精确测定点阵常数的计算方法

本文对衍射仪的系统误差进行分析处理,并用二乘法导得了点阵常数测定的计算式。文中的实验结果和理论分析证明了这种计算方法应用于衍射仪测试是可行的。     

超薄四面体非晶碳膜光学常数的精确测定

目的联合使用光谱型椭偏仪(SE)和分光光度计,精确测定超薄四面体非晶碳薄膜(ta-C)的光学常数。方法由于该薄膜的厚度对折射率、消光系数有很大的影响,仅采用椭偏参数拟合,难以准确得到该薄膜的光学常数,椭偏法测定的未知参数数量大于方程数,椭偏方程无唯一解。因此,加入透过率与椭偏参数同时进行拟合(以下简称SE+T法),以简单、快速、准确地得到该薄膜的光学常数。结果薄膜具有典型的非晶碳膜特征,SE和SE+T两种拟合方法得到的光学常数具有明显的差异,消光系数k在可见以及红外区最大差值可达0.020,紫外区最大的偏差约为0.005;折射率n在500 nm波长以上最大差值为0.04,在紫外光区和可见光区两种方法得到的n趋于一致。联用时的拟合结果具有更好的唯一性,而且拟合得到的光学常数变得平滑。结论椭偏与分光光度计联用适合精确测定测量范围内的超薄四面体非晶薄膜的光学常数。     

薄膜应力和点阵常数同时测定的S-B聚焦Guinier相机

叙述了Seemann-Bohlin聚焦Guinier薄膜相机(S-B相机)的衍射几何及应用这种相机同时测定薄膜应力和点阵参数的基本原理。给出了制作S-B相机的设计图。以Nb_3Ge超导薄膜样品为例,具体说明了使用S-B相机同时测定薄膜应力和点阵参数的方法和步骤。     

Ti,Nb,V复合碳氮化物点阵常数的测定

本文介绍了用CBED法和能谱法同时测量不同颗粒尺寸的Ti,Nb,V析出相的点阵常数和化学成分。CBED法的测量精度可达万分之二。它们分别获得颗粒的点阵常数值,误差小于1％。在测量中发现:在Nb-V钢中浓度比(C_(Nb)/C_V)和点阵常数随着析出颗粒尺寸的减小而递减。但是,在Ti-V-Nb钢中Ti,Nb和V的析出量和点阵常数与析出颗粒尺寸的关系无规律。     

亚稳FCC Ti的点阵常数评估

在高能机械研磨过程以及薄膜和多层复合材料中观察到了亚稳态FCC Ti。但已有文献报道的FCC Ti的点阵常数具有很大差异。采用两种方法研究了亚稳块状(粗晶) FCC Ti的点阵常数:(1)由稳定的含Ti二元FCC合金的试验数据直接外推;(2)二元FCC合金的第一性原理计算。由于大多试验数据来源于纳米尺度的Ti晶体,故在上述两种方法的基础上进一步研究了晶粒尺寸效应对纳米晶FCC Ti点阵常数的影响,最终评估得到的亚稳态FCC Ti的点阵常数与测量值吻合较好。     

Cu-Cr合金中点阵参数的精确测定与真实固溶度估算

采用气雾化制粉法制备一系列不同固溶浓度的Cu-Cr合金粉体,对样品进行X射线衍射分析,XRD图谱采用纳尔逊外推函数(sin1θ+θ1)cos2θ/2进行图解外推,求得合金粉体的点阵参数。实验发现制备Cu-Cr合金在一定成分范围内,固溶度与点阵参数的变化呈良好线性关系,吻合校正后的Vegard定律。测量了实验条件下Cr在Cu中的固溶度范围,分析固溶度扩展的原因,讨论固溶度的扩展极限,提出用XRD测定Cr在Cu中真实固溶度的方法及计算公式。     

一种测算镍基合金γ相亚点阵元素浓度及点阵常数的方法

分别建立了有序结构γ相亚点阵中原子置换行为引起的体应变最小和不同密排方向上原子尺寸失配度最小的目标函数，并给出了两个亚点阵(顶角与面心)之间元素含量平衡分配及其范围的约束条件，以单晶合金CMSX-2和SRR99为对象，使用Powell和simplex复合优化算法，分别计算了γ相单位晶胞两个亚点阵中的元素浓度(原子位置浓度)和亚点阵分数(单位晶胞内顶角和面心原子各占百分数)；此外，建立了已知亚点阵元素浓度计算γ相点阵常数的算式，并将其分别用于Ni3A1和上述两种合金γ相的点阵常数计算,将上述计算结果与用原子探针场离子显微分析导出的元素出现概率法所得亚点阵元素浓度进行了比较，并将计算与报道所得γ相点阵常数进行了比较，吻合性良好。从而，给出了一种只需知道有序结构相成分，即可测算其单位晶胞中亚点阵元素浓度及点阵常数的新方法。     

一种测算镍基合金γ′相亚点阵元素浓度及点阵常数的方法

分别建立了有序结构γ相亚点阵中原子置换行为引起的体应变最小和不同密排方向上原子尺寸失配度最小的目标函数,并给出了两个亚点阵(顶角与面心)之间元素含量平衡分配及其范围的约束条件.以单晶合金CMSX-2和SRR99为对象,使用Powell和Simplex复合优化算法,分别计算了γ相单位晶胞两个亚点阵中的元素浓度(原子位置浓度)和亚点阵分数(单位晶胞内顶角和面心原子各占百分数);此外,建立了已知亚点阵元素浓度计算γ相点阵常数的算式,并将其分别用于Ni3Al和上述两种合金γ相的点阵常数计算.将上述计算结果与用原子探针场离子显微分析导出的元素出现概率法所得亚点阵元素浓度进行了比较,并将计算与报道所得γ相点阵常数进行了比较,吻合性良好.从而,给出了一种只需知道有序结构相成分,即可测算其单位晶胞中亚点阵元素浓度及点阵常数的新方法.     

