基于边界扫描的存储器BIST技术

近年来,随着信息化装备复杂度的增加和现场级快速测试诊断需求的增加,迫切需要基于边界扫描的BIST技术;在这种应用模式中,基于边界扫描的BIST技术能解决现场级快速测试诊断需求;存储器在板级模块上经常使用,其BIST是板级BIST的重要组成部分;文章紧密联系应用需求,并以工程应用作为参考目标,提出了一种易于实现的基于两级移位"1"算法的SRAM簇测试算法,该算法在保证测试安全的前提下能够实现所有可检测故障的100%覆盖,并给出了基于该测试算法的SRAM簇测试BIST架构。     

基于边界扫描的测试技术

鉴于工程实践中对边界扫描技术的忽视,分析了它在实际使用中存在的误区,介绍了边界扫描接口的定义及其具体硬件结构,阐述了边界扫描的工作原理。并分析总结了其用于实际测试中的作用与优点,提出了对边界扫描测试进行优化时需要注意的方面．以利于更好地普及应用。     

基于边界扫描的测试技术

鉴于工程实践中对边界扫描技术的忽视,分析了它在实际使用中存在的误区,介绍了边界扫描接口的定义及其具体硬件结构,阐述了边界扫描的工作原理。并分析总结了其用于实际测试中的作用与优点,提出了对边界扫描测试进行优化时需要注意的方面,以利于更好地普及应用。     

边界扫描技术及其应用

介绍了边界扫描技术的含义、边界扫描器件、工作原理和应用。     

基于边界扫描技术的嵌入式处理器测试方法研究

现代先进微处理器有非常高的集成度和复杂度,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的自测试设计和其它的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率。该文提出了嵌入式处理器80386EX芯片内部功能的测试方案,设计了符合JTAG规范的测试系统结构,实现了芯片的内部功能部件的测试。接着,通过实验证明了文章所提方法的可行性。最后讨论了下一步的研究工作。     

基于边界扫描技术的线缆测试设备设计

为了解决装备中大量线缆通断测试的需求,将边界扫描测试技术应用到线缆测试中,线缆之间连接关系转化为大规模逻辑器件之间的连接关系,利用信号收发判断连接关系的正确性;试验证明,测试设备能够短时间内,准确查找到线缆的错连、少连、多连等错误类型,测试结果准确可靠,满足大量线缆测试的需求,也为边界扫描技术的扩展应用提供了一种有益的参考.     

基于边界扫描的电路板快速测试系统设计

本文设计了一套基于边界扫描的电路板快速测试系统,该系统利用计算机并行端口,通过适配器发送、接收测试向量,然后对采集数据进行分析,显示测试结果.本文主要介绍了该系统的硬件结构、软件思想和诊断策略.经实验,该系统能够为维修人员提供有力的支持.     

边界扫描技术的功能测试应用

随着芯片集成度的提高和表面贴装技术(SMT)的广泛使用,传统的针床在线测试已不再适合使用,而边界扫描技术在芯片级、板级、系统级测试得到广泛使用将是一种必然趋势。与传统边界扫描技术生成测试矢量进行结构化的静态测试不同,功能测试程序可采用高级语言开发,易于开发和维护。本文介绍了使用边界扫描技术对DDR模块进行动态的功能测试,该功能测试程序可快速准确测试出高速DDR模块数据线、地址线及存储单元是否能正常工作,并输出测试诊断信息。在此基础上,本文对该测试程序进行了改进。     

边界扫描技术在微处理器电路板测试与诊断的研究

针对某型指挥仪上含有处理器芯片、复杂可编程逻辑器件(CPLD)的1553B总线通讯模块的测试与诊断问题;通过对边界扫描测试技术和测试算法的研究,应用边界扫描技术,极大地改善了微处理器电路的测试覆盖率和定位精度;详细地阐述了微处理器电路的测试诊断方案、硬件设计方案、测试脚本开发等内容,该测试与诊断方法的研究同样适用于其他复杂板件的维修测试与诊断并提供了一个可以借鉴的实例,具有非常重要的实用价值.     

基于边界扫描的电子系统故障诊断技术研究

电子系统的发展对其测试与故障诊断提出了更高的要求;边界扫描技术为芯片级、电路板级以致系统级测试提供了一套高效的标准化手段,但其应用也增加了电路的复杂性;以某电路板级系统为原型,进行了基于边界扫描的测试设计,构建了边界扫描测试系统;将贪婪策略应用于测试性优化设计中,通过置换简化、定性分离等方法,综合权衡设计复杂性和测试性改善;在互连测试实验中得到的结果与注入的故障模型相符,说明利用边界扫描机理能够准确地定位故障,得到了预期结果。     

基于扫描森林的BIST策略

在本文中,我们提出了一种改进的扫描森林结构并将其运用到基于扫描的自测试中,目的是在保证故障覆盖率的同时,将电路的扫描测试代价降低到非扫描可测试性设计的水平。为了构造这种适合于自测试(以下简称BIST)的改进的扫描森林结构,我们使用了三项技术：一种扫描触发器平衡分组策略、一种新的扫描树结构和一种新的扫描输入信号号处理办法。大量的实验结果表明,该方法与传统的基于扫描自测试方法相比,能获得更高的故障覆盖率。同时,改进的扫描森林结构相比于原始的扫描森林结构,能大幅度 减少集成电路芯片的面积开销。     

应用向量划分的低功耗确定性BIST方法

提出一种能够与LFSR重播种技术结合的确定性向量生成方法,该方法利用扫描向量中的切片重叠来同时减少确定位数目和跳变数目,可大大降低测试功耗和测试存储.在硬件结构中,用一个译码器来生成控制信号.实验结果表明,对于ISCAS89基准电路,采用文中方法能够减少80%左右的跳变,而只需要原始Mintest测试集25%左右的测试数据存储.     

基于边界扫描的单片机系统RAM芯片测试研究

存储器具有存储容量大、集成度高以及工作速度快等特点,被广泛应用于现代电路设计中;在电路中,存储器能否正常工作,将直接影响整个系统工作状态是否稳定;为了提高系统的可靠性,对存储器进行可靠性测试是十分必要的;在介绍了存储器电路结构和故障的基础上,对某含有RAM存储器的CPU板进行了基于边界扫描的BIT测试性设计和改造,并对系统中的RAM芯片进行了测试性验证;实验结果表明,改造后的电路系统能够实现RAM自测试功能,且故障定位准确,达到了预期的设计目的,可有效提高系统的可靠性。     

基于SQLite的边界扫描互连测试矢量生成设计

互连测试是边界扫描技术的主要内容之一,在分析IEEE1149.1的基础上,给出一种基于嵌入式开源数据库SQLite的边界扫描测试系统中互连测试矢量生成的设计;利用SQLite数据库中存储的被测电路的扫描链路信息和器件等信息,得到扫描粗链并进一步形成扫描细链;利用可测网络信息结合测试算法产生测试矢量;最终将测试矢量在扫描细链上对扫描单元赋值即得到扫描链的互连测试矢量集;测试结果表明,该设计可快速生成测试矢量而缩短测试时间,具有较好的应用前景.     

基于JTAG边界扫描的在线导通测试算法

ＪＴＡＧ边界扫描机制是用于在线导通测试的新技术，利用ＪＴＡＧ可以在数分钟内查出复杂插件和系统的全部导通故障。本文介绍了基于ＪＴＡＧ导通测试的基本思想，提出了一个有效的基于ＪＴＡＧ的在线导通测试算法。