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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 31 毫秒
1.
本文研究了新型陶瓷刀具材料JX-2-I(Al2O3/SiCp/SiCw)的力学性能,同A(Al2O3),AP(Al2O3/SiCp),AW(Al2O3/SiCw)和JX-1(Al2O3/SiCw)材料相比,JX-2-I具有较高的抗弯强度(σbb)和断裂韧性KIC,研究结果表明,在JX-2-I陶瓷刀具材料中确实存在增韧补强原协同作用,陶瓷刀具材料JX-2-I的主要增韧机理是界面解离,裂纹偏转和晶须拔  相似文献   

2.
本文研究了新型陶瓷刀具材料JX-2-Ⅰ(Al_2O_3/SiCp/SiCw)的力学性能,同A(Al_2O_3)、AP(Al_2O_3/SiCp)、AW(Al_2O_3/SiCw)和Jx-1(Al_2O_3/SiCw)材料相比,JX-2-Ⅰ具有较高的抗弯强度(σ_(bb))和断裂韧性K_(Ic);研究结果表明,在JX-2-Ⅰ陶瓷刀具材料中确实存在增韧补强的协同作用,陶瓷刀具材料JX-2-Ⅰ的主要增韧机理是界面解离、裂纹偏转和晶须拔出。  相似文献   

3.
本文利用TEM研究了新型复相陶瓷刀具材料JX-2-I的界面结构,结果表明,在JX-2-I中Al2O3/SiCw(氧化铝/碳化硅晶须)界面和Al2O3/SiCp(碳化硅颗粒)界面结合良好,形成了具有较高强度的微观结构,发现在SiCw,SiCp和Al2O3晶粒上均有位错产生,在SiCp和Al2O3上有孪晶产生,分析表明,位错和孪晶的产生均吸收大量的断裂能,提高材料的断裂韧性,改善JX-2-I材料的整体  相似文献   

4.
本文利用TEM研究了新型复相陶瓷刀具材料Jx-2-Ⅰ的界面结构,结果表明,在Jx-2-Ⅰ中Al_2O_3/SiCw(氧化铝/碳化硅晶须)界面和Al_2O_3/SiCp(碳化硅颗粒)界面结合良好,形成了具有较高强度的微观结构;发现在SiCw、SiCp和Al_2O_3晶粒上均有位错产生,在SiCp和Al_2O_3上有孪晶产生;分析表明,位错和孪晶的产生均吸收大量的断裂能,提高材料的断裂韧性,改善JX-2-Ⅰ材料的整体性能。  相似文献   

5.
利用TEM和电子衍射图谱分析,研究了新型陶瓷刀具材料JX-2-I的界面微观结构。TEM分析表明,JX-2-I刀具材料的界面结合状态较好,Al_2O_3/SiCw界面上形成了具有较高强度的“钢筋混凝土”结构,在Al_2O_3/SiCw和Al_2O_3/SiCp界面上没有剧烈的化学反应发生;通过TEM和电子衍射图分析,发现在Al_2O_3的晶粒边界上有尖晶石(MgAl_2O_4)生成,这有利于控制Al_2O_3晶粒的长大,提高复合材料的强度。  相似文献   

6.
为提高颗粒增强铝基复合材料耐蚀性,对SiCp/6061Al复合材料进行激光表面熔化和激光表面合金化。结果表明:激光表面熔化后,因熔化层中形成大量耐蚀性低的针状Al_4C_3相及Al_4SiC相而使激光表面熔化层耐蚀性降低,以Ni-Cr-B粉末为原料对SiCp/6061Al复合材料进行激光表面合金化后,合金层耐蚀性明显提高。  相似文献   

7.
利用直流辉光放电分解碳氢气体来淀积a-C:H膜,通过测量Al/a-C:H/SiMIS结构的高频C-V曲线讨论了a-C:H/Si界面的电子特性,结果表明a-C:H/Si膜有可能用作半导体器件的表面钝化膜。  相似文献   

8.
本文提出了以各子电池的载波子输运方程为基础、用串联等效的方法模拟多结电池的J-V特性,并用该方法模拟分析了P/I界面态。P/I缓冲层带隙梯度对Glass/TCO/a-Si/a-Si/Al双结电池光电特性的影响,各子电池本征层为常数带隙的Glass/TCO/a-Si/a-SiGe/Al三结电池的光电特性及其所存在的优势。  相似文献   

9.
以常规TEM为工具,对SiCp/ZL109复合材料中SiC颗粒及其界面进行了研究,除观察到大量α型六方6H SiC外,还观察到少量α型六方4H和菱形15R SiC。观察到的都是单一的SiC/Al及SiC界面,无论是SiC/Al或SiC/Si界面,界面清洁,结合紧密,无孔洞,无反应过渡层。  相似文献   