EN444金属材料x射线和γ射线照相检验通则

引言本标准规定工件射线照相的基本方法，这些方法可以经济地获得令人满意和有重复性的结果。这些方法是根据一般公认的作法和有关基本理论制订的。1范围本欧洲标准概述工业x射线和γ射线以胶片照相法透检各种金属材料缺陷的通则。此检验应由按EN473经资格鉴定合格的探伤人员进行。本标准不包括缺陷的验收条件。2参考标准本欧洲标准吸收了其他出版物已注明或未注明日期的标准中的一些条款。这些参考标准在本标准正文相应处均已提及，篇名如下。对注明日期的参考标准，如有修改内容，则采用了修订版；对未注明日期的参考标准，则采用了最新…     

利用消形法测定Ti3Al合金的点阵常数变化

利用一种与X射线衍射峰形无关的确定衍射峰位的方法测定Ti_3Al合金的点阵常数变化,实验结果表明对于加宽的衍射峰用该方法来精确测量点阵常数既简单又较精确。     

铍材应力常数的X射线法测试

在X2001应力分析仪上采用悬臂梁加载法测试了可以用于铍的X射线应力测试的5个衍射晶面的应力常数。结果表明,铍的5个衍射晶面的应力常数差异较大，在进行X射线应力分析时．应采用相应衍射晶面的应力常数，才能获得准确的应力分析结果。由于X射线对铍有较大的穿透深度，必须考虑X射线穿透深度对应力常数标定的影响。     

硫化物相光学常数的测定

首次用干涉涂层金相显微镜测定一些硫化物相的光学常数并将之用于定量金相术。测定了各相的折射系数和吸收系数,还指出使金相组织呈现尽可能高的黑白衬度和满意的色衬度的条件。报道了能使多种硫化物相的光反射率近乎消失的涂层材料和按德国工业标准DIN6164标定各相颜色的结果。当采用不吸收光的涂层时,对每一个相而言,其干涉极小的光反射率与涂层的折射系数之间有简单的数学关系,据此提出一个新方法,以准确地判断满足各种相、包括硫化物相的振幅条件的涂层折射系数值。硫化物是一组颇复杂的相,常用的涂层材料ZnS或ZnSe可能欠或过满足它们的振幅条件,为此提供必要的数据也是本文的目的之一。     

过滤常数的测定及其应用

本文介绍了实验室测定过滤常数的实验装置,过滤常数的测定方法及数据处理方法。引入了以过滤悬浮液中固体含量为基准的比阻概念,并以此作为过滤难易程度的衡量基准。通过实验数据的处理,说明以上方法的应用。     

工艺条件对C轴择优取向YBCO厚膜点阵常数的影响

用Ｘ射线衍射线对法测量了具有强Ｃ轴择优取向的ＹＢＣＯ厚膜的点阵常数Ｃ。用Ｎｉ基带制备的样品的点阵常数值小于过去报导过的烧结样品的点阵常数Ｃ值，也小于用Ａｇ—Ｐｄ基带制备的样品的点阵常数ｃ值。喷雾时基带加热温度的升高，喷雾后烧结温度的提高，和区熔时样品移动速度的加快，都使样品点阵常数ｃ降低。一般来说，具有较高Ｔｃ值的样品具有较低的点阵常数ｃ值．     

钢中残余奥氏体x射线测试方法的研究

前言钢中残余奥氏体含量直接影响钢材的性能。生产上常根据使用要求调整其含量,同时也要求准确的测定不同状态下的奥氏体含量。我们采用了M.Cohen法。由于X射线衍射所用的实验条件不统一,如G因子的计算、辐射的选择、仪器参数以及钢样本身状态(如择优取向、晶粒度、碳化物含量等)的差别,使得目前尚无测量残余奥氏体含量的统一标准。各单位测量结果相差很大,无法比较。随着生产发展的需要,几年来我们组织了全国20几个单位分阶段进行了大量实验工作。统一了一些实验条件,对某些因素加以限制。于1982年通过了“钢中残余奥氏体百分含量的测定,X射线衍射测试方法暂行标准草案”(以下简称草案)。根据草案我们进行了全国性巡回试样的测试工作,取得了满意的结果。实验内容 1.X射线衍射仪参数的选择 1.1不同辐射对残余奥氏体测量值有着较大影响。各种辐射实验结果列于表1。从表1可以看出,使用不同辐射得到的V_r％也不相同。用Cr辐射,由于不能测出γ(311)     

精确测定金属线材伸长率的新方法

根据金属试样拉伸前后质量不变原理,导出一种精确测定金属线材伸长率的新方法——质量法。实验表明,质量法测量结果的准确性和可靠性比现有的方法高得多。而且质量法摆脱了传统位移法作标记的麻烦,测量及计算简单、适用于日常检验。