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在工作状态下对大型天线面型进行高精度测量与调整是当前国内的一个难题,将基于专业数码相机的摄影测量系统应用于大型天线的检测中:采用回光材料制作人工标志,利用编码标志来完成摄站的自动定向和同名点匹配,经光束法平差解算点的坐标,点位的测量精度优于0.11mm,面型的计算精度达到0.4mm,并与全站仪的测量结果进行比较,进一步验证了上述测量结果的正确性。 相似文献
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针对传统天线测量数据处理中粗差剔除和定权不合理问题,提出了一种结合粗差剔除和一次范数最小法定权的天线反射面多仰角测量数据处理方法.首先,根据反射面自重变形的特点,通过构造统计量对粗差点予以剔除,提高了测量数据的可靠性;其次,顾及测量点的变形特点,引入了抗差估计中的一次范数最小法对不同变形点进行定权,解决了等权最小二乘拟合的"虚假面型"问题.经过某口径13m天线反射面测量数据的实例计算,对比其他方法,新方法拟合结果能够合理、准确地反映出反射面的实际变形偏差,更适用于天线反射面自重变形数据的处理. 相似文献
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为了实现高精度的远距离双目CCD被动测距,提出改进的互相关匹配算法与三次曲面拟合算法,对双目CCD拍摄的两幅图像进行亚像素级匹配。介绍了双目测距系统的测距原理;进行测距图像的匹配操作,提出基于模板的灰度互相关算法,根据互相关运算的结果,提出亚像素级匹配算法,即采用三次曲面拟合方法,拟合出相关峰的亚像素级坐标;对测距实验结果进行误差分析,并修正系统误差的计算公式。实验表明,3 km以内的目标实际测量精度优于0.5%,满足高精度双目测距的精度要求。 相似文献
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在测距系统中,天线时延初值的测量是很重要的。首先简述了信标塔法和无塔标校法测量圆口径天线时延的原理和方法。提出了利用矢量网络分析仪测量天线时延初值的一种简单方法。实践证明:该方法简单易行,在实际工程测量中,值得推广和应用。 相似文献
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雷达天线长期处于架设状态容易产生形变,为了确保整个雷达系统处于良好的运行状态,需定期对天线面进行检测。采用目前已有的曲面拟合方法往往无法得出曲面的标准方程参数或者得到的参数拟合精度不高。本文利用一般二次曲面和特征值条件对雷达天线椭圆抛物面方程进行拟合,并阐述了测量坐标与标准坐标之间的转换关系,以及特征向量与旋转角的关系,将天线椭圆抛物面方程的一般形式转化为标准方程格式。工程实例证明该方法是有效的。 相似文献
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本文介绍了在天线远场电性能测试时,通过测量待测天线所在测试场的地面反射波纹,来确定测试场地面最大反射位置的方法,以便对这些反射位置采取相应的措施,消除或减弱测试场地对天线远场电性能(特别是对测量纸,超低天线副瓣)的影响,使测试结果能比较准确地反映天线的实际情况,将这种方法用于超低副瓣雷达天线的远场测量中,测出了较真实的结果。 相似文献
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文章采用数据拟合,对路径损耗测距模型中的参数A和n进行求解,实现数据拟合测距;再建立BP神经网络结构,将信号强度值作为输入,距离作为输出,进行训练;并比较两种测距方法的效果。通过分析,BP神经网络测距精确度更高。最后,文章以Matlab2020b为平台,实现测距的程序化、自动化。 相似文献
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本文首先针对全站仪测量系统和近景摄影测量系统进行简单阐述,进而对于全站仪在天线测量中的应用进行分析,以及详细探究了近景摄影测量的相关影响因素,并给出应用方法。 相似文献
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光纤荧光传感器衰减寿命的加权对数拟合法 总被引:2,自引:0,他引:2
荧光寿命的检测是荧光光学传感器的核心内容,国际上尝试了多种方法来拟合这种理论上为单指数衰减信号的荧光衰减曲线。这些方法包括非线性函数标准拟合方法。即Levenburg-Marquardt方法,以及Prony方法、FFT方法,对数拟合法等等。为了克服在实际应用中发生的信号退化,需要在测量信号衰减寿命的同时测量信号的初始强度。文章介绍了一种加权的对数拟合法,经计算机仿真及实际数据测试均可以得到和Levenburg-Marquardt方法非常接近的结果,且拟合时间大大缩短,测量稳定性大大提高。仿真测试及具体实验测试结果显示了这种方法的有效性。该方法不仅与Levenburg-Marquardt方法的偏差曲线非常相似,而且实验测得的荧光寿命与Levenburg-Marquardt方法偏差在0.2%以内。 相似文献
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激光光热反射技术对薄膜热物性的表征 总被引:5,自引:1,他引:5
在考虑探测光束光斑尺寸对调制光热反射(MPR)信号影响的基础上,建立了三维的薄膜-衬底体系的激光光热反射理论模型。对利用激光光热反射技术测量薄膜热物性的可行性进行了研究,并对影响调制光热反射信号的材料参数进行了分析。此外,通过数值模拟研究了多参数拟合问题,即利用调制光热反射频响信号同时确定薄膜热扩散率、衬底热扩散率和界面热阻这三个物理参数。结果表明,与已有的径向扫描方法相比,频率扫描方法中的这三个参数之间并不存在高度的相关性,因此采用频响信号进行多参数拟合,可提高多参数拟合的收敛性和精确性。 相似文献