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《机械工业标准化与质量》2009,(4):12-12
欧盟2009年2月10日发布了G/TBT/N/EEC/247号通报,标题为:关于在电气和电子设备中限制使用某些有害物质(RoHS)的欧洲议会和理事会指令提案(改写)(COM(2008)809最终版)。电气和电子设备包括(大型家用器具、小型家用器具、IT和无线电通讯设备、消费性设备、照明设备、除大型固定式工业工具之外的电气和电子工具、玩具、休闲和运动器械、医疗器械及相关的设备、监视和控制仪器。包括工业监视和控制仪器、自动售货机)。 相似文献
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微流控分析芯片的加工技术 总被引:8,自引:0,他引:8
综述了微流控分析芯片的加工技术和材质性能.光刻和蚀刻技术常用于加工硅、玻璃和石英芯片.有机聚合物由于品种多、易加工,是代替玻璃和石英的芯片材料.本文总结和讨论了各种芯片材料和它们的加工方法,如光刻、湿法刻蚀、干法刻蚀、模塑法、软刻蚀、热压法、激光切蚀法、LIGA技术和键合技术.引用文献36篇. 相似文献
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矿山机械行业是为固体原料、材料和燃料的开采和加工处理提供装备的重要装备制造行业之一.服务于黑色和有色冶金、煤炭、建材、电力、化工、核工业等重要基础工业部门。产品在交通、铁道、建筑、水利水电等基础部门的基本建设中也有大量应用。矿山机械产品包括建井设备、采掘设备、矿井提升运输设备、破碎和磨矿设备、筛分设备、洗煤和选矿设备、焙烧设备等七大类. 相似文献
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《振动、测试与诊断》2012,(5):870
一、刊登内容有关振动利用、动态测试和故障诊断的标准、测试理论、测试手段的论文和专题报告,包括实验测试技术、测试仪器的研制方法、系统组成、信号分析、数据处理、参数识别、故障诊断以及有关装置的设计、使用、控制、标定和校准等。不拘泥于行业(如机械、交通、农业、生物、能源、航空、航天、航海、建筑、地震等)和测试项目(如振动、冲击、力位移和噪声等)。 相似文献
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《机电信息》2013,(23):59
石家庄莹玛涵科技有限公司是一家主要面向制药行业提供专业洁净工程服务、配套产品、无菌耗材、制药设备及设施的高新技术企业。(1)制药用水系统:提供制药用水制备及贮存、分配、灭菌和清洗管道以及系统的设计和安装服务,主要采用国际上最著名的管道、管件、阀门、仪表、水泵、换热器等来进行成套施工。同时,提供符合CP、USP、EP药典标准和WHO标准的纯化水、注射用水制备装置。(2)物料系统:提供各种制剂的配料系统集成和配套设施的设计和安装服务:如物料配制、过滤、纯化、贮存和传送系统的成套设计和安装,以及配套的自动控制系统的设计、成套、安装和调试等服务。(3)CIP/SIP系统: 相似文献
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超速离心机操作应用及基本理论 总被引:1,自引:0,他引:1
高速离心机、超速离心机在医学生物领域里的实验室、医院、大中院校、科研单位等用于分离细胞和细菌;纯化和分离病毒、RNA、DNA、质粒和蛋白质等生物大分子. 相似文献
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使用本实验室研制的整体平行束软X光透镜作为准直器和电子枪软X光源相配,作成了平行束软X光源,用此平行束软X光源进行了深亚微米X射线光刻实验。刻出了1.0μm~0.2μm的线条。文中对实验装置和光刻结果作了简要的介绍。 相似文献
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为了正确表征X射线光源参数,本文利用单次全反射椭球单玻璃管X射线聚焦镜,设计了一种测量X射线光源焦斑尺寸和焦深的方法。该方法利用椭球单玻璃管X射线聚焦镜具有单次全反射成像能力的特点,对多个已知焦斑尺寸的多毛细管X光透镜模拟光源的焦斑成像尺寸和椭球聚焦镜的面形误差进行表征,从而确定光源焦斑尺寸和经过椭球聚焦镜后的焦斑成像尺寸以及椭球聚焦镜的面型误差之间的通用数学关系。然后,通过分析待测光源焦斑经过椭球聚焦镜所成像的尺寸来得到被测量光源的焦斑尺寸。利用该法也同样可以得到光源焦深的大小。为了验证设计方法的可行性,测量了实验室微焦斑X射线光源的焦斑和焦深参数。测试显示:对于焦斑直径约为50μm、焦深约为20mm的光源,文中方法得到的算术平均值标准偏差分别为1.5μm和0.7mm。结果表明:本文设计的光源参数表征方法可以实现对微焦斑源焦斑尺寸和焦深的同时测量,在X射线源的研制和应用领域具有潜在应用。 相似文献
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软X射线显微术和光谱显微术 总被引:3,自引:0,他引:3
X射线显微术可直接在水环境中对胶体颗粒尺寸范围内的颗粒进行高分辨率成像,将该项技术与高分辨率光谱相结合,还可用于光谱显微研究。其中,常用的两种X射线显微镜是透射显微镜和扫描透射显微镜,文中示出了它们的装置图。由于X射线显微镜能迅速拍下一物体的高分辨率图像,所以,作为一种分析仪器,扫描X射线显微镜更适合作光谱显微研究。作为形态学目视化的一个示例,本文用一台透射X射线显微镜拍摄了粘土和土壤样品的图像。根据X射线图像进行的低温层析实验所获得的图像得到了有关细菌构成的显微生存环境以及其它土壤胶状体的3D结构信息。对扫描透射X射线显微镜拍摄的一系列图像进行分析,得到了土壤样品的形貌特性和化学特性。 相似文献
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Jacques Cazaux Daniel Gramari Omar Jbara Dominique Mouze Androula Nassiopoulos Xavier Thomas 《Microscopy research and technique》1989,11(3):222-229
