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相似文献
 共查询到16条相似文献,搜索用时 109 毫秒
1.
本文建立了一个电子散斑干涉(ESPI)系统。干涉图样经模拟电子处理,去掉散斑频谱以外的大部分噪声;再经数字图像处理,去掉散斑频谱内的残留噪声。与传统的ESPI系统相比,本系统大大提高了干涉条纹可见度,改善了测量精度。实验测量了几  相似文献   

2.
针对电子散斑干涉(ESPI)法处理大位移时的困难,提出了一种改进的ESPI法。将数字散斑相关法(DSCM)引入ESPI中,由DSCM计算引起散斑去相关的面内位移,将所得二维面内位移对失配散斑场进行校准,恢复干涉条纹。用对离面位移敏感的ESPI光路,结合相移方法求得对应离面位移的相位数据,和二维面内位移一起,构成物体三维位移。对周边同定、中心加载的有机玻璃试件进行了测量,结果表明能产生质量干涉条纹,证明该方法是合理、可行的。  相似文献   

3.
电子散斑干涉条纹处理偏微分方程方法的回顾与展望   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了偏微分方程(PDE)图像处理的基本原理,构造偏微分方程模型的变分法和常见的滤波模型,并给出常见滤波模型的能量泛函。回顾了近几年偏微分方程图像处理技术在电子散斑干涉(ESPI)条纹处理中的应用成果,包括应用偏微分方程图像处理方法同时实现电子散斑干涉条纹图和相位图的滤波和增强处理,提出用于密集电子散斑干涉条纹处理的方向偏微分方程模型及提取电子散斑干涉条纹骨架线的偏微分方程方法。介绍了这些方法与传统方法相比的优势,并进一步展望了偏微分方程图像处理在光测技术中的发展趋势。  相似文献   

4.
基于电子散斑干涉技术快速评价半导体器件可靠性   总被引:2,自引:1,他引:1  
提出了一种基于电子散斑干涉(ESPI)技术的快速评价半导体器件可靠性的新方法.通过给试件施加序进的加速温度应力,采用ESPI技术测量其封装离面位移随温度变化的规律预测其工作寿命.对简单半导体器件样品进行了实验,得到了散斑条纹图随试件温度的变化规律,根据变化规律快速提取出了试件的激活能,推算出了试件常温条件下的工作寿命....  相似文献   

5.
电子散斑干涉载频调制形貌测量技术   总被引:7,自引:0,他引:7  
提出了电子散斑干涉(ESPI)载频调制测量物体形貌的方法.在ESPI中,物体表面的微小偏转可引入包含物体高度信息的载波干涉条纹,具有灵敏度高的优点.用摄像机采集该载波条纹图,利用傅里叶变换法可解调出物体高度的位相信息,从而实现物体的形貌测量.  相似文献   

6.
为实现电子散斑干涉条纹图骨架线的自动提取,引入了深度学习技术。网络利用带噪声的电子散斑干涉条纹图和对应的骨架线图进行训练,然后将所有待测电子散斑干涉条纹图同时输入训练后的网络中,即可直接得到相应的骨架线图像。提取200幅实验电子散斑干涉条纹图的骨架线只需11.7 s,且对于存在断裂的电子散斑干涉条纹图,传统骨架线法会失效,利用训练完成的网络可获得完整骨架线。通过对该网络在模拟电子散斑干涉条纹图和实验电子散斑干涉条纹图上性能的评估,证实了基于深度学习的电子散斑干涉条纹图骨架线智能提取的可行性。  相似文献   

7.
ESPI技术测量静态和准动态面内位移   总被引:4,自引:1,他引:4  
利用高速CCD摄像技术和电子散斑图干涉(ESPI)法,研究了薄板的静态和准动态面内位移测量技术。采用小光圈成像技术和图像灰度进行线性变换的图像处理技术,实现对散斑图像的低通滤波和高通增强处理,提高了散斑条纹的对比度和清晰度,为条纹图的定量处理提供了方便。  相似文献   

8.
为了改进传统多尺度变换滤波在电子散斑干涉(ESPI)条纹图中去噪效果和边缘细节保护不理想问题,提出改进非下采样轮廓波(NSCT)滤波算法。采用离散平稳小波变换和NSCT变换模型,联合非线性扩散和改进的快速非局部均值滤波算法,进行了理论分析和实验验证,取得了将本文中算法应用于模拟和实验ESPI条纹图滤波效果定量分析的数据。结果表明,本文中的算法在模拟ESPI条纹图和实验图相比其它算法散斑指数最小分别为0.41121,0.38043,0.35362,对应峰值信噪比最大;该算法在提升去噪能力的同时,能够更好地恢复条纹细节信息。研究结果为以后应用多尺度变换滤波在ESPI条纹图打下了基础。  相似文献   

