TFT-LCD Panel高温Cell Gap变化趋势探究

<正>随着TFT-LCD行业的迅速发展,市场竞争也日趋激烈,用户对画面品质的要求也越来越高,因此改善显示质量成为TFT-LCD行业亟需解决的问题。Mura作为显示行业常见的画质不良,备受业内关注。其中的重力Mura是由于工艺波动,液晶量超过LC Margin引起的,其在常温下一般不会影响显示质量,难以拦截,但在高温加热条件下,液晶膨胀并因自身重力作用而下沉,造成Cell Gap不均匀,若Cell Gap均匀性很差,有强烈的变化,     

基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法

针对传统的Chan-Vese模型(C-V模型)分割背景不均匀的TFT-LCD Mura缺陷速度慢的问题,将水平集函数与符号距离函数的偏差作为能量项引入C-V模型,去掉了符号距离函数重初始化步骤;为了平衡图像的整体亮度不均匀,在传统的C-V模型中引入轮廓曲线内、外部区域之间的亮度差项,提高了分割准确性。在数值实现上,采用无条件稳定的半隐差分格式,适当加大步长,加速曲线演化过程,相比于有限差分格式和AOS格式,分割速度明显提高。实验结果表明,本文提出的算法能够准确地分割背景不均匀的Mura缺陷图像,并且分割速度快。     

基于自适应局部增强的手机TFT-LCD屏Mura缺陷自动检测

针对手机屏幕图像整体亮度不均以及Mura缺陷对比度低等特点,提出一种基于自适应局部增强的Mura缺陷自动在线检测方法。首先对CCD相机采集的手机屏幕原始图像进行感兴趣区域提取、几何校正、滤波等预处理,获取图像中的屏幕区域,然后将屏幕区域划分为多个不重叠的像素块,并根据每个像素块的灰度分布特征,采用自适应局部增强算法自动识别并定位图像中的Mura区域,最后考虑到Mura缺陷大小的不确定,提出采用多层级分块的方式对屏幕区域进行检测,提高算法鲁棒性。实验结果表明,相较现有多种屏幕缺陷自动检测算法,本文方法能更准确有效地识别手机屏幕中的Mura缺陷,且覆盖率和误检率分别为91.17%和5.84%。     

TFT-LCD工艺中角落白Mura的成因机理研究与改善

在新产品导入过程中会突发各种Mura类不良。本文为解决TV机种导入中出现的一种原因未知的角落白Mura,首先进行了大量的排查和推理,初步判定异常来源于成盒工艺(Cell)段,利用气相色谱(GC)、高效液相色谱(HPLC)设备测试并对比了角落白Mura区域与正常区域的液晶纯度、液晶组份和框胶溶出的差异,最后探讨了其形成的机理。结果表明角落白Mura区域液晶组份发生较大变动,液晶组份挥发是角落白Mura产生的主因。通过优化贴合时的真空抽气时间、真空保持时间、液晶滴下点数、液晶与边框胶距离等一系列的改善措施,使产品的角落白Mura发生率从16.59%降到了0.001%以下管控范围。实验有效解决了角落白Mura异常并为今后类似Mura类不良的对策提供了思路,同时提升了公司的效益和竞争力。     

TFT-LCD黑Gap分析及改善研究

黑Gap是大尺寸TFT-LCD产品常见的一种不良,它直接影响产品品质,降低产品竞争力。本文分析了黑Gap的发生原因及机理,指出面板放在卡夹中受到与卡夹接触点较强外力挤压后发生形变,柱状隔垫物受损,不能及时恢复导致黑Gap的发生。实验表明管控面板在卡夹中的存放时间,限制面板进行加热或降低加热温度,减少加热时间;增加面板与卡夹接触面积,减小面板与卡夹的接触角;增加柱状隔垫物与面板接触密度及辅助柱状隔垫物顶面柱径大小均可有效改善黑Gap。通过导入以上措施,使得黑Gap发生率由改善前的8.58%降低至0.1%,大大提高了产品品质。     

TFT-LCD制程中Sand Mura的失效模式分析及改善研究

在薄膜晶体管液晶显示器件(TFT-LCD)的制作过程中,Mura是一种常见的不良现象,它可以直接影响到产品的画面品质。本文结合生产工艺的实际情况,采用宏观微观检查设备Macro/Micro(M/M)、扫描电子显微镜(SEM)、聚焦离子束测试仪(FIB)等设备进行检测分析,研究了产品开发过程中出现的Sand Mura问题。实验结果表明,Sand Mura发生的主要原因是像素电极ITO在刻蚀过程中由于过刻发生断裂,导致在通电时该处液晶分子偏转发生异常,进而阻挡了光的透过而形成暗点;通过变更ITO薄膜的厚度及刻蚀时间等一系列措施,防止了像素电极在PVX过孔处因过刻引起的断裂,不良发生率降至0.3%,产品质量得到了很大的提高。此外,过孔设计优化方案有助于新产品开发阶段避免该不良的发生,为以后相关问题的研究奠定了一些理论基础。     

