节点交换通信网话务负荷能力测试与评估研究

本文提出一种参数仿真与实测相结合的增量调制节点交换通信网话务负荷能力测试方法,论述了测试工具的原理及其模型的实现方法,对该网的测试与评估进行初步探讨。     

P比特光交换节点研究

光网络中引入全光交换技术可以无需进行光电光转换和电信号处理,使网络具备透明性,大大降低节点的复杂性和节点成本。多粒度交换节点减小了交换矩阵的规模,降低了交换矩阵的复杂性,是波分复用（WDM）网络节点发展的一个方向。随着正交频分复用（OFDM）技术的引入,带宽可变的节点技术得到了越来越广泛的关注。文章介绍了传统的基于波长的光交叉连接器（OXC）交换结构、多粒度交换结构,以及基于正交频分复用/单载波频分复用（OFDM/SCFDM）的节点交换结构,并通过实验对基于带宽可变的可重构的光分插复用器（ROADM）、OXC节点技术进行了验证。在实验中提出的基于子波带的交换结构中,节点容量达到了P比特量级。     

新一代航空电子总线系统结构研究

航空电子总线系统就像是整个航空电子系统的中枢,能够影响航空电子化设备的发展程度的高低,是保障我国军事化航空领域地位的主要因素.     

航空电子通信系统中的关键技术研究

航空电子通信技术是现代飞机综合性能的重要体现。科技的进步使人们对于现代飞机的机动性、实时性和可靠性提出了更高的要求,而航空电子通信系统的优劣在一定程度上影响了上述飞机性能。文章就航空电子通信系统中的关键技术进行了探讨和研究。     

共享缓冲在ATM交换矩阵中的研究与应用

排队策略与缓冲技术是交换矩阵设计的核心,同时也是交换矩阵时延产生的主要因素。共享缓冲对于减少数据缓冲容量极为重要,是目前大容量交换的基础。采用了Crossbar思想的零缓冲技术是时分交换与空分交换的融合,通过VHDL语言编程,提出了适合工程的小容量交换矩阵设计思路,并在工程中得到了检验。     

航空电子系统数据网络交换结构容错机制的设计与实现

随着新一代航空电子系统综合化程度的不断提高,航空电子系统对其数据网络传输与交换的性能需求也越来越高,不仅要满足大吞吐量、高速率、低延迟等需求,还要满足容错、重构等需求。针对这些需求,介绍了一种航空电子系统数据网络交换结构容错机制的设计与实现,该机制对通用交换结构进行了优化,采用互为备份的双交叉开关构成容错的交换结构,采用命令序列和优先级排队实现容错交换结构的管理。     

航空电子蓝图系统实时性设计

在新一代先进综合航空电子系统体系结构中,采用蓝图系统来完成航电系统结构的描述;针对蓝图系统进行实时性保障研究,是对蓝图系统展开研究的一个重要方面。首先探讨了蓝图系统的结构,在此基础上分析了任务在航空电子系统中的加载和运行模式,并针对6种典型运行模型,给出了蓝图系统实时性保障的判定定理,最后通过计算机仿真验证的方式对这6种典型运行模型的可调度性进行了分析和对比。     

综合模块化航空电子体系结构研究

军用航空电子系统体系结构关系到战机的可靠性、安全性、可用性、生存性、扩展性和维修性等方面。综合模块化航空电子(IMA)是目前机载航空电子系统结构发展的最高阶段,其特征和优势已经在美国四代机上得到充分展现和发挥,为我国四代机综合航电的研制工作提供了参考依据。回顾了机载航空电子体系结构的发展史,分析了推动IMA体系结构发展的3个主要因素,归纳了IMA的特点,从信息流处理的角度对IMA体系结构进行了划分,并研究了适应于IMA的两种典型的综合航电软件体系结构,指出了发展趋势。最后就我国综合航电体系结构的研究和发展所面临的问题进行了初步探讨。     

浅谈电子公文交换系统设计

不同企事业、不同单位部门建立自有的业务应用系统,形成信息量庞大、内容丰富、种类繁多的信息服务体系,但这些业务应用系统之间建设在不同硬件平台、不同的网络环境、不同数据库环境上,导致数据共享、信息交换难以实现的问题。文章从电子公文交换系统设计方面来阐述业务应用系统难以实现数据共享和业务协同的解决办法,打破各网业务应用数据信息孤岛,从而达到全网互联互通的目的。     

航空电子通信系统关键技术问题的浅析

本文将就航空电子通信系统关键技术问题进行分析和探讨,并给出一些合理建议,以期能为相关从业人员带来一些帮助和启发。     

舰载直升机航电系统的通用测试要求

根据海军舰载直升机的特殊保障需求,提出一种舰载直升机航电系统的通用测试思想:通过一套通用配置的测试设备完成对所有舰载直升机航电设备的接口测试、功能测试和维护支持.首先简单介绍了通用测试的原理,在此基础上给出了通用测试的设计方案,最后对现役装备的适用性进行分析.     

