多音测试在广播中的应用

主要论述多音测试的原理及其在广播实时测试中的应用，以克服单音测试的缺点，从而更及时、更真实、更准确地反映广播播出系统的工作状态。     

测试行业的标准-PXI

在20世纪90年代后期，测试及测量工程师一般只有两种测试专用平台可以选择-VXI和GPIB。VXI虽然实现了平台的模块化，但是价格昂贵、使用复杂，并且无法利用主流计算机的技术实现更高性能。GPIB具有更广的功能性和较高的性价比，但是却难以集成到同步、高神的测试系统中。1997年，NI起     

自动连续测试的有效性及自动测试系统

电子设备在提高功能和性能的同时也向小型化、轻量化迅速发展。这就要求在尽量缩短产品开发时间的同时，必须确保产品的可靠性及安全性。为了达到这个目的，就必须要更有效、更正确地实施环境试验。爱斯佩克公司为了满足这些要求，将环境试验与电气特性测试相结合，设计开发了能够通过在环境试验条件下对试样特性连续测试，实时把握试料特性和判定异常状况的各种自动测试系统。在此对自动测试系统的有效性及其部分构成作以下介绍。     

基于TTCN的测试执行方法及其应用

测试执行是协议一致性测试系统中的主要部分，本文提出一种基于测试描述语言ＴＴＣＮ的操作语义对标准测试集进行了解释执行的测试执行方法，利用这种方法所实现的一致性测试系统具有很强的灵活性和独立性，同时大大提高了测试的效率，另外，我们还介绍了基于这种测试方法所完成的协议一致性测试系统（ＰＣＴＳ）的总体结构，设计思想以及测试配置。     

浅谈测试软件的算法对测试精度的影响

本文以调频发射机自动化系统为例,提出了自动化测试系统中软件算法与测试精度的关系,旨在提示无线电检测工程师在开发和验收自动化测试系统时,不仅要关注软件功能,更要注重系统本身对测试的影响。     

一种集成电路离线／在线测试系统平台的设计与实现

该文介绍一个芯片级数字集成电路测试系统，主要介绍该系统的测试原理，基本构成和硬件平台的设计方法。     

吉时利用于高速产品测试的RF测试方案

吉时利仪器公司近期发布的2800RF功率分析仪，主要用于无线电话、RFIC功率放大器和相关RF器件的高速测试。2800采用独特的设计结构，首次提供了可满足更高速产品测量需求的RF功率测试，并具有优秀的测试质量和比传统的产品更低廉的成本。高速的测试可以从根本上缩短测试时间，有效地降低测试成本。     

以低廉的测试成本和灵活的测试结构测试混合信号器件

对日益复杂的消费产品不断增长的需求，引发了应用于消费类电子、汽车、工业和通讯领城的混合信号集成电路的需求急剧上升。时至今日，半导体制造商们把高速的数字逻辑电路和先进的模拟电路集成在一起制造出功能越来越强大的混合信号IC。器件的复杂度在不断上升，但是其售价不可能随之飙升，半导体公司都发现他们面临看这样一个难题，即如何在降低测试成本的同时保证复杂的IC产品的质量。半导体公司发现他们需要改进测试构架、更先进的测试仪器、增强的测试开发环境以取得更高的测试产量并保证在测试上的投资有高的回报。为了应付这些挑战，顶光的测试系统结合了高性能的架构和先进的测试仪器以取得高端测试仪的产量，而所花的成本只是传统ATE系统的一小部分。在ATE上开发应用程序时，新一代的混合信号测试仅不仅能降低测试成本而且可以灵活地适应将来不同应用场合下的需要，这将有力地保护你在测试设备、硬件资源、数字混合器件上的工程投资。本文将要讨论混合信号器件测试的主要趋势，及其对测试成本的影响，和一些新的测试结构，这些新的结构在满足当前测试需求的同时还将有能力灵活地适应未来正在形成的测试需求。     

现代集成电路测试技术

本书是一部包括集成电路测试理论、测试方法、测试标准，各种类型调试系统，测试辅助设备和测试系统计量等内容的现代集城电路测试技术全书，具有全面性，系统性和实用性的特点。     

测试技术发展趋势

IC测试、通信测试、网络测试和 虚拟仪器的发展已出现一些新的势态。降低测试成本成为发展IC测试的首要目标对体积更小、功能更强的芯片的需求正推动IC产业的发展,同时也推动着IC设计和测试的发展。对于系统芯片（SOC）的测试,其成本已几乎占芯片成本的一半。根据英特尔公司副总裁提出的测试摩尔定律,未来几年,每一晶体管的硅投资成本将低于其测试成本。 因此未来IC测试设备制造商面临的最大挑战是如何降低测试成本。过去的集成电路主要分为模拟电路、混合信号电路和数字电路。１９９８年,称之为MACH-D的（即存储器、模拟、通…     

