3G无线传播模型校正

介绍了3G模型校正中CW测试方法和原理、模型校正的方法、模型校正的最小二乘法原理及评判模型正确与否的标准，最后给出了一个传播模型校正实例。     

3G移动通信无线传播模型校正

阐述了3G无线传播模型校正的必要性，提出了模型校正的依据以及模型校正的步骤和方法，提出了检验校正结果的措施。     

WCDMA无线传播模型校正

传播模型的准确对小区的合理规划是十分重要的。利用CW测试获得的数据与数字地图对传播模型进行校正。介绍了单变量校正法和多变量校正法，最后给出了一个传播模型校正实例。     

基于CDMA网络的城郊传播模型校正研究

无线传播模型的建模是无线移动通信中的一个重要问题，对通信系统设计和网络规划有着重要意义。本文从COST 231-WI传播模型出发，通过射线分析方法分析了大中城市郊区环境的信号传播模型，并通过大量试验数据对模型中的参数进行校正。试验表明，该校正模型在城郊环境下比COST231-WI模型具有更高的精确性。     

无线传播模型研究

分析了电波传播模型校正原理,探讨了无线传播模型的校正方法,并根据上述原理和方法对武汉密集市区的无线传播模型进行了校正.     

光子计数探测器的响应函数标定及校正方法

建立了XCounter Flite X1型光子计数探测器的响应函数模型。利用X射线荧光作为射线源，通过蒙特卡罗方法，模拟了入射能谱与探测器材料中的能量沉积能谱。响应函数包括高斯函数与经验型的修正函数，修正函数由直线段构成，通过最小二乘的方法来确定其中的参数，探测器像素不一致性的校正包括阈值校正与响应函数的校正。把经过校正的模型结果与实验结果对比并计算平均误差，得到在各能量段下误差都小于2.5%的结果，利用该响应函数进行能谱恢复与材料分解，两者具有比较理想的结果，充分说明了该校正方法的有效性与准确性。     

双极工艺模拟的校正及其应用

介绍了双极工艺基区和发射区结构模拟所涉及的物理模型，包括与单种工艺有关的杂质分凝模型、硼的间隙扩散模型及高浓度磷扩散模型等。特别分析了与多步工艺有关的点缺陷模型及其模拟校正过程，最后给出了模型校正的应用。     

3G网络规划工具中传播模型校正要点的实例分析

传播模型校正是网络规划中关键的环节,本文首先介绍了传播模型校正的原理和方法,并对传播模型校正中CW测试数据的预处理进行了分析,进一步以实际网规工具中应用的实例分析了传播模型校正中的关键点,对实际的网络规划提出了指导。     

无线网规划中的传播模型校正

本文简要介绍了移动通信中传播模型的概念和几种常用的传播模型,论述了模型校正的必要性,并详细介绍了模型校正的步骤,同时对模型校正中可能出现的误差进行了分析.     

红外焦平面探测器响应非线性的测定

提出了一种定量红外焦平面探测器响应非线性的实验方法。通过实验获得探测器输出电压与辐射到光敏元上的辐射通量数据，进而进行曲线拟合，得到了红外探测器的响应非线性曲线——“S型曲线”，并且尝试建立了它的非线性数学模型。基于这种非线性模型，提出了一种新的校正思路——基于光敏元响应非线性的非均匀校正方法。这种校正思路较现有的温度定标校正算法更忠实于光敏元的真实特性，因而能达到更高校正精度。计算机仿真结果表明，根据响应非线性曲线进行校正的精度能提高到两点校正算法的3倍左右。     

软件测试过程模型和管理理念探讨

测试过程模型定义了测试的流程和方法,为测试管理提供了指导。但这些模型各有长短,并没有哪种模型能够完全适合于所有的测试项目,在实际测试中应该吸取各模型的长处,归纳出合适的测试管理理念。     

第三方软件动态测试模型的研究

基于敏捷方法的测试模型大多都是发生在软件研发过程中,这种测试模型虽然客观上适用于快速迭代的软件测试过程,实际上却还是有一定的局限性,比如代码具有传递性。本文基于敏捷方法测试模型提出了一种新的动态测试模型,这种测试模型不仅节省了大量的时间以及成本,同时还为后续设备投入使用提供了有力的保证。     