CCD图像传感器输出节点电荷容量设计

从电荷耦合器件(CCD)的满阱电荷容量和片上放大器的工作电压范围两个方面对器件的节点电荷容量进行了设计,并推导出输出节点电荷容量设计的优化公式。从公式中可以看出,输出节点的电荷容量设计除了需要满足CCD信号电荷转移本身所需的容量值以外,还必须保证节点处的电压变化范围在输出放大器线性工作区域内,才能使信号电荷能够完整线性地被放大器输出,从而保证CCD器件整体的非线性和满阱容量性能。因此,输出节点电荷容量的设计除了需要考虑节点自身的电容外,还应综合考虑输出放大器相关MOS管的宽长比、阈值电压、工作电压等因素。     

冲击波测试系统中GPS同步技术研究

针对冲击波测试中各测点因物理上分散隔离导致无法同步的现状,提出了一种基于全球定位系统(GPS)的同步方法。阐述了冲击波测试系统的基本原理以及组成结构,对比了现有同步技术的优缺点,从软硬件方面对GPS同步单元进行了分析和设计。在冲击波测试中进行GPS同步性能检测,系统对冲击波传播时间的测量误差小于0. 02%,同步精度优于1us。结果表明,所提方法可以解决大当量战斗部测试中各分布测点同步的问题,现场操作简单,易于工程实现。     

局域网服务器缓冲区容量的Petri网设计法

本文在分析局域网服务器信息缓冲区、数据包接收和发送缓冲区的相互关系基础上提出了一种新的局域网服务器缓冲区设计方法——广义随机Petri网方法。并针对局域网服务器信息缓冲区给出了它的广义随机Petri网模型。该设计方法理论完备,严谨实用,且不再局限于追求某一边界值(上限或下限),并且避免了排队理论处理多级服务的繁琐公式.最后本文用一例题说明了这种方法的应用。     

无线传感器网络节点节能管理方式的研究

无线传感器网络节点数量众多、自身携带的能量十分有限。为了延长网络的生命周期,需采用有效的策略降低能耗。在研究无线传感器网络节点组成结构、能量消耗以及节点间传播方式的基础上,提出一种为有效地达到节能目的所采用的节点管理方式。该方案采用动态选择簇头节点的自组织、多跳路由、层次式拓扑组织结构的路由协议、快速的数据融合技术,并在实现硬件的低功耗设计的条件下进行动态功耗管理。     

分子束外延HgCdTe薄膜的CdTe缓冲层特性研究

CdTe是GaAs衬底上分子束外延(MBE)HgCdTe薄膜时的缓冲层,引入缓冲层的目的是减小失配位错,CdTe缓冲层的生长直接影响到后续HgCdTe薄膜的制备质量,然而目前现有文献鲜有报道CdTe缓冲层的最佳厚度.采用X射线双晶衍射、位错腐蚀坑密度(EPD)、FT-IR和椭圆偏振光谱的方法,从CdTe缓冲层厚度对位错密度的影响入手,分析并确定了理想的CdTe缓冲层厚度.     

激光二极管寿命测试方法研究

文中介绍了半导体激光二极管(LD) 寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模 型,并据此设计了LD 高温加速寿命自动测试系统。系统通过采集恒流工作LD 的平均输出光功率随时间变化的信息,绘制LD 的老化曲线,即恒流条件下的P - t 曲线,或通过采集恒功工作LD 的工作电流随时间变化的信息,即恒功条件下的I - t 曲线,然后推断LD 正常条件下的使用寿命。     

存储容量单位表示方法的探讨

存储容量是存储器的一项主要技术指标。目前,存储容量的单位通常采用SI(国际单位制)词头(简称十进制词头)符号与字节符号B构成的十进制倍数单位,亦即用K或k(1 03=1 000)表示210=1 024,用M(106=1 0002)表示220=1 0242,等等,因此,它们与真实数值存在误差,数值越大,其误差越大,常常造成误解,甚至引起纠纷。而且,还存在词头K和k混用、词头独立使用等问题。因此,应规范使用十进制词头k,构建二进制词头,避免独立使用词头。建议采用二进制词头构成倍数单位,用K i代替k(或K)表示210=1 024,用M i代替M表示220=1 0242,用G i代替G表示230=1 0243,用Ti代替T表示240=1 0244。     

基于模糊逻辑的开关磁阻电机无位置检测方法改进

阐述开关磁阻电机驱动系统中取消位置传感器的理论依据,介绍一种基于模糊模型的转子位置检测方法。此方法以电流和磁链作为输入,用模糊算法运算得到转子的位置。为提高转子的精度,引入几种改进算法。前置滤波器用来检测和消除反馈信号中的噪声,自适应模糊参考系统用于优化电机模糊模型,位置预测模块则对转子位置进行修订。仿真分析证明,这种转子位置检测方法具有很高的精度。     

面向FPGA芯片开发的测试方法设计与实现

针对自主研发的SOI-CMOS工艺FPGA芯片VS1000,开发出一种FPGA测试工具(VVK)软件系统.VVK是借助Verilog HDL描述电路和UCF约束电路的特性开发并实现的全自动测试方法.其意义在于解决了设计FPGA芯片过程中面临的最冗繁棘手的验证和测试难题,可以实现FPGA全芯片、内部各种逻辑模块的功能结构的验证和测试.该工具可以用于FPGA流片前的行为级、晶体管级的仿真和验证、FPGA圆片测试、以及FPGA芯片抗辐照测试.验证和测试的结果证明了这套方法的正确性、高效性,同时这种测试方法也适用于其他架构FPGA的测试.