硬X射线针孔照相

本文介绍强流相对论电子束轫致辐射硬X射线针孔照相技术及用于测定电子束焦斑大小的实验结果。当电子束焦斑上电流密度为高斯分布时,计算了拍摄的焦斑像由于针孔孔径和硬X射线从针孔周边透射引起的加宽。     

CEFR热传输及发电能力分析

针对中国实验快堆（CEFR）发电能力问题,对CEFR 3条回路的输热能力及热电转换能力进行建模并分析计算,通过40%额定功率发电工况下的试验数据验证了所建模型的正确性。依据CEFR的实际情况,提出优化运行工况的改进措施,其效果得到了汽轮发电机组厂家数据的验证,并结合输热能力验证模型模拟CEFR满功率下的热传输及发电能力。结果表明：基于优化后的运行工况,CEFR热传输系统和热电转换系统可达到设计要求。     

瑞土部分X射线照相辐射剂量过高

在瑞士,约20％的诊断用X射线照相设备具有过高的辐射剂量。据《瑞士医生日报》称,这是在伯尔尼乐园医院进行的调查所得出的结论。如联邦卫生局一位专家在议会回答询问时所声称的那样,造成这种后果的主要原因是胶片薄膜材料不适宜。而只有少部分过高的辐射剂量是由于设备的缺陷所致。有关的许多医生根本未意识     

中子照相实验装置扫描系统的研制

中子照相实验装置包括探测器、扫描系统、屏蔽设施等.照相时扫描系统可以旋转或平移待检测的样品以及调整射线源、检测样品、探测器相互之间的位置,从而提高成像质量.     

受控热核聚变装置软X射线反演成像探测研究

介绍了探测系统的角向分辨率、径向分辨率、探测器空间分辨率、探测器阵列空间分辨率和探测系统的时间分辨率的设计原则。其角向分辨率由探测阵列数目决定．其径向分辨率由阵列中探测器数量决定。根据装置的具体条件,研制专用的条形探测器可以获得最佳的探测器空间分辨率和探测器阵列空间分辨率。研制宽频带放大滤波电路系统可以保证高时间分辨率。高质量反演探测系统可采用多角度多阵列方式或在刚体旋转假设下采用完美的单阵列方式。小装置上的高灵敏的反演成像探测系统可在中心电子温度约150eV,电子密度约10^15cm-3的低参数条件下探测到稳定信号并完成图像反演。     

石墨晶体预衍射X射线荧光分析装置在中试厂的安装调试

经过十几年的努力，克服了一系列困难，研制完成了国内首台石墨晶体预衍射X射线荧光分析装置。该装置具有样品非破坏、不产生二次废液、不受样品放射性影响等优点。此装置在中核兰州核浓缩有限公司中试厂进行了安装调试，并在冷铀试中发挥了重要作用，提供了上千个数据。     

上海硬X射线自由电子激光装置调试用束流收集桶的设计

在建上海硬X射线自由电子激光装置(Shanghai high repetition rate XFEL and extreme light facility,SHINE)包含一台8 GeV的超导直线加速器,100 PW的激光系统,三条波荡线和10条实验线站。主加速器的第三磁压缩段(BC3段)有一调试用的束流收集桶,BC3段的调试电子流强为0.3μA、能量为7.7 GeV,束流功率为2.31 kW。本文从材料对7.7 GeV电子的能量吸收方面考虑,对束流收集桶的结构进行了确定。用ANSYS 17.0对束流收集桶的温度场进行了分析,结果证明在有表面空气自然对流换热的情况下,铝芯的最高温度为193.14℃,在束流收集桶坑道无外界换气的情况下,束流收集桶需要外围冷却水;用蒙特卡罗程序FLUKA对束流收集桶的活化进行了分析,保守假设束流收集桶连续注束2 000 h。结果证明要保证停机1 h后,束流收集桶周围30 cm处的剩余辐射剂量小于25μSv/h,束流收集桶外围需要55～85 cm的混凝土屏蔽体;结果显示束流收集桶的剩余辐射剂量在30 min内衰减的非常快,这是由于刚停机时束流收集桶内产生的...     

北京同步辐射软X射线装置与软X射线探测器标定

软X射线计量标准的建立和软X射线探测器标定是目前国内急需解决的课题，本简单介绍了两套北京同步辐射软X射线装置，它们主要用于软X射线光学元件测量和软X射线探测元、器件的标定。另外给出了近年来在软X射线测量装置上开展的计量标准和探测器标定方面的研究结果。     