论SPP结构测试系统的试验速率

文章在简单介绍测试系统的ＳＰＰ结构后，重点讨论了ＳＰＰ结构测试系统与传统测试系统在提高测试速率方面的区别，显示出ＳＰＰ结构的巨大优越性。     

现代集成电路测试技术

本书是一部包括集成电路测试理论、测试方法、测试标准，各种类型测试系统、测试辅助设备和测试系统计量等内容的现代集成电路测试技术全书。具有全面性、系统性和实用性的特点。本书的目的是使读者对集成电路测试问题有一个明晰的解决方法的轮廓，知道今天的集成电路测试需要做什么？我们能做什么？还会有什么样的难题？发展的方向是什么？     

蓝牙设备的测试方案

本文系统的阐述了蓝牙测试模式建立和测试方案，分析了蓝牙协议测试的统一接口-测试控制接口，对L2CAP一致性测试结构进行了分析和论述。     

RLC式UPS测试系统新功能“抢鲜”亮相【凯翔负载】

目前,大多UPS生产厂家及用户多采用常规负载,垆只能进行常规的UPS稳态测试、动态测试的负载装置。河北凯翔电气科技股份有限公司推出的RLC式UPS测试系统,新增了不平衡测试等功能,测试更全面。     

规划综合性强、性价比高的芯片测试策略

得益于芯片设计方法的不断提高，以及高密度工艺技术，如今生产的数字、模拟模块集成到一块芯片中的系统芯片，其尺寸小巧，功能强大。随之也引发了一个前所未有的挑战——生产商该如何测试这些芯片，且使测试过程高效廉价。正因为将多种功能模块集成到了一块芯片当中，使得传统的测试方法无法应用到系统芯片中去。为了解决系统芯片测试问题，一个更为全面、综合的测试方法产生了，这种方法更好地帮助实现从设计到测试的过渡，加快样片的质量验证，并能提高大批量产品测试的性价比。这种方法的核心是高效的测试开发能力，可以满足复杂测试的产量要求。此测试平台具有能适应复杂的模拟、数字测试性能的仪器。尽管系统芯片日趋复杂，这种方法通过有效地平衡设计与测试资源，向用户提供了更为有效的测试方案，缩短了测试时间。     

令IEEE 1149.1扫描链的管理更为方便

符合 IEEE 1149.1 标准的芯片日渐普及。对于设计测试 (Design for Test)工程师来说，这类芯片可以协助他们解决如何深入电路板进行测试的复杂测试问题。由于集成电路的结构日趋复杂，而电路板上的电路也远比以前密集，专用的 5 线串行测试总线可以提供一条简便而又标准化的路径深入系统内部的测试节点，这是采用目前的电路内测试(ICT) 方式所无法做到的。许多新一代的电路板设计都采用 JTAG 标准，以便工程师可以深入系统内部进行测试及编程。其实对于很多应用方案来说，没有其它更有效的方法可以将电路板错误率减低至可接受的水平，…     

CTTL与思博伦合作

CTTL（中国泰尔实验室）选择思博伦通信的C2K—ATCSC系统作为手机信令一致性和网络安全性能测试的测试方案。采用C2K-ATSSC系统,CTTL现在可以进行更全面的CDMA手机的认证测试,不仅包括了物理层的测试,也包括了协议一致性和R-UIM卡测试。     

测试与测量

实现更快捷半导体测试的集成测试系统；新型自动3维X-Ray AOI／AXI同步检测设备；新型单相防篡改液晶电度计量集成电路；全新综合诊断测试解决方案；扩大移动WiMAX协议测试的解决方案.     

Web回归测试系统的设计与实现

针对Web应用测试的特点,探讨了Web应用自动化回归测试系统的实现原理,并进一步介绍了该系统的实现。首先,为了与.NET框架更好地结合,系统使用C#语言脚本语言;其次,使用对象测试技术,利用网页元素多属性特征,实现与路径无关的定位方式,生成可靠的、可复用的、简洁的测试脚本;最后,在数据驱动模块实现两种类型的数据绑定,不仅支持传统数据库文件中数据的绑定,同时提出支持自定义随机数据,让测试用例对被测系统有更大的覆盖性,较常规测试更能发现被测系统中存在的问题。系统成功地应用于一些通信营销系统的部分功能回归测试及数据迁移。     

Aeroflex发表4520独立飞针测试系统

Aeroflex发表4520独立飞针测试系统,其为一项能符合多样化电路板测试需求的解决方案。4520是针对独立平台上进行高速、高精准度之无夹具测试而设计,并能以更低的进入成本提供使用者4550线上飞针测试系统的优点：4520独立测试系统提供短期程式开发时间,以及元件编程、边界扫描及功能性测试等性能。该系统适用于不需线上测试的低至中量级印刷电路板制造环境,以降低每个电路板的测试成本。