Using an instrument equipped with two electron guns, an electron analyzer, and a Si(Li) diode detector, we developed microanalytical techniques based on inner-shell electron excitations by incident electrons and X-rays, that is, electron energy-loss spectroscopy (EELS) in the reflection mode; electron probe microanalysis (EPMA) and X-ray appearance potential spectroscopy (XAPS); electron-induced Auger electron spectroscopy (e-AES); X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), X-ray absorption spectroscopy (XAS); X-ray induced AES (XAES), X-ray fluorescence analysis (XRF), and scanning X-ray radiography (SXR). The corresponding characteristic images (including X-ray microradiography and X-ray photoelectron microscopy) were obtained in the scanning mode. The principle of the apparatus is described. Each spectroscopy and microscopy is illustrated by an example. Their performance and limits are discussed. 相似文献
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高功率激光经聚焦后,靶面吸收束能迅速变成等离子体并转变为高温热辐射X射线源。激光等离子体X光源在科学与技术领域有广泛应用,包括X光谱学、X光显微术、X光刻、辐射计量、材料及仪器X光射性检测、高温高密度天体物理、X激光及激光核聚变、EXAFS等。本文讨论激光等离子体形成的物理过程及影响X光辐射的诸因素,重点介绍在X光刻及X光显微镜方面的应用。 相似文献
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本文主要介绍软X射线等离子体光源、多层膜软X射线反射镜和软X射线显微镜。高强度的实验室用软X射线等离子体光源较之同步辐射具有体积小、造价低、光束大和单位脉冲光通量高等优点。最近发展的多层镀膜用于软X射线正入射光学元件,可以得到比掠入射光学元件好得多的分辨率。软X射线显微镜提供了生物样品分析的一种新工具,它填补了常用的光学显微镜和电子显微镜之间的空隙。 相似文献
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X-ray fluorescence with synchrotron radiation 总被引:1,自引:0,他引:1
The use of synchrotron radiation for X-ray fluorescence has several advantages over the use of other conventional X-ray sources. The principles of synchrotron radiation and methods for applying synchrotron radiation to the X-ray fluorescence measurements of trace elements are discussed. The Brookhaven National Laboratory X-ray microprobe, facilities dedicated to X-ray fluorescence, and related analytical techniques are discussed. Some examples of trace element analyses in biological materials with synchrotron radiation are presented. 相似文献
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The performance of X-ray microanalysis in the variable pressure or environmental scanning electron microscope (VP-SEM or ESEM) is limited by skirting. Under certain conditions, charging effects can occur and change the X-ray emission, which affects the X-ray microanalysis. The conventional way to evaluate charging is to calculate the Duane-Hunt limit by fitting the X-ray intensity region located below the energy cut-off. Nevertheless, this method appears to have serious limitations for instance in the case of strong insulators. A perfect example of this limitation is to study the evolution of composition of an alkali glass with time. This paper reports on the evolution of the sodium X-ray intensity with time depending on accelerating voltage, pressure and presence of a surface coating. For certain conditions, a decrease of sodium X-ray intensity with time was observed but for other conditions the reverse behavior was noticed. The increase of sodium X-ray intensity with time was obtained when the force created by the surface electrons was stronger than the force generated by electrons trapped in the interaction volume, whereas the decrease of sodium X-ray intensity occurred when the force generated by electrons trapped in the interaction volume was the stronger. The variations of sodium X-ray intensity were also compared to the variation of the Duane-Hunt limit, the determination of which is studied in detail in this article. 相似文献