北京同步辐射软X射线装置与软X射线探测器标定

简单介绍了２套北京同步辐射软Ｘ射线装置，主要用于软Ｘ射线光学元件测量和软Ｘ射线探测元，器件的标定，给出了软件Ｘ射线装置上计量标准和探测器标定方面的研究结果。     

北京同步辐射软X射线装置与软X射线探测器标定

简单介绍了2套北京同步辐射软X射线装置，主要用于软X射线光学元件测量和软X射线探测元、器件的标定。给出了在软X射线测量装置上计量标准和探测器标定方面的研究结果。     

γ射线扫描探伤装置的研制

研制对超厚铸铁件进行扫描探伤的装置,解决对超厚铸铁件进行探伤的问题。该装置在探伤过程中,先将被检测铸铁件划分为不同的区域,系统按序采集各区域的数据,分析人员从中选取异常数据(突变数,一般是变大的数值)与均匀数值进行比较从而判定存在缺陷及其大小,然后根据异常数据的序号对应确定超厚铸铁件缺陷存在的位置。利用该设备完成屏蔽防护门等超厚铸铁件的探伤工作,检测出的尺寸缺陷误差在±5 mm内。     

基于波带片纳米聚焦装置的快速扫描X射线荧光成像实验系统

在上海光源硬X射线微聚焦光束线站BL15U1,为提高波带片纳米聚焦装置的X射线荧光成像实验效率,设计实现了一种快速扫描荧光成像实验装置。该装置包括运动控制系统、样品荧光探测系统和实验数据同步获取系统。运动控制系统设计了闭环反馈控制、样品台电机运动控制和扫描轨迹,实现了快速扫描过程中样品的准确定位。样品荧光探测系统和实验数据同步获取系统实现了硬件同步触发计数器获取荧光计数,保证了荧光成像的准确性。实验结果表明,运动控制系统三角波形跟踪误差小于20 nm,满足光斑在样品处的重复定位精度小于光斑尺寸1/10的要求。用该系统获取了标准铜网的元素分布图像,图像获取时间是"走停"扫描模式的1/5,验证了实验系统的可行性和高效性。     

基于波带片纳米聚焦装置的快速扫描X射线荧光成像实验系统

在上海光源硬X射线微聚焦光束线站BL15U1,为提高波带片纳米聚焦装置的X射线荧光成像实验效率,设计实现了一种快速扫描荧光成像实验装置。该装置包括运动控制系统、样品荧光探测系统和实验数据同步获取系统。运动控制系统设计了闭环反馈控制、样品台电机运动控制和扫描轨迹,实现了快速扫描过程中样品的准确定位。样品荧光探测系统和实验数据同步获取系统实现了硬件同步触发计数器获取荧光计数,保证了荧光成像的准确性。实验结果表明,运动控制系统三角波形跟踪误差小于20 nm,满足光斑在样品处的重复定位精度小于光斑尺寸1/10的要求。用该系统获取了标准铜网的元素分布图像,图像获取时间是“走停”扫描模式的1/5,验证了实验系统的可行性和高效性。     

X射线成像光斑检测装置研制

设计了一种低成本,快速响应的X射线光斑检测装置,可用于解决系统结构偏差所引起的透视探测器接收位置处的光斑偏离。该装置通过检测关键点处的X光斑强度及分布情况以判断实际X光斑位置与理论设计的偏差,以此为依据进行多次调整可使系统光斑调节到一合理位置。     

乳腺X射线基准装置能谱研究

介绍了乳腺X射线基准装置及其辐射野特性。根据钼靶X射线光机的各项参数,建立了蒙卡模拟的模型,使用蒙特卡罗软件模拟了光机的能谱。介绍了用于低能光子能谱测量的硅漂移探测器(SDD),并使用三种放射源对探测器进行了能量刻度,得到了能量与道址的线性关系。使用刻度好的硅漂移探测器进行了乳腺X射线基准能谱测量实验,测得了四个不同管电压下基准装置的能谱,实验结果与理论模拟结果吻合。     

X射线探伤机检定装置的研制

针对检定规程(JJG 40-2001)的要求,研制了-套X射线探伤机的检定装置.该系统主要基于空腔电离理论测量X射线辐射剂量,研制了0.6cc、600cc电离室和监测用特殊探测器(Monitor Speclial Detector,MSD),主要用于X射线探伤机空气比释动能率、辐射角、重复性等参数的检定.     

上海光源X射线针孔相机控制系统设计

采用美国NI公司的PXI-7344运动控制卡对衰减片进行控制;通过RS232协议控制小孔四维移动平台和相机二维移动平台的运动,实现对小孔位置、倾角和相机位置的调节;NI公司的PXI-8252板卡用于1394相机的图像采集.所有控制功能均有机地集成于LabVIEW界面中,实现各部件的协调配合运动,并通过EPICSShar...     

γ射线扫描装置新型准直器设计

准直器是γ射线扫描装置的重要组成部分,为了拓宽其量程,设计了一种新型准直器。利用MC法模拟计算了填充介质分别为空气、水、混凝土时,不同能量γ射线在新型准直器调节下的探测效率。通过与传统方法的对比研究,发现新型准直器对不同能量γ射线的调节效果基本一致,解决了低能γ射线难以穿透屏蔽块造成某些低能核素的活度难以被准确测量的问题。研究结果表明,采用新型准直器可以将γ射线扫描装置的量程扩大4倍左右。     

一种X射线冷轧测厚仪的控制系统

介绍了一种X射线冷轧测厚仪控制系统的硬件设计和软件设计。控制系统经过实际的使用检验,各项性能指标均达到了设计要求,工作稳定、可靠。