10.
利用2kWCO2激光器对不同合Si量的AI-Si合金进行了搭接扫描熔凝处理,通过SEM和TEM对激光熔凝处理后Al-Si合金的组织结构进行了观察,通过测定在不同介质条件下的阳极极化曲线,讨论了激光熔凝处理对AI-si合金耐蚀性的影响。结果表明,激光处理可改善Al-Si合金在10%H2SO4和10%HNO3溶液中的耐蚀性,而对Al-Si合金在10%HCl和5%NaCl溶液中的耐蚀性没有明显的促进作用。  相似文献   

11.
对具有Al-Si-Pd/TiN/Ti/PtSi/Si(样品A)和Al-Si-Pd/Ti/PtSi/Si两种新型金属化结构的微波管的EB结在不同温度、相同电流条件下进行加速寿命试验,得到其中值寿命相差近一倍,激活能分别为0.92和0.79eV,并给出了在温度和电流力下EB结反向击穿特性的变化规律。  相似文献   

12.
A/D与D/A转换器技术WD9451110位100M采样/秒流水线子区BiC-MOSADC=A10-b100-Msample/spipelined sub-rangingBiCMOSADC[刊,英]/Sone,K.…//IEEEJ.Solid-Sta...  相似文献   

13.
硅基异质结光电探测器用材料的应用研究进展   总被引:2,自引:0,他引:2  
综述当前GeSi/Si、GaAs/GaAlAs、HgCdTe、PtSi和GaN光电探测器用材料的工作原理、特点、研究现状及发展趋势。以新型薄膜外延技术-分子束外延制备的GeSi/Si等人工超晶格材料倍受关注,硅基异质子阱材料成为新一代光电探测材料的发展方向。  相似文献   

14.
采用 2kw的 Nd: YAG激光器,在铝合金基体表面用预置法分别激光熔覆 NiCrAl/SiCp(颗粒)、NiCoCrAlY/SiCp、NiCoCrAlY/SiCw(晶须)复合粉末,获得了厚度约为 1mm的耐磨涂层。借助X射线衍射及电子探针,对不同涂层的显微组织作了对比分析,并测试了其显微硬度及耐磨性。结果表明由于细晶强化、固溶强化及未熔SiC的弥散强化作用,与基体相比涂层硬度提高了4~5倍,耐磨性能提高了2~5倍。  相似文献   

15.
张国炳  武国英 《半导体学报》1993,14(11):702-707,T001
本文利用XRD,RBS,AES,SEM和电学测量技术系统地研究了反应溅射制备的TiWyNx薄膜的组份,结构和扩散势垒特性,实验结构表明,膜的组份,结构和特性受溅射时N2流量影响和溅射功率的影响,这种TiWyNx膜经550℃30分钟退火后,仍能有效防止Al-Si扩散,从而改善了A1-TiWyNx/CoSi2/Si浅结接触的热稳定性。  相似文献   

16.
Al栅a—Si TFT栅绝缘膜研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
Al栅可明显降低AM-LCD中a-Si TFT矩阵的栅总线电阻及栅脉冲信号延迟,有利于提高高密显示屏的开口率与图像质量。本文详细分析了Al栅的阳极氧化技术,获得了适于a-Si TFT复合栅的Al2O3栅绝缘材料。  相似文献   

17.
对具有Al-Si-Pd/TiN/Ti/PtSi/Si(样品A)和Al-Si-Pd/Ti/PtSi/Si(样品B)两种新型金属化结构的微波管的EB结在不同温度、相同电流条件下进行了加速寿命试验,得到其中值寿命(MTF)相差近一倍,激活能分别为0.92和0.79eV,并给出了在温度和电流应力下EB结反向击穿特性的变化规律  相似文献   

18.
CTLM测量金属/半导体欧姆接触电阻率   总被引:1,自引:1,他引:1  
系统地介绍了用圆形传输线模型( C T L M) 测量金属/ 半导体欧姆接触电阻率的基本原理。以 Al/ Si 接触为例研究了不同掺杂浓度和不同温度退火对接触特性和接触电阻率ρ C 的影响。测量得到 Al/ Si 欧姆接触电阻率的最小值约为2 .4 ×10 - 5 Ω·cm 2 。  相似文献   

19.
AlGaNpn结     
采用MOCVD技术在SiC衬底上制备了AlGan同质和异质pn结,AlGaN层中,AlN浓度为2-8mol%,反应离子刻蚀形成台面结构。  相似文献   

20.
马宏 《微电子学》1994,24(3):34-40
在Tegal1512e反应离子刻蚀(RIE)设备上,利用Cl_2和SiCl_4为主要刻蚀气体,进行了AlSi0.8%-Cu2%的RIE工艺研究,详细讨论了影响工艺的诸多因素,涉及AlSiCu材料本身结构的差异,RIE工艺各参数,后处理等许多方面;给出实用化的工艺程序;最小加工线宽达到2μm,体刻蚀速率达870nm/min,均匀性±5%,线宽损失小于10%,对热氧化SiO_2的刻蚀选择比为4∶1,对AZ1450J正性抗蚀剂的刻蚀选择比大于1.8∶1;该工艺使用效果良好,达到实用化水平。  相似文献   

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