ARMA模型在雷达动态测量精度分析中的应用

针对雷达动态测量精度分析难题,分析了动态测量机理与特征,将随机过程理论应用于动态测试建模与精度分析。结合某型雷达验收试验,建立了基于自回归滑动平均过程(ARMA)的雷达动态测试模型,基于实测数据开展了模型平稳性检验、模型识别、模型定阶、参数估计、模型检验等建模工作,完成了某型雷达动态测量精度分析。实际应用结果表明:文中提出的方法符合动态测试规律,在雷达精度分析、提高测量精度等方面发挥了作用。     

基于路测数据的TD-SCDMA网络室外传播模型校正研究

无线传播模型是用来对无线电波的传播特性进行预测的一种模型。传播特性的预测是无线网络规划的基础,其准确性影响到网络规划的准确性和质量。本文针对连续波测试传播模型校正方法所存在的低效率和低准确性等问题,提出了一种利用现网路测数据进行传播模型校正的方法,从理论上证明了路测信号可以替代连续波测试信号用于传播模型校正。本文使用校正的传播模型是SPM模型。     

基于分区调度模型的IMA时间分区测试设计

针对综合模块化航空电子(IMA)时间分区测试问题,建立了IMA分区调度仿真模型。在该模型的基础上,提出一种可用于IMA时间分区测试的方法。该方法通过激励驻留在各个分区中的测试应用行为,增强了IMA各分区运行状态的可观测性。使用IMA分区调度模型生成了该测试方法可能产生的测试结果,针对模拟测试结果,分析并总结了该测试方法的时序特性。     

电磁波等效辐射功率测试方法研究

针对等效辐射功率(Equivalent Radiation Power,ERP)外场测试的问题,对测试方法进行了介绍,并梳理了外场测试系统构建的关注点,以保证测试的简便性和测量的准确性.同时对比分析了自由空间模型和双线模型两种电磁波空衰模型,由于存在多径效应,双线模型比自由空间模型能更好的反应电磁波在空间的衰减情况,最...     

Searching for Global Test Costs Optimization in Core-Based Systems

This paper proposes a comprehensive model for test planning and design space exploration in a core-based environment. The proposed approach relies on the reuse of available system resources for the definition of the test access mechanism, and for the optimization of several cost factors (area overhead, pin count, power constraints and test time). The use of an expanded test access model and its concurrent definition with the system test schedule makes it possible the search for a cost effective global solution. Experimental results over the ITC'02 SOC Test Benchmarks show the variety of trade-offs that can be explored using the proposed model, and its effectiveness on optimizing the system test planning.     

Functional fault models for non-scan sequential circuits

The paper presents two functional fault models that are applied for functional delay test generation for non-scan synchronous sequential circuits: the pin pair state (PPS) fault model and the pin pair full state (PPFS) fault model. The PPS fault model deals with the pairs of stuck-at faults on the primary inputs and the primary outputs, as well as, with the pairs of stuck-at faults on the previous state bits and the primary outputs. The PPFS fault model encompasses the PPS model, and additionally deals with the pairs of stuck-at faults on the primary inputs and the next state bits, as well as, with the pairs of stuck-at faults on the previous state bits and the next state bits. The main factor in assessing the quality of obtained test sequences was the transition fault coverage at the gate level of the selected according to the appropriate fault model test sequences from the generated randomly ones. The experimental results demonstrate that the implementation using presented functional fault models allow selecting the test sequences from the initial test set without the loss of transition fault coverage in many cases, and the number of the selected test sequences is much lesser than that of the initial test set. This result demonstrates that the functional delay test can be generated using the presented functional delay fault models before structural synthesis of the circuit.     

电子装备试验系统的灰色特性研究

电子装备试验中存在很多信息不完全、不确定及数据少等不确定性决策问题,灰色系统理论是解决这种贫信息问题的有力工具。该文首先总结了电子装备试验系统的组成、传统意义下的试验系统特性;进而从系统的角度,提出了试验系统具有结构灰性、关系灰性、模型灰性、认知灰性等灰色特征;最后研究了试验数据的不确定性来源及其灰色表现形式,并给出了试验数据的不确定性度量和系统不确定性的平均度量数学模型。研究结论可为扩展利用灰色系统理论分析解决电子装备试验系统中的各种不确定性问题提供理论支撑。     

基于RAS的测试用例描述及其应用研究

测试用例是对测试需求的一种规范化描述,测试用例描述直接关系到用例的设计、管理、检索、理解和组装。测试用例复用是测试资产复用中的关键技术,通过对测试用例的复用可以避免重复性劳动,提高测试效率。本文在可复用软件资产规约（RAS）的基础上进行了扩展,提出了一种支持刻面分类的测试用例描述模型（RTCSM）,并结合测试用例库的刻面分类法,给出了该模型在测试用例库中应用的实例。