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《电力电子》2011,(3)
南车时代电气放彩德国PCIM Europe 2011 2011年5月17~19日,在德国纽伦堡举办的PCIM Europe 2011展会上,南车时代电气下属的电力电子事业部与Dynex有限公司携手亮相,展出了一系列世界领先的大功率半导体器件,其中包括大功率IGBT、6英寸高压晶闸管、功率组件等。南车时代电气今年5月在中国株洲投入了国内首条8英寸IGBT芯片生产线项目。南车时代电气成为了从芯片设计、到模块封装,再到系统应用,国内唯一掌握IGBT成套技术,形成完整产业链的企业。在为期三天的展会中,很多客户对大功率IGBT器件的展示产生了浓厚的兴趣,很多客户在听完相关介绍后及时将目前新建或改造的项目与行业经理及工程师进行充分交流,工程师均——给予详 相似文献
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《电力电子》2011,(3)
未来十年,高铁、新能源、电动汽车、智能电网将保持每年20%-30%的增长,IGBT作为这些产业的核心元件,成为了众多厂商新的竞争市场。目前中国IGBT市场95%以上的供应商都是外国企业,面对着被国外垄断的市场,国内企业也不甘示弱,积极加大对IGBT技术的研发,打造中国芯,IGBT的国产化将极大提升中国高铁、新能源,电动汽车、智能电网这些产业的国际地位。作为是中国最早开发大功率IGBT的企业之一,南车时代电气电力电子已经掌握IGBT全套技术,实现了IGBT器件的国产化。近日,我们有幸采访到株洲南车时代电气电力电子事业部总经理吴煜东先生(以下简称吴总),一起分享电力电子事业部为打造中国芯所付出的努力和未来的发展大计。 相似文献
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近日,中国南车在英国林肯丹尼克斯公司成立了半导体研发中心,并举行了丹尼克斯第一期六英寸IGBT芯片线开通仪式,为实现功率半导体器件世界第一的战略目标奠定了更加坚实的基础。中国南车2008年10月成功收购了丹尼克斯半导体公司,获得了战略性资源,与中国南车现有功率半导体产业形成优势互补。为寻求更大发展,南车确立了功率半导体器件世界第一的战略目标,于2009年底成功完成丹尼克斯公司的 相似文献
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全球12英寸晶圆生产线后浪推前浪
不断扩大晶圆尺寸和缩小芯片特征尺寸已经成为推动半导体产业向前发展的两大轮子。12英寸晶圆所容裸芯片数是8英寸晶圆的2.5倍,所以12英寸晶圆比8英寸晶圆节省30%成本,采用12英寸晶圆的每个芯片所耗能量、水量比8英寸少40%。2002年12英寸晶圆制造设备量产,同年全球拥有14条12英寸晶圆生产线; 相似文献
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"十五"计划过半时中国IC芯片制造工艺线建设现状 总被引:1,自引:0,他引:1
时间天天在飞驰,好像昨天刚制订了集成电路行业“十五”发展计划,眼睛一眨,“十五”计划时间已过去了一半。我国在"十、五"期间要抓紧建设的重要项目中有关IC芯片生产线建设有三个目标:● 建设3~4条6英寸芯片生产线,扩大市场适销对路产品的生产能力;● 建设6~7条(最初提4~5条)8英寸芯片生产线,形成0.35~0.18微米技术产品的生产加工能力;● 建设1~2条12英寸芯片生产线,形成0.18~0.13微米技术产品的生产加工能力。“十五”计划开始前,2000年底我国共有25条4英寸~8英寸芯片生产线:1条8英寸线(上海华虹NEC)、3条6英寸线(北京首钢日电、… 相似文献
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《电子工业专用设备》2007,36(11):53-54
日前,全球领先的半导体供应商飞思卡尔半导体与株洲南车时代电气股份有限公司合作建设的“飞思卡尔一时代电气联合实验室”在株洲成立,这是中国轨道交通领域的第一家微电子实验室。[第一段] 相似文献
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由海力士和意法半导体公司于2005年4月在无锡合资建设的存储器芯片前端制造厂于近期正式落成。该工厂主要生产8英寸和12英寸的NAND闪存和DRAM芯片。目前,DRAM芯片采用80nm、90nm和110nm制造工艺,90nm和110nm晶圆在8英寸生产线上生产,80nm晶圆在12英寸生产线上生产。2007年中,除 相似文献
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日前,从福建省国资委获悉,福顺晶圆科技8英寸集成电路芯片项目在福州正式奠基动工。该项目是闽台对接四大重点项目之一,也是福建省首条8英寸集成电路芯片生产线,占地332亩,总投资30亿元;其中第一期投资10亿元,建成后可年产8英寸集成电路芯片24万片,年产值约9亿元,将弥补福建省高科技产业链中大尺寸集成电路的空白。 相似文献
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《现代电子技术》2018,(3):151-156
焊层空洞是造成IGBT模块散热不良的主要因素,基于IGBT的七层结构,建立了IGBT模块封装结构的三维有限元模型并对其进行热分析,研究焊层空洞对IGBT芯片温度的影响。对比了有无焊层空洞时IGBT模块的整体温度分布,分析了空洞类型、空洞大小、空洞形状、空洞数量及空洞分布对IGBT芯片温度分布的影响。研究结果表明:芯片焊层空洞对芯片温度的影响较大,衬板焊层空洞对芯片温度的影响较小;贯穿型空洞对芯片温度的影响要大于非贯穿型空洞;单个空洞越大,IGBT芯片温度越高;相同形状的空洞,处于边角位置比处于焊层内部对芯片温度影响大;多个空洞分布越集中,芯片温度越高;焊层缝隙对芯片温度的影响要小于空洞对芯片温度的影响。因此,在封装过程中应避免出现芯片焊层空洞,以提高IGBT的可靠性。 相似文献
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