共查询到20条相似文献,搜索用时 31 毫秒
1.
2.
大规模生产高质量薄膜产品是今后镀膜设备需要解决的问题。等离子体或离子辅助镀膜现在被广泛应用于高质量膜系生产中并取得了良好的效果,但是主要由于等离子体或离子源的原因,产能不高。介绍了一种新型精密光学镀膜系统和一种新型溅射镀膜系统。新的系统能够优质高效地生产复杂膜系,特别适合大规模生产。 相似文献
3.
4.
针对玻璃镀膜工艺的要求,设计了以西门子S7-300为下位机的镀膜控制系统,结合系统的整体结构和硬件组态方案,采用2块独立工作的CPU模块,提高了编程的灵活性和系统的可靠性,细化了控制任务。详细阐述了镀膜监控系统中传动部分和配气部分的控制策略和特点。在Wincc7.0上位组态软件平台上设计了系统监控软件,负责处理大量过程数据,归档实时参数,并设有报警系统,实现了玻璃镀膜的实时监控。 相似文献
5.
6.
本文介绍一种全自动、智能化计算机控制系统在真空离子镀膜机设备中的应用,可实现对真空离子镀膜机设备中各设备(泵阀机组、真空计、多路气路系统、电弧电源系统、偏压电源系统、溅射电源系统等)的全自动控制,实现对各种工件镀膜过程的装炉、自动抽气、镀膜、充气以及卸载工件等过程。 相似文献
7.
8.
9.
10.
11.
12.
13.
14.
15.
介绍一种无栅霍尔离子束辅助镀膜系统.并对该系统的特点、性能和应用结果作了叙述. 相似文献
16.
针对原子自旋器件的碱金属气室镀膜层厚度的精确测量,提出了一种基于受抑全反射的膜层厚度测量方法。根据该方法搭建了膜厚测量系统,并进行了实验测试。分析了受抑全反射的基本理论和基于受抑全反射的膜厚测量原理,介绍了基于该方法的膜厚测量系统的构成及工作原理并分析了影响系统测量精度的主要因素和解决方案。通过分析和仿真激光器波长的波动、入射角变化以及折射率参数的不准确等对膜厚测量结果的影响评价了系统的性能。最后,利用该系统对镀膜样品进行了测量实验,并利用薄膜分析仪做了对比试验。实验结果表明:该方法的测量结果存在一个2.6nm左右的常值偏差,对其补偿后能够较为准确地对镀膜层厚度进行测量,测量精度接近1nm,基本满足碱金属气室镀膜质量检测的需求,且具有较高的稳定性和可靠性。 相似文献
17.
18.
19.
20.