了一种控制天线阵方向图旁瓣的新方法-迭代算法。这种方法可用于任意非均匀阵方向图旁瓣控制,并可同时计入各阵元方向图的影响。  相似文献   

16.
质量控制图系统的实现及在SMT中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
张丹 《电子质量》2006,(4):39-41
本文将控制图理论与计算机技术相结合,开发了质量控制图系统.介绍了该系统的设计方案和关键技术问题,并以电子产品制造中监控SMT机的焊膏厚度为例说明了系统的应用.  相似文献   

17.
18.
介绍了片式元器件的先进包装技术以及管理上所采用的技术标准。  相似文献   

19.
电镀零件的质量状况好坏会严重影响微波管的可靠性.本文运用多变量单值控制图法对微波管生产过程中零件镀层厚度进行统计控制,判断零件电镀是否处于统计受控状态,为进一步采取工程措施提供依据.  相似文献   

20.
丁竹  孙小菡 《电子器件》1999,22(3):157-161
SMT信息管理是实现基于FDDI-II光纤控制网的关键技术0之一。本文以主,从的观点,分析SMT信道管理的工作原理及信息流程,增加必要的原语,并提出整套实现方案。  相似文献   

设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号