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介绍了一种声信号发射系统的设计方案.系统是基于CPLD产品XC2C128控制,并通过EPROM(M27C64A)实现了波形存储,信号经D/A转换器(AD5330)、功率放大器(MAX9703)和变压器输出.另外,可通过改变存储器内波形存储的编码方式或存储器的型号和容量,实现时分复用(TDM)、频分复用(FDM)和码分复用(CDM).经多次实验验证了该系统的可行性和扩展性. 相似文献
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针对标准电压源的高失调性、低稳定性等缺陷,提出了一种高精度精密电压源的实现方案。通过标准电压源的生成过程分析基准电压源对数模转换器的要求,进而选择20位高精度数模转换器AD5791。重点阐述了其电路的设计方案,并结合AD5791的硬件特性和软件设置克服了以往数模转换器作为基准源的高失调现象。对实验数据进行测试表明,该方案具有线性度高、稳定性好的优点,能输出0~10 V连续电压且其输出精度可达0.02mV,线性度高达99.996%,能够满足高精密电压源的设计要求。 相似文献
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《电信技术》2008,(10)
ADI公司最新推出一对时钟发生与分配IC——AD9520与AD9522,实现了器件集成度、低噪声、低抖动性能与信号输出灵活性的较好组合。AD9520与AD9522多输出时钟发生器内置一个512byte的嵌入式EEPROM存储器模块,为系统工程师提供了可用作时钟源和系统时钟的双重可编程时钟解决方案。通过利用片上存储器对具体的输出条件集合进行编程,设计工程师可以轻松地将AD9520,2配置为时钟源,以确保系统上电或复位时初始处理功能的同步。其他同类的时钟IC则需要独立的时钟源,为了对系统时钟芯片进行编程,必须与系统处理器或微控制器进行单独匹配,这会增加网线卡、无线与宽带基础设施、医疗成像以及数据转换器时钟设计的器件数量、成本及复杂性。 相似文献
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介绍了一种声信号发射系统的设计方案,系统是基于CPLD产品XC2C128控制,并通过EPROM(M27C64A)实现了波形存储,信号经D/A转换器(AD5330)、功率放大器(MAX9703)和变压器输出。另外,可通过改变存储器内波形存储的编码方式或存储器的型号和容量。实现时分复用(TDM)、频分复用(FDM)和码分复用(CDM)。经多次实验验证了该系统的可行性和扩展性。 相似文献
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为了准确有效解决电压比较器阈值电压取值大小问题,改进阈值电压的调节方式,设计了一个以FPGA、AD转换器、DA转换器为核心的电压比较电路。该电路用AD模块对脉冲波形采样,并将采样数据输入到FPGA,FPGA读取波形峰值,然后根据峰值设定阈值电压大小。设定好的阈值电压数值被DA模块以模拟电压的方式输出,从而实现阈值电压的自动设定和调节。实测阀值电压与理论值相比,最大相对偏差为3.778%.结论表明,该电压比较电路实现了阈值电压大小的自动设定和调节,稳定性好,操作便利,具有很好的应用价值。 相似文献
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MIMO雷达为了避免通道间的相互干扰,为了获得对多目标检测的高分辨率,因此设计具有低自相关旁瓣峰值和互相关的正交信号集对于实现MIMO雷达系统是至关重要的,正交相位编码信号就具有上述优点.针对MIMO雷达发射波形正交的特点,以二相码为例的设计原理,设计了一种由主控计算机、波形控制模块和数字中频合成模块构成的二相码波形产生器.给出了基于AD9910单频调制方式产生单通道二相码信号的方法和OSK功能产生多通道二相码信号的方法,并给出了测试结果,验证了方案的正确性和可行性. 相似文献
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受到现有测试设备的限制,高精度的D/A转换器(数模转换器)测试一直是混合信号测试中的难点,本文探讨了高精度数模转换器(DAC)测试的一种新方法.该方法通过在微弱被测电平上叠加参考正弦波,测试叠加后波形的过零点在时域上的分布情况,以了解DAC的静态特性参数.该方法的优点在于充分利用了现有ADC(模数转换器)的速度优势,原... 相似文献
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程梦璋 《微电子学与计算机》2013,(10)
提出了一种新颖的数模转换器(DAC)静态参数内建自测试(BIST)方法。该方法采用斜坡信号发生器和两个参考电压作为标准信号源和误差极限电压,测试DAC的四个主要的静态参数:失调误差(offset),增益误差(gain error),积分非线性误差(INL )和微分非线性误差(DNL ),有效地节省了参考源的数目。静态参数计算的优化以及测试器件的共享使得BIST电路所占芯片面积大大减小。仿真结果表明该方法是一种简单的测试DAC静态误差的内建自测试结构。 相似文献
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M. Senthil Sivakumar S. P. Joy Vasantha Rani 《International Journal of Electronics》2019,106(8):1127-1140
This paper proposes a time domain modelled built-in self-test (BIST) with ramp noise projection and their effects on analogue to digital converter (ADC) in testing. A self-biased linear ramp generator has been proposed for high precision testing. Threshold inversion quantization (TIQ) comparator based fast switching flash ADC has considered under test. A time domain model of output response analysis technique has been proposed to calibrate the linearity errors of the converter. An ADC has been validated with different input frequencies to characterize the harmonic distortion and average delay of the system. The proposed testing technique requires less time to measures the uncertainties of the ADC since the full computation is performed within one ramp cycle. The testing results of the proposed BIST technique are aimed to characterize, validate and compare to the best results of the existing ADC BIST techniques for test accuracy. 相似文献
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基于DDS的高精度任意波形发生器设计 总被引:1,自引:0,他引:1
系统利用直接数字频率合成技术(DDS)完成任意波形发生器设计,以FPGA作为核心控制器件,用Flash和RAM作为波形数据存储模块,在上位机软件的控制下,利用高精度D/A转换器,实现正弦波、方波、三角波、锯齿波、高斯白噪声等任意波形输出。系统可广泛用于通讯、遥控遥测、震动激励和仪器仪表等领域。 相似文献
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This work presents built-in self-test (BIST) techniques for the production testing of mixed signal circuits. The special test strategy for the typical mixed-signal component analog-to-digital converter (ADC) is discussed. The traditional test for such mixed-signal components can be completed through a DSP-based mixed-signal tester with an arbitrary waveform generator and a signal digitizer, but such a test is very costly and time consuming. Hence, a BIST strategy based on an on chip ramp generator (OCRG) is proposed in this work for testing ADC. This BIST method has an advantage testing ADC without DAC to overcome area overhead. This BIST method realizes the test controller, test pattern generation and output response analyser at the aspect of the on-chip circuitry. The demonstration of the proposed BIST is given through various simulation results in the last parts of this work. 相似文献
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本设计能够精确的测量直流电压、交流电压,具有测量精度高,抗干扰能力强等特点。整个系统可以用一块9V电池供电,实现了低功耗和便携功能。交流测量是用AD637真有效值转换芯片将交流信号转换成直流电压后测量;用带钳位保护的反向放大器进行输入电压转换,实现了10MΩ的输入阻抗和高安全性。电路中关键器件采用TI公司的精密运算放大器OPA07和仪表放大器INA128,实现了高精度的测量;ADC采用STM32f103ZET6片内自带的12位AD,实现了低功耗,量程自动切换功能。 相似文献