9.
近年来,电子散斑干涉测量技术(ESPI)在光学粗糙表面的变形测量和无损检测方面应用广泛。应用该技术时,条纹图中大量的散斑噪声给提取条纹信息带来了极大的困难。偏微分方程图像滤波方法是一种方案灵活、处理效果良好的图像去噪方法,尤其是方向偏微分方程,因其只沿着条纹方向进行滤波,更适合电子散斑干涉条纹图。由于条纹图的疏密程度不同,因此在考虑滤波方向的同时,还应考虑不同位置像素点的滤波程度。该文在方向偏微分方程基础上引入非连续性测度,提出结合非连续性测度(DCM)的方向偏微分方程。利用该方程对模拟的条纹图以及实际获得的条纹图进行滤波,实验结果表明该文方法能够充分滤除稀疏条纹处的噪声,同时有效保持密集条纹处的重要特征。  相似文献   

10.
应用ESPI和实时全息测量轴对称温度场   总被引:2,自引:0,他引:2  
本文应用电子散斑干涉法(ESPI)和实时全息干涉法,从互相垂直的两个方向,同时测量了酒精灯火焰温度场和喷射(jet impingement)温度场。文中应用交互式高速数字图像处理系统处理了全息和散斑条纹图,并定量计算了剖面上的温度分布。还就可能出现的实验误差进行了分析。  相似文献   

11.
陈刘  顾济华  周皓 《激光杂志》2007,28(5):44-45
提出一种将散斑干涉应用于光学加密的方法.在任意一束散斑干涉光路中放置含二值信息的相位掩膜,由散斑干涉产生实振幅型加密图像,移去相位掩膜可得到解密密钥.该方法用双随机幅-相进行编码加密,提高系统安全性,更换密钥方便,解密图像信噪比高,可用于大信息量二值图像加密.加密图像是实值,便于显示或打印.本文给出了计算机仿真实验结果.  相似文献   

12.
本文简介了国内外向列相液晶相位调制特性的研究概况,对ZLI-1565型平行、扭曲型向列相液晶的相位调制特性进行了实验研究。结果表明平行式向列液晶相移量大、光强变化小,并利用这一特性,将相移技术引入到剪切电子散斑干涉术中,提高了检测精度;相移方法简单、可靠。用该系统进行应变场的测量实验,取得了满意的效果。  相似文献   

13.
李欣  张文茂  曾启林 《激光与红外》2011,41(9):1045-1048
重点研究了Curvelet变换的去噪原理及方法,并结合ESPI条纹图中散斑乘性噪声的特性,提出了改进的Curvelet变换去噪方法,即在去噪之前,先将图像进行对数变换,使得乘性噪声变成加性噪声,然后再进行Curvelet变换去噪,这样会更有利于噪声与边缘信息的分离。并把该方法应用在对轮胎的激光无损检测图像处理系统中,实验结果表明该方法在有效去除散斑噪声的同时,较好地保持了条纹图的边缘细节信息。  相似文献   

14.
基于同态滤波的电子散斑干涉图像处理   总被引:2,自引:1,他引:1  
由于散斑具有可测的强度和确定的相位,正逐渐被人们重视和进一步研究,现广泛应用于无损检测领域。电子散斑干涉条纹图上总是附带大量的随机散斑颗粒噪声。一般来说,散斑图像记录的变形信息主要集中在低频部分,而噪声主要在高频部分。为了得到变形物体的连续相位分布,需要用适当的方法对散斑干涉条纹图像进行滤波降噪处理。同态滤波是一种将亮度范围压缩和对比度增强的频域处理方法。采用基于同态滤波原理设计出的新的低通滤波器,将其运用于3步相移电子散斑干涉条纹图像处理,并从理论上进行了详细的论述。结果表明,运用该滤波器处理散斑条纹图像,过滤了大量的散斑颗粒噪声,增强了散斑干涉条纹的对比度。  相似文献   

15.
为了快速有效地测试和分析集成电路封装的热特性,本文以激光电子散斑干涉术(ESPI)为测量手段,在分析了集成电路热学结构模型的基础上,建立了离面位移的响应方程。选用大规模的集成电路CPU486为实验对象,并以动态老化的方式实现了实验样品的功率加载,通过电子散斑干涉方法得到了离面位移的响应曲线,并对其处理得到了热阻-热容关系曲线。实验结果与相关文献数据吻合,表明利用电子散斑测量集成电路封装的热特性是可行性的。  相似文献   

16.
利用光学连续相位扫描和正弦相位调制相结合 ,提出一种 ESPI时间平均测振的定量分析方法。由于采用光学连续相位扫描 ,该方法具有较强的抗环境干扰能力 ,不需要精确校准光学相移器 ,并且能自动定量地给出物体的全场振幅分布。  相似文献   

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