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将采用化学沉淀法制备的Bi掺杂量为25%(原子分数)的SnO2纳米颗粒(Sn0.75Bi0.25O2)作为增强相,借助于粉末冶金法制备了AgSnO2(12)电接触材料,分析了Bi元素掺杂对电接触材料性能的影响。试验结果表明,Sn0.75Bi0.25O2纳米颗粒增强的AgSnO2(12)电接触材料组织结构均匀,密度、硬度高,导电性好。电性能试验表明,Sn0.75Bi0.25O2纳米颗粒增强材料的燃弧时间短、能量低,接触电阻低且稳定,抗电弧侵蚀能力强。 相似文献
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采用反应合成和热挤压方法制备新型 AgSnO2电接触材料.利用金相显微镜和扫描电镜研究了反应合成法制备的 AgSnO2材料热挤压前后的显微组织,分析了挤压速度、挤压模具等工艺条件对 AgSnO2挤压线坯显微组织的影响,计算了采用平模挤压和 45°锥模挤压的等效应力分布值,探讨了锥模挤压改善 AgSnO2加工性能的机理.发现快速挤压使 AgSnO2锭坯产生严重的径向不均匀变形,导致 AgSnO2沿径向不均匀分布;而慢速挤压得到较均匀分布的 SnO2 ,有利于 AgSnO2力学性能的提高.研究还发现 ,采用 45°锥模挤压,出模口应力梯度较小,有利于改善 AgSnO2丝材的后续加工性能.在本研究的基础上 ,得出了比较合理的 AgSnO2挤压工艺. 相似文献
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采用内氧化法工艺制备了不含添加剂及分别含添加剂CuO或TeO2的3种AgSnO2In2O3触头材料。应用模拟继电器试验设备检测了这3种材料在AC230 V、25 A阻性负载条件下的电寿命、熔焊力、电弧能量、燃弧时间、质量侵蚀率等相关电性能参数,并对检测结果及试验后铆钉触头样品进行了分析。研究发现:与不含添加剂的AgSnO2In2O3材料相比,添加剂CuO对材料的电寿命影响不大,而添加剂TeO2明显提高了材料的电寿命;含添加剂的两种材料的熔焊力和电弧能量均有了不同程度的降低,但它们的质量侵蚀率却明显增加。 相似文献
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常用低压触点材料电性能研究 总被引:4,自引:2,他引:2
分析了纯Ag、细晶Ag、AgCe(0.5)、AgNi(10)、AgCdO(12)、AgSnO2(10)、AgSnO2(12)等常用低压触点材料的组织结构及电弧侵蚀特点,采用ZWP-1型触点电性能模拟试验机于20 A/250 V AC、阻性负载条件下对上述触点材料的电寿命和磨损量进行了对比试验,对试验结果进行了分析和讨论。 相似文献
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分析了纳米材料与常规材料在热学性能和机械性能上的差异,综述了纳米触头材料在截流水平、抗电弧侵蚀和耐压能力等电性能研究上取得的进展,并对已有研究成果进行了概括和总结。结果表明:相对于同种配比的常规触头材料,纳米CuCr和AgFe触头材料的截流水平低于常规触头材料;纳米CuCr和AgFe的直流电弧稳定性高于常规触头材料,直流电弧寿命大于常规触头材料;纳米CuCr触头材料的耐压能力高于常规触头材料;纳米AgSnO2和AgNi触头材料的抗电弧侵蚀性能优于常规触头材料。因此,在今后对纳米触头材料的研究和开发过程中,加强纳米触头材料制备工艺研究和纳米触头材料的理论研究,有利于提高纳米触头材料电性能。 相似文献