PCI结构TFT-LCD产品竖Mura不良机理分析及改善研究

针对像素电极与公共电极换位(P-ITO and C-ITO Interchanged,PCI)结构薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,TFT-LCD)产品中出现的一种竖Mura,结合生产工艺的实际情况,本文运用关键尺寸(Critical Dimension,CD)、EPM(Electrical Properties Measurement)、SEM(Scanning Electron Microscope,扫描电子显微镜)等检测设备,进行了大量的实验测试、数据处理和理论分析工作。通过测量Cell Gap、膜厚、CD、Overlay等特性参数,进行产品设计对比、光效模拟和Lens恶化实验,发现该不良与PCI结构的特殊性有关。其产生的根本原因是不良区域内两层ITO之间左右非交叠区域CD差异造成电场分布异常导致液晶偏转角度异常,最终导致屏幕亮暗不均。通过改变ITO对位方式提高两层ITO之间左右非交叠区域的均一性,有效地降低了不良的发生率(从26%下降到0.1%以内)。     

灰度与亮度拟合对LCD面板Mura改善的影响

选择有限的采样灰度级准确拟合出整个灰度区间的亮度和灰度关系,是影响LCD面板Mura改善效果、实时性和成本的关键因素。通过迭代方法优化采样灰度级,并采用分段伽马拟合方法研究了采样灰度级对Mura改善的影响。针对1 920×1 080的55 inTFT-LCD模组,6个采样灰度级的优化使拟合亮度曲线与实际亮度曲线的相对误差之和在0~255灰度级从5.64降到3.68,4个采样灰度级的优化使相对误差之和从29.27降到8.98。通过对6个和4个优化采样灰度级的实验结果比较和分析,结果表明,4个优化采样灰度级可以在Mura改善效果、实时性及成本三者之间达到较好的平衡。     

基于改进Chan-Vese模型的液晶显示屏Mura缺陷分割

液晶显示屏Mura缺陷是一类较难检测的显示缺陷,它具有对比度低、背景亮度不均匀、边缘模糊等特点。针对传统Chan-Vese模型(C-V模型)对其分割时存在误分割及速度慢的问题,本文提出一种改进的C-V模型。首先,依据曲线演化理论,简化了传统C-V模型的图像数据力驱动项,这样减少了迭代过程中的计算量,提高了分割的速度。其次,为了平衡图像的亮度不均匀,在模型中引入一个新的能量项,该能量项与轮廓曲线内、外部之间的亮度差有关,提高了分割的准确性。最后,在算法的实现过程中引入迭代停止的判别式,通过设定分割的精度可以实现迭代的自动停止,并有利于正确地分割出目标。实验结果表明,本文提出的改进C-V模型能够准确分割背景不均匀的Mura缺陷,并且具有较快的速度。     

TFT-LCD高温光照漏电流改善研究

造成TFT不稳定的问题点一般认为有两种:一是沟道内半导体材料内部的缺陷,另一个是栅极绝缘层内的或是绝缘层与沟道层界面的电荷陷阱。TFT-LCD在长期运行时由于高温及光照的影响会导致漏电流增加,进而对TFT造成破坏。分析研究表明,TFT沟道在刻蚀完成后,沟道内部存在一定的缺陷以及绝缘层与沟道层界面存在电荷陷阱,平面电场宽视角核心技术-高级超维场转换技术型产品由于设计的原因面临着如果进行氢处理会导致与其与氧化铟锡中的铟发生置换反应,导致铟的析出,所以无法采用氢处理。理论分析表明Si-O键稳定,本文主要介绍通过氯气/氧气和六氟化硫/氧气对TFT沟道进行处理改善高温光照漏电流。结果表明,通过氯气/氧气和六氟化硫/氧气处理TFT沟道后,高温光照漏电流从18.19pA下降到5.1pA,可见氯气/氧气和六氟化硫/氧气对沟道处理可有效改善高温光照漏电流。     

通信网综合预警管控平台的建设

近年来通信网发展迅速,数据业务对支撑网的要求也越来越严格.通信网承载着大量的各类生产和管理业务,随着这些业务对通信网的依赖性越来越大,如何合理地利用有限的资源,成为日益突出的问题,其目的是提高网络资源的利用率,从而提高网络的运行服务质量,更好地满足通信网的要求,保证通信网络的安全稳定运行.     

通信网综合预警管控平台设计和研究

随着通信网的迅速发展,为保证有效全面的对网络进行管理,合理高效利用各种电力通信资源,迫切需要建立通信网资源预警系统。通信网预警管控平台基于省内RMS系统以及专业综合网管系统的基础上,进行综合资源预警阀值管控,通过规则设置、自动预警派单,完成资源优化和调整,综合预警管控平台包括通信网络资源的配置管理、预警任务管理、统计分析管理、流程跟踪管理、系统管理;为进一步提高资源利用率、资源有效预警提供有力支撑,提高管理人员对资源管控和处理能力。     

TFT-LCD液晶显示行业高温高湿G线和黑团原因分析

TFT-LCD产品在高温高湿信赖性实验中的G线和黑团不良,是影响液晶显示产品品质的主要问题之一.G线与黑团会同时发生,有时也会单独发生,我们认为黑团与G线的产生有个共同原因:水汽渗入;该文重点讲述G线不良的分析内容.在显微镜下可明确G线的失效直接原因为框胶覆盖下的GOA电路走线区交换孔被腐蚀,这种腐蚀在新品以及量产阶段...     

基于GM-Markov模型的线缆温度预警系统设计

针对电力线缆分布情况复杂、缺乏全面有效预警手段等问题,提出基于灰色马尔科夫(GM-Markov)模型的线缆温度预警系统。首先分析温度预警系统设计总体结构以及数据通信方式,通过采用LoRa和GPRS相结合的方式,保证数据采集的可靠性;其次,通过灰色马尔科夫模型预测线缆温度,将预测结果用线缆温度预警模型进行故障判断,提高预警系统准确性;最后,通过实验验证线缆温度预警的可行性,并构建线缆温度分级预警平台,实现将各种故障信息及时推送给企业管理人员,达到实时预警的目的。     

电信企业流失预警管理体系建设

信息技术的日新月异,市场竞争的加剧,客户面对越来越多选择并变得越来越挑剔,固有的电信运营商不得不面对日趋严重的客户流失和话务流失问题。如何保持客户、话务存量,如何缓解流失,成为目前电信运营商市场经营一个重点工作。但是通过过去几年流失挽回营销工作实践发现,一旦客户已经出现流失结果,再对其执行挽留策略,成功的可能性很小;同时也发现,在客户出现流失征兆但尚未构成流失结果的时候,应用挽留策略,成功率大大增加。因此,改善以往对流失结果作判断再执行营销挽留的做法,研发流失预警模型、执行流失预警派单,建立基于各个营销环节并促使各环节形成闭环的流失预警管理体系,是将电信企业精确营销落到实处的关键。     

战术弹道导弹防御中的红外探测预警分析

在分析战术弹道导弹飞行弹道特点的基础上,说明了探测助推段的强大尾焰是对战术弹道导弹进行红外预警的主要手段。介绍了美国DSP预警卫星的工作机理,给出了一种预警模型的建立方法。     

基于神经网络的井漏风险预警技术

井漏是影响钻井施工安全最为严重的井下复杂情况之一,为了有效地预防井漏事故的发生,文章对井漏风险机理进行了研究,得出了井漏发生表征现象及井漏风险预警所需参数,此外,采用神经网络算法建立了具有自学习性质的神经网络预警模型,并运用现场数据对模型进行了检测,该模型能够很好地对钻井过程中的井漏风险进行预警,满足实际钻井施工的要求。     

预警机协同预警作战模型研究

为充分发挥在现代信息化战争中的作用,预警机需与其他预警探测装备协同作战。预警机协同预警作战的方式有空空协同、空海空地协同和空海协同3种。建立了预警机协同预警作战模型,丰富了预警机作战样式,提高了预警机预警作战效能。     

网络病毒安全评价和预警模型探讨

随着全球信息化建设飞速发展,网络病毒大规模频繁爆发已成为威胁网络安全的重要因素.对于网络管理者而言,迫切需要对整个网络病毒的流行状况、分布趋势有全面地了解.因此有必要设计开发符合实际需求的网络病毒安全评价和预警系统,及时发现病毒疫情的爆发情况,追踪病毒源头,切实提高对网络病毒的防范能力.     

基于重力模型的流量矩阵算法设计与实现

主要研究流量工程中流量矩阵的估算算法。据现有理论,文章采用重力模型方法,以C语言实现流量矩阵的估算,估算所需的初始输入数据和后期参考数据采用NS2仿真获得,且在仿真过程中,对OD流分三类构建合适的流量模型,以期更准确地拟合通信场景。最后,通过实验分析、验证,评价算法的有效性,并提